JIB-4000PLUS
Pancaran Ion Berfokus
Sistem Pengilangan & Pengimejan
DISCONTINUED
JIB-4000PLUS ialah sistem pengilangan & pengimejan rasuk ion terfokus (sistem FIB rasuk tunggal) yang menampilkan lajur optik ion berprestasi tinggi. Rasuk ion Ga (gallium) yang dipercepatkan difokuskan pada spesimen untuk membolehkan pemerhatian imej SIM pada permukaan spesimen, pengilangan dan pemendapan bahan seperti karbon atau tungsten. Sistem ini juga membolehkan penyediaan spesimen filem nipis untuk pengimejan TEM dan spesimen keratan rentas untuk memerhati bahagian dalam spesimen.
Di samping itu, JIB-4000PLUS boleh dilengkapi dengan fungsi pemerhatian 3D dan fungsi penyediaan spesimen TEM automatik; justeru sistem ini memenuhi pelbagai keperluan untuk penyediaan spesimen.
Ciri-ciri
Lajur FIB Berkuasa Tinggi
JIB-4000PLUS menggabungkan lajur FIB Kuasa Tinggi dengan arus pancaran ion maksimum 60 nA. Tambahan pula, sistem ini boleh meningkatkan arus rasuk sehingga 90 nA (pilihan) untuk memendekkan masa penyediaan spesimen dan meluaskan kawasan penyediaan spesimen. JIB-4000PLUS membolehkan penyediaan masa yang singkat bagi keratan rentas dengan diameter melebihi 100 μm.
Rajah.1 Penyediