Mikroskop Elektron JEM-2100
DISCONTINUED
JEM-2100 ialah mikroskop elektron analitikal pelbagai guna 200 kV. Pelbagai versi disediakan untuk menyesuaikan tujuan pengguna. JEM-2100, yang menggabungkan sistem PC bersepadu untuk pelbagai fungsi dengan prestasi kos yang cemerlang, menyokong penyelidikan dan pembangunan dalam bidang saintifik yang luas, untuk penyelidikan biologi hingga bahan.
Ciri-ciri
TEM 200 kV Serbaguna dengan kebolehkendalian yang ringkas dan mudah digunakan serta kebolehkembangan yang sangat baik
Cemerlang Lab6 pistol elektron menjanjikan prestasi cemerlang dengan kos yang berpatutan.
Resolusi TEM ultratinggi setinggi 0.19 nm (dalam konfigurasi UHR) membolehkan kami melakukan pemerhatian pada resolusi atom.
Fungsi STEM (Scanning Transmission Electron Microscope: option) disepadukan dalam sistem kawalan PC membolehkan kami melihat imej pengimbasan sampel pada resolusi nanometer.
EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) dengan sudut pepejal 0.28sr (dalam konfigurasi HR dengan 50mm2 pengesan) melakukan analisis yang sangat sensitif pada resolusi nanometer.
Peringkat spesimen yang sangat stabil membolehkan kami melakukan pemerhatian dan analisis jangka panjang.
spesifikasi
| konfigurasi | Resolusi ultratinggi※ 1 (UHR) |
Resolusi tinggi※ 1 (HR) |
Kecondongan spesimen tinggi※ 1 (tidak termasuk cukai) |
Cryo※ 1 (CR) |
kontras tinggi※ 1 (HC) |
|---|---|---|---|---|---|
| Resolusi(nm) | |||||
| Titik | 0.194 | 0.23 | 0.25 | 0.27 | 0.31 |
| Lattice | 0.14 | 0.14 | 0.14 | 0.14 | 0.14 |
| Acc. voltan | 80，100，120，160，200 kV | ||||
| Langkah minimum | 50 V | ||||
| Kestabilan | |||||
| Acc. voltan | 2 × 10-6／min | ||||
| OL Semasa | 1 × 10-6／min | ||||
| Parameter optik untuk kanta objektif | |||||
| Panjang fokus | 1.9 mm | 2.3 mm | 2.7 mm | 2.8 mm | 3.9 mm |
| Aber sfera. coeff. | 0.5 mm | 1.0 mm | 1.4 mm | 2.0 mm | 3.3 mm |
| Aber kromatik. coeff. | 1.1 mm | 1.4 mm | 1.8 mm | 2.1 mm | 3.0 mm |
| Langkah fokus minimum | 1.0 nm | 1.5 nm | 1.8 nm | 2.0 nm | 5.2 nm |
| Saiz Bintik (dalam diameter) | |||||
| Mod TEM | 20～200 nm | 1 hingga 5 μm | |||
| mod EDS | 0.5 hingga 25 nmφ pemilih α |
1.0 hingga 25 nmφ pemilih α |
1.5 hingga 35 nmφ pemilih α |
2.0 hingga 45 nmφ pemilih α |
10 hingga 500 nmφ |
| Mod NBD | |||||
| Mod CBD | |||||
| pembelauan CB | |||||
| Sudut penumpuan （2α） |
1.5 hingga 20 mrad atau lebih | - | - | ||
| Sudut penerimaan | ± 10 ° | - | - | ||
| Pembesaran | |||||
| Mod MAG | ×2,000 hingga 1,500,000 | ×1,500 hingga 1,200,000 | ×1,200 hingga 1,000,000 | ×1,000 hingga 800,000 | |
| Mod MAG RENDAH | ×50 hingga 6,000 | ×50 hingga 2,000 | |||
| Mod SA MAG | ×8,000 hingga 800,000 | ×6,000 hingga 600,000 | ×5,000 hingga 600,000 | ×5,000 hingga 400,000 | |
| Panjang kamera | |||||
| SA perbezaan.(mm) | 80 untuk 2,000 | 100 untuk 2,500 | 150 untuk 3,000 | ||
| Perbezaan HD.(m) | 4 untuk 80 | ||||
| Sistem pemanduan spesimen | |||||
| Sudut condong X / Y※ 2 |
±25/±25° | ±35/±30° | ±42/±30° | ±15/±10° | ±38/±30° |
| Sudut condong X※ 3 |
± 25 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° |
| Shift(mm) | 2 (X,Y) 0.2 (Z±0.1 mm) |
2 (X,Y) 0.4 (Z±0.2 mm) |
|||
| EDS※ 4 | |||||
| Sudut pepejal (30mm2/ 50mm2) |
0.13sr／0.24sr | 0.13sr／0.28sr | 0.13sr／0.23sr | ※ 5 | 0.09sr／－ |
| Sudut berlepas (30mm2/ 50mm2) |
25˚／22.3˚ | 25˚／24.1˚ | 25˚／25˚ | ※ 5 | 20˚／－ |
Tentukan sama ada konfigurasi (UHR, HR, HT, CR atau HC) apabila memesan JEM-2100.
Dengan pemegang spesimen condong
Dengan pemegang spesimen kecondongan tinggi
EDS pilihan diperlukan.
Tidak tersedia untuk memasang EDS.
Kesesuaian
Permohonan JEM-2100
JEM-2100: Aplikasi dalam Nanoteknologi
Galeri
-
-
Spesimen：Nb2O5
-
Spesimen：Glomerulus Tetikus Buah Pinggang
-
Spesimen： Karbon Grafit
Produk Berkaitan
Kamera SightSKY (EM-04500SKY) Kepekaan tinggi, Kamera CMOS gandingan gentian hingar rendah
Sensor CMOS 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan yang lebih jelas dengan butiran spesimen halus boleh diperhatikan walaupun pada dos elektron yang rendah.
Pengatup globalnya dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa pemerhatian dinamik.
Perisian kawalan sistem kamera "SightX" menyediakan operasi yang mesra pengguna.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.