Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-7500F

DISCONTINUED

Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-7500F

Ciri-ciri

 

SEM pelepasan medan dengan separa dalam kanta dan dilengkapi dengan Pancaran Lembut untuk menyampaikan resolusi tinggi. Sudah tentu, pelbagai pilihan boleh dipasang, termasuk analisis elemen.

Direka untuk serba boleh dan resolusi tinggi

JSM-7500F mempunyai sistem optik yang termasuk kanta objektif jenis separa dalam kanta, yang boleh menyatukan pancaran elektron walaupun pada voltan pecutan rendah. Seperti sistem SEM tujuan am sebenar, JSM-7500F boleh memberikan pengimejan resolusi tinggi bagi spesimen besar

Gentle Beam (GB) menyediakan pengimejan permukaan atas dengan elektron kejadian tenaga ultra rendah

Pancaran Lembut (mod GB) dengan resolusi yang lebih baik daripada mod biasa tersedia. Dalam GB Gabungan dengan sistem optik JSM-7500F, yang memberikan resolusi tinggi, memungkinkan untuk mendapatkan imej permukaan atas resolusi tinggi bagi sampel yang sukar untuk diperhatikan sehingga kini, dengan hanya beberapa ratus eV tenaga digunakan untuk spesimen tersebut.

Pengesanan terpilih elektron sekunder atau berselerak belakang dengan penapis r Baharu

Penapis r baharu mempunyai 4 mod; mod SB piawai (pengesan elektron sekunder), mod BE piawai (pengesan elektron terserak belakang), mod Sb (keutamaan untuk elektron sekunder), mod Bs (keutamaan untuk elektron terserak belakang). Mod Sb boleh digunakan untuk mengesan elektron sekunder bersama-sama dengan elektron berselerak belakang dengan peratusan yang dikehendaki. Mod Bs boleh digunakan untuk mengesan elektron berselerak belakang bersama-sama elektron sekunder dengan peratusan yang dikehendaki.
Fungsi ini menampilkan operasi satu sentuhan mudah daripada menu mesra pengguna.

spesifikasi

Resolusi 1.0nm(15kV)、1.4nm(1kV)
Pembesaran ×25 hingga ×1,000,000
Mempercepatkan voltan 0.1kV hingga 30kV
Arus siasatan 1pA hingga 2nA
Lensa pengoptimuman sudut bukaan Terbina dalam
Pengesan Pengesan atas, pengesan bawah
Penapis tenaga Penapis r baharu
Rasuk Lembut Terbina dalam
Imej digital 1,280 × 960 piksel, 2,560 × 1,920 piksel,
5,120 × 3,840 piksel
Ruang pertukaran spesimen Mekanisme pertukaran spesimen satu tindakan terbina dalam
Tahap spesimen Eusentrik, kawalan motor 5 paksi
Jenis IA II III
XY 70mm × 50mm 110mm × 80mm 140mm × 80mm
Condongkan -5 hingga +70° -5 hingga +60° -5 hingga +60°
Putaran 360 ° 360 ° 360 °
WD 1.5mm untuk 25mm 1.5mm untuk 25mm 1.5mm untuk 25mm
Sistem pemindahan Tiga SIP, TMP, RP, Perangkap garisan hadapan
Reka bentuk Eco Semasa operasi biasa: 1.2kVA
Semasa mod tidur: 1kVA
Semasa sistem pemindahan OFF : 0.76kVA

CO2 pengeluaran

CO2/jam CO2/ tahun
Semasa operasi biasa 0.481kg 4,214kg
Semasa mod tidur 0.411kg -
Semasa sistem pemindahan OFF
(Pam ion HIDUP)
0.286kg -

Pilihan Utama

Pengesan Elektron Tersebar Belakang Boleh Tarik
Pengesan Elektron Terserak Belakang Dalam kanta
Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga (EDS)
Pembelauan Penyerakan Belakang Elektron (EBSD)
Pengesan Elektron Penghantaran
Perangkap Nitrogen Cecair

Kesesuaian

Permohonan JSM-7500F

Galeri

Maklumat lanjut

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.