Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT300
DISCONTINUED
Sebagai tambahan kepada pemerhatian kualiti imej yang tinggi kerana penambahbaikan sistem pencahayaan, sistem vakum dan sistem pemprosesan isyarat, JSM-IT300 ialah Mikroskop Elektron Pengimbasan, yang boleh dikendalikan dengan daya pemprosesan yang tinggi dengan menggunakan operasi panel sentuh dan peringkat kelajuan tinggi.
Ciri-ciri
Fungsi Lanjutan
Kualiti gambar
Optik elektron dipertingkatkan untuk kualiti imej yang lebih tinggi, pengimejan dan analisis yang lebih pantas.
Kurang Pengecasan
Mod imbasan baharu menghalang pengecasan artifak dengan sampel bukan konduktif.
Mod Vakum Rendah (LV)
Julat tekanan vakum rendah dari 10 hingga 650Pa memanjangkan julat bahan yang boleh diperhatikan dengan mudah.
Navigasi Spesimen
Peringkat motor 5 paksi automatik sepenuhnya mempercepatkan carian untuk kawasan minat (ROI).
Capai ROI dengan pantas daripada imej berwarna menggunakan Sistem Navigasi Peringkat (Pilihan).
Analisis
Mod Arus Tinggi, arus siasatan sehingga 1μA (≥20kV).
Kanta Pemeluwap Zum Lanjutan meminimumkan anjakan imej dan fokus disebabkan oleh perubahan arus probe.
Putaran peringkat eusentrik komputer membolehkan kedudukan spesimen atau ROI dengan mudah.
Serba boleh
Bilik dan Pentas Besar
Boleh menerima spesimen besar dan berat, dari diameter 200mm × 80mm tinggi dan sehingga 2kg.
Geometri Pelabuhan Analitik
Port berbilang untuk pelbagai aksesori seperti: EDS, EBSD dan WDS. EDS satah bersama dan geometri EBSD. Dwi
Pengesan EDS boleh dipasang pada 180° untuk analisis mikro pemprosesan tinggi.
Pergerakan Peringkat Lebih Pantas
Peringkat bermotor yang baru dibangunkan membolehkan kedudukan lebih pantas (1.5 kali lebih pantas, berbanding produk JEOL yang lain).
Peringkat Motor 5 Paksi Automatik Sepenuhnya
Peringkat kawalan motor eusentrik, tak segerak, 5 paksi (X, Y, Z, T, R) secara mekanikal.
Kecondongan eusentrik komputer dan pembetulan putaran terbina dalam untuk spesimen tinggi atau apabila ROI tidak berpusat pada paksi putaran.
Sistem Vakum Baharu
Sistem vakum baharu untuk pam pantas turun selepas pertukaran spesimen. Isyarat yang lebih baik dalam mod vakum rendah.
Operasi Intuitif
Dalam Antara Muka Sentuhan
Operasi yang selesa dicapai dengan antara muka pengguna grafik (GUI) yang baru direka bentuk dan dibangunkan, yang beroperasi melalui skrin sentuh. Saiz GUI boleh dilaraskan supaya kawasan kerja boleh dioptimumkan semasa analisis atau pemprosesan data dilakukan.
Berbilang pengguna/Berbilang tugas
Fungsi log masuk berbilang pengguna untuk ruang kerja tersuai dan tetapan keadaan spesimen.
Multi-bahasa
GUI Bahasa Inggeris ke Jepun yang boleh ditukar (pilih melalui Ikon).
spesifikasi
| Mod HV resolusi | 3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
|---|---|
| Mod LV resolusi | 4.0 nm (30 kV BED) |
| Pembesaran | ×5 hingga ×300,000 |
| Pembesaran pratetap | 6 tahap (Boleh ditetapkan oleh pengguna) |
| Pistol elektron | Pelarasan automatik/Manual sepenuhnya tersedia |
| Filamen | Filamen jepit rambut tungsten pra-pusat kilang |
| Mempercepatkan voltan | 0.3 kV untuk 30 kV |
| Arus siasatan | 1 pA hingga 1 μA |
| Julat tetapan tekanan vakum rendah*1 | 10 hingga 650 Pa |
| Kanta pemeluwap | Kanta pemeluwap zum berketepatan tinggi |
| Kanta objektif | Kanta kon |
| Apertur kanta objektif | 3 langkah boleh dipilih dengan hentian klik
Pelarasan kedudukan halus dalam X dan Y mungkin. |
| Ingatan astigmatisme | Boleh didapati |
| Anjakan imej | ±50 μm (WD 10 mm) |
| Fungsi automatik | Kluster
Kecerahan/Kontras, pembetulan astigmatisme |
| Pertukaran spesimen | Diubah dengan membuka pintu ruang spesimen |
| Spesimen maksimum | Diameter: 200 mm Tinggi: 80 mm (WD10 mm) |
| Tahap spesimen | Peringkat goniometer eusentrik
(peringkat pemacu motor 5 paksi) X:125 mm Y:100 mm Z:80 mm Condongkan: -10 hingga 90° Putaran: 360° |
| Resipi | Boleh didapati |
| Mod gambar | Imej elektron sekunder, imej REF,
Imej gubahan, Imej topografi, Imej bayang-bayang |
| Tetingkap perbandingan (Snap shot) | 6 tangkapan (Simpan, muatkan, keadaan pengimejan boleh dihasilkan semula) |
| OS | Windows®7 |
| Pantau | Panel sentuh 23 inci
(Leraian paparan 1,920 × 1,080) |
| Bilangan piksel | 640 × 480 1,280 × 960
2,560 × 1,920 5,120 × 3,840 |
| Mod paparan imej | Paparan berbilang, Paparan skrin penuh, Paparan fleksibel,
Tambah Isyarat |
| Cari meja | Tersedia (Pembetulan gamma, pseudo-warna) |
| Paparan histogram | Boleh didapati |
| Fungsi pengukuran | Tersedia (Jarak antara 2 mata,
jarak antara garis selari, diameter, dsb.) |
| Pengukuran 3D | Boleh didapati*2 |
| Imej anaglyph | Boleh didapati |
| Perisian penciptaan laporan | Dibina di |
| Konfigurasi bahasa | Tersedia pada UI (Bahasa Jepun/Bahasa Inggeris) |
| Format imej | BMP,TIFF,JPEG |
| Simpanan automatik imej | Boleh didapati |
| Sistem pemindahan | Sistem automatik sepenuhnya
TMP: 1 RP: 1 atau 2 *1 |
| Menukar mod vakum | Tersedia pada UI (HV/LV) |
Windows adalah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara-negara lain.
Pilihan utama
Pengesan elektron berselerak belakang*1
Pengesan elektron sekunder vakum rendah
Penganalisis sinar-X penyebaran tenaga (EDS)
Penganalisis sinar-X penyebaran panjang gelombang (WDS)
Penganalisis Orientasi Kristal
Ruang kunci muat (Ruang pertukaran awal)
Sistem navigasi pentas
Skop ruang
Panel operasi
Senapang elektron LaB6
perisian 3Dmeasurement*2
Meja operasi
Ciri standard hanya untuk LV/LA
Perisian khusus diperlukan untuk pengukuran
Spesifikasi boleh berubah tanpa notis.
Kesesuaian
Permohonan JSM-IT300
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.