Mikroskop Elektron Pelepasan Medan JEM-2100F
DISCONTINUED
JEM-2100F ialah mikroskop elektron analitikal 200 kV FE (Pelepasan Medan) pelbagai guna. Pelbagai versi disediakan untuk menyesuaikan tujuan pengguna. Senapang elektron FE (FEG) menghasilkan probe elektron yang sangat stabil dan terang yang tidak pernah dicapai dengan senapang elektron termionik konvensional. Ciri ini penting untuk resolusi ultratinggi dalam mengimbas mikroskop penghantaran dan dalam analisis sampel berskala nano. Pelbagai instrumen analisis dan/atau kamera seperti EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) atau EELS (spektrometer kehilangan tenaga elektron) atau kamera CCD sedia untuk disepadukan dengan sistem PC kawalan mikroskop.
Ciri-ciri
FETEM, untuk pemerhatian resolusi tinggi dan analisis skala nano
FEG yang menampilkan kecerahan tinggi dan kestabilan tinggi merealisasikan pengimejan pengimbasan struktur pada resolusi atom. Probe bersaiz sub-nanometer yang sangat terang membolehkan kami melakukan analisis yang paling sensitif terhadap sampel pada resolusi sub-nanometer. Dengan FEG, kontras imej resolusi tinggi juga dipertingkatkan kerana ia memberikan pencahayaan yang sangat koheren dengan penyebaran tenaga yang sempit. Selain itu, holografi elektron yang memerlukan pencahayaan yang sangat koheren tersedia untuk mikroskop ini dengan peralatan bi-prisma elektron pilihan.
Sistem pemanduan spesimen yang sangat stabil
Sistem pemanduan spesimen yang stabil membolehkan kami melakukan analisis pada skala nanometer. Sistem ini membenarkan spesimen melakukan kecondongan dan/atau anjakan dengan hanyut dan getaran ultra rendah. Dengan sistem pemacu spesimen piezo yang tersedia secara pilihan, spesimen boleh dialihkan pada resolusi sub-nanometer dengan julat ± 1.2 μm.
Oleh kerana, sistem menerima pelbagai pemegang spesimen, pelbagai keadaan fizikal spesimen seperti suhu atau putaran atau kecondongan boleh diubah.
Integrasi kepada instrumen lain
Mikroskop boleh dikawal sepenuhnya oleh PC. Konsep reka bentuk membolehkan kami menyepadukan pelbagai instrumen analisis dan/atau kamera seperti kamera EDS atau EELS atau CCD.
spesifikasi
| konfigurasi※ 1 | Resolusi ultratinggi (UHR) |
Resolusi tinggi (HR) |
Kecondongan spesimen tinggi (tidak termasuk cukai) |
Cryo polepiece (CR) |
kontras tinggi (HC) |
|---|---|---|---|---|---|
| Tiang tiang | URP | HRP | HTTP | CRP | HCP |
| Resolusi | |||||
| Titik | 0.19 nm | 0.23 nm | 0.25 nm | 0.27 nm | 0.31 nm |
| Lattice | 0.1 nm | 0.1 nm | 0.1 nm | 0.14 nm | 0.14 nm |
| Acc. voltan※ 2 | 160 kV, 200 kV※ 1 | ||||
| Langkah minimum | 50 V | ||||
| Saiz langkah | 50 V minimum | ||||
| Sumber elektron | |||||
| Pemancar | ZrO/W(100) Schottky | ||||
| Kecerahan | ≧4×108 A / cm2 / sr | ||||
| Tekanan | × 10-8 Pa order | ||||
| Arus siasatan | 0.5 nA untuk siasatan 1 nm | ||||
| Kestabilan Kuasa | |||||
| Acc. voltan | ≦1×10-6／min | ||||
| Arus OL | ≦1×10-6／min | ||||
| Parameter optik untuk kanta objektif | |||||
