Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT500
DISCONTINUED
JSM-IT500 ialah model baharu siri JEOL InTouchScope™.
Dilengkapi dengan siri Analitikal kami yang canggih, JSM-IT500 memudahkan sebarang analisis daripada pemuatan spesimen hingga penjanaan laporan.
Ciri-ciri
Video yang memperkenalkan JSM-IT500
◆Mengklik butang Main memulakan video (lebih kurang 2 minit).
◆ Ciri dan fungsi JSM-IT500 InTouchScope™ diperkenalkan.
3 perkara utama Analisis Pantas dan Mudah!
①
Perkara utama 1 : Zeromag
Imej Pemegang Grafik atau CCD yang dipaparkan membolehkan anda mencari kawasan spesimen atau menentukan kedudukan analisis. Anda boleh mencari dengan pantas kawasan spesimen dan menentukan kedudukan untuk analisis bersiri pelbagai medan.
②
Perkara utama 2 : Analisis Langsung (Hanya untuk A/LA)
Dengan "Analisis Langsung", sistem EDS terbenam menunjukkan spektrum EDS masa nyata semasa pemerhatian imej. Komposisi unsur atau "Amaran" untuk unsur minat dipaparkan pada imej langsung.
③
Perkara utama 3 : Perisian pengurusan data bersepadu
Perisian mesra pengguna ini membolehkan anda memilih dan menyemak imej SEM dan hasil analisis melalui kawasan pengurusan data. Anda juga boleh menjana laporan dengan satu klik.
Perkara utama 1 : Zeromag untuk Integrasi Benar bagi pengimejan Optik dan SEM
Operasi lancar sehingga pemerhatian pembesaran tinggi!
"Zeromag" memudahkan navigasi dengan peralihan yang lancar daripada imej CCD optik kepada imej SEM.
Dengan Zeromag, mudah untuk menyediakan satu atau lebih kawasan montaj untuk pengimejan dan analisis. Fungsi "Montaj" berkesan untuk memperoleh maklumat terperinci untuk mengenal pasti bahan asing di kawasan yang luas.
Perkara utama 2 : Analisis Langsung - SEM dan EDS lancar -
Dengan siri analitik kami (Analisis Langsung), sistem EDS menunjukkan spektrum EDS masa nyata semasa pemerhatian imej. Anda akan mudah mencari unsur-unsur yang menarik dan unsur-unsur yang tidak dijangka.
①
Elemen
Elemen utama yang wujud dalam kawasan ukuran dipaparkan. Anda boleh memaparkan "Amaran" dengan menentukan elemen.
②
Spektrum
Spektrum sinar-X ciri dari kawasan analisis dan keputusan analisis kualitatif automatik sentiasa dipaparkan.
③
Klik tunggal membolehkan anda bertukar antara skrin operasi mikroskop Elektron dan skrin paparan butiran analisis.
Perkara utama 3 : Perisian pengurusan data bersepadu SMILE VIEW™ Lab untuk penjanaan laporan yang lancar
SMILE VIEW™ Lab ialah perisian pengurusan data bersepadu sepenuhnya yang memautkan imej CCD, imej SEM, keputusan analisis EDS dan koordinat peringkat yang sepadan untuk penjanaan laporan pantas atau panggilan semula kedudukan spesimen untuk kajian lanjut.
①
Nama setiap medan dipaparkan.
②
Carian data didayakan daripada nama spesimen, masa penciptaan, jenis data, dsb.
③
Kedudukan setiap medan dipaparkan pada Grafik Pemegang atau imej CCD.
④
Data dipaparkan dalam bentuk senarai, yang merangkumi data analisis, keputusan analisis kuantitatif peta unsur, spektrum, dsb., dalam medan yang dipilih.
spesifikasi
Resolusi | Mod vakum tinggi: 3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
---|---|
Mod vakum rendah※ 1: 4.0 nm (30 kV BED) | |
Pembesaran langsung | x 5 hingga x 300,000
(Ditakrifkan dengan saiz paparan 128 mm x 96 mm) |
Pembesaran yang dipaparkan | × 14 hingga × 839,724 (pada monitor)
(Dilawan dengan saiz paparan 358 mm x 269 mm) |
Pistol elektron | Filamen W, Penjajaran pistol automatik sepenuhnya |
Mempercepatkan voltan | 0.3 kV hingga 30kV |
Arus siasatan | 1 pA hingga 1 μA |
Pelarasan tekanan vakum rendah※ 1 | 10 hingga 650Pa |
Bukaan kanta objektif | 3 peringkat, dengan fungsi pelarasan halus XY |
Fungsi automatik | Pelarasan filamen, penjajaran pistol,
Fokus / Stigmator / Kecerahan / Kontras |
Saiz spesimen maksimum | 200 mm dia. x 75 mm tinggi
200 mm dia. x 80 mm tinggi ※Pilihan 32 mm dia. x 90 mm tinggi ※Pilihan |
Tahap spesimen | Jenis eusentrik besar
X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 80 mm Condongkan: -10° hingga 90° Putaran: 360° |
Fungsi montaj | Terbina dalam |
Paparan koordinat ukuran-kedudukan | 203 mm dia. |
Resipi standard | Terbina dalam (termasuk fungsi EDS ※ 2) |
Mod gambar | Imej elektron sekunder, imej REF,
Imej komposisi, ※ 1 Imej topografi,※ 1 Imej stereo-mikroskopik, ※ 1 dan lain-lain. |
Piksel untuk pemerolehan imej | 640 x 480 1,280 x 960
2,560 x 1920 5,120 x 3,840 |
OS | Microsoft® Windows®10 64 bit |
Pemantau pemerhatian | Panel sentuh 23 inci |
fungsi EDS ※ 2 | Analisis spektrum, Analisis Kualitatif & Kuantitatif,
Analisis garisan (garisan mendatar, garis arah tertentu), Pemetaan unsur, Penjejakan Probe, dsb. |
Fungsi pengukuran | Terbina dalam (jarak antara 2 titik, jarak antara garis selari, sudut, diameter, dll.) |
Fungsi pengurusan data | Makmal SMILE VIEW™ |
Fungsi penjanaan laporan | Makmal SMILE VIEW™ |
Pertukaran bahasa | Boleh dikendalikan pada UI (Bahasa Inggeris / Jepun) |
Sistem vakum | Automatik sepenuhnya, TMP: 1
RP: 1 atau 2 ※ 1 |
Windows adalah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara-negara lain.
Pilihan Utama
- Pengesan Elektron Terserak Belakang (BED) ※1
- Pengesan Elektron Menengah Vakum Rendah (LSED)
- Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga (EDS) ※2
- Spektrometer X-ray Penyebaran Panjang Gelombang (WDS)
- Pengesan Belauan Hamparan Belakang Elektron (EBSD)
- Muatkan Ruang Kunci (ruang pra-pertukaran)
- Sistem Navigasi Peringkat (SNS)
- Skop Dewan (CS)
- Panel Operasi
- Perisian Pengukuran 3D
- Jadual
Standard dalam JSM-IT500LV/LA.
Standard dalam JSM-IT500A/LA.
Muat turun Katalog
Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT500
Kesesuaian
Permohonan JSM-IT500
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.