JED-2300T
X-ray Penyebaran Tenaga
spektrometer

JED-2300T AnalysisStation ialah sistem analisis unsur yang boleh melaksanakan operasi yang lancar daripada pemerhatian kepada analisis.

AnalysisStation JED-2300T ialah sistem integrasi TEM/EDS berdasarkan konsep "Imej dan Analisis". Pengurusan data dijalankan dengan mengumpul parameter secara automatik seperti pembesaran dan voltan pecutan berserta data analisis.

Ciri-ciri

Tiga jenis Silicon Drift Detector (SDD) EDS tersedia, dengan kawasan pengesanan masing-masing 30mm2, 60mm2 dan 100mm2. Semakin besar kawasan pengesanan, semakin besar sensitiviti pengesanan. Dengan menggabungkan Pengesan SD100GV Kering (kawasan pengesanan 100mm2) kepada JEM-ARM200F (HRP), kawasan penerimaan cahaya yang besar dan resolusi tinggi direalisasikan secara serentak, dan perbezaan jelas elemen cahaya seperti "B,C,N,O" adalah mungkin.

SD100GV kering

Pemetaan Elemen Berkelajuan Tinggi

Pengesan SD100GV Kering yang menampilkan kepekaan tinggi mengesan zarah pemangkin Au hanya dalam satu minit masa mengukur.

• Spesimen: Zarah Pemangkin Au disokong pada Ti Oksida

• Instrumen: JEM-ARM200F + Pengesan SD100GV Kering

• Masa Pengukuran Anggaran: 1 minit

• Arus Probe: 1nA

• Nombor Piksel: 256 x 256 piksel

• Pemetaan Resolusi Atom

• Lajur atom Sr dan Ti diasingkan dengan jelas.

Pemetaan Resolusi Atom

Lajur atom Sr dan Ti diasingkan dengan jelas.

• Spesimen: SrTiO3<100>

• Instrumen: JEM-ARM200F + Pengesan SD100GV Kering

• Masa Pengukuran Anggaran: 10 minit

• Arus Probe: 1nA

• Nombor Piksel: 128 x 128 piksel

Main Balik

Data pemetaan unsur yang diperoleh oleh EDS JEOL mengekalkan spektrum pada setiap piksel untuk setiap bingkai, bersama-sama dengan imej pancaran elektron. Fungsi "main balik" membolehkan analisis pelbagai hala termasuk pemerhatian perubahan spektrum dalam satu tempoh masa. Fenomena yang berlaku dalam sampel, yang mustahil untuk dikesan, kini boleh diperhatikan dengan memainkan semula data analisis. Untuk memotong bingkai yang telah anda pilih juga boleh dilakukan. (Paten telah dipohon.)

• Spesimen: Garam Batu

• Nombor Piksel: 128 x 128 piksel

• Nombor Bingkai Contoh: 398 bingkai

Kesesuaian

Permohonan JED-2300T

Analisis Struktur Peranti Semikonduktor dengan Menggunakan Tomografi STEM/EDS

Maklumat lanjut