| Panjang fokus | 1.9 mm | 2.3 mm | 2.7 mm | 2.8 mm | 3.9 mm |
| Aber sfera. coef. | 0.5 mm | 1.0 mm | 1.4 mm | 2.0 mm | 3.3 mm |
| Aber kromatik. coef. | 1.1 mm | 1.4 mm | 1.8 mm | 2.1 mm | 3.0 mm |
| Langkah fokus minimum | 1.0 nm | 1.4 nm | 1.8 nm | 2.0 nm | 5.2 nm |
| Saiz Bintik (diameter) | |||||
| Mod TEM | 2 hingga 5 nm | 30 hingga XNUMX nm | |||
| mod EDS | 0.5 hingga 2.4 nm | - | - | 4 hingga 20 nm | |
| Mod NBD | - | - | - | ||
| Mod CBD | 1.0 hingga 2.4 nm | - | |||
| Parameter untuk pembelauan rasuk konvergen | |||||
| Sudut penumpuan | 1.5 hingga 20 mrad | - | - | ||
| Sudut penerimaan | ± 10 ° | - | - | ||
| Pembesaran | |||||
| Mod MAG | ×2,000 hingga 1,500,000 | ×1,500 hingga 1,200,000 | ×1,200 hingga 1,000,000 | ×1,000 hingga 800,000 | |
| Mod MAG RENDAH | ×50 hingga 6,000 | ×50 hingga 2,000 | |||
| Mod SA MAG | ×8,000 hingga 800,000 | ×6,000 hingga 600,000 | ×5,000 hingga 600,000 | ×5,000 hingga 400,000 | |
| Panjang Kamera | |||||
| pembelauan SA(mm) | 80 untuk 2,000 | 100 untuk 2,500 | 150 untuk 3,000 | ||
| pembelauan HD (m) | 4 untuk 80 | ||||
| pembelauan HR※ 2 | 333 mm | ||||
| Peralihan spesimen | |||||
| X, Y | 2 mm | 2 mm | 2 mm | 2 mm | 2 mm |
| Z | ± 0.1 mm | ± 0.2 mm | ± 0.2 mm | ||
| Kecondongan spesimen | |||||
| X／Y※ 3 | ±25/±25° | ±35/±30° | ±42/±30° | ±15/±10° | ±38/±30° |
| X※ 4 | ± 25 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° |
| STEM※ 5 | |||||
| Resolusi kekisi medan terang | 0.2 nm | - | - | ||
| EDS※ 6 | |||||
| Sudut pepejal (30mm2) | 0.13 sr. | 0.13 sr. | 0.13 sr. | ※ 8 | 0.09 sr |
| Sudut pepejal (50mm2)※ 7 | 0.24 sr. | 0.28 sr. | 0.23 sr. | ||
| Sudut berlepas (30mm2) | 25 ° | 25 ° | 25 ° | ※ 8 | 20 ° |
| Sudut berlepas (50mm2)※ 7 | 22.3 ° | 24.1 ° | 25 ° | ||
Pilih sama ada konfigurasi semasa memesan JEM-2100F.
80 kV, 100 kV dan 120 kV adalah mungkin dengan suis litar pintas pilihan untuk tiub pecutan.
Dengan Pemegang Pencondongan Spesimen (EM-31630).
Dengan Penahan Spesimen Kecondongan Tinggi (EM-21310).
Dengan peranti pemerhatian imej pengimbasan pilihan.
Dengan pengesan EDS pilihan.
Dengan JEOL 50 mm2 Pengesan EDS.
Pengesan EDS tidak tersedia.
Kesesuaian
Permohonan JEM-2100F
Menyesuaikan JEM-2100F untuk Pengimejan Magnetik oleh Lorentz TEM
Galeri
-
-
-
Spesimen: Karbon Nanotiub pada Boron Nitrida
Spesimen Ihsan Dr.Yoshio Baondo, Pusat Antarabangsa untuk Bahan Nanoarchitectonics, Institut Sains Bahan Kebangsaan -
Spesimen: DRAM
Produk Berkaitan
Kamera SightSKY (EM-04500SKY) Kepekaan tinggi, Kamera CMOS gandingan gentian hingar rendah
Sensor CMOS 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan yang lebih jelas dengan butiran spesimen halus boleh diperhatikan walaupun pada dos elektron yang rendah.
Pengatup globalnya dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa pemerhatian dinamik.
Perisian kawalan sistem kamera "SightX" menyediakan operasi yang mesra pengguna.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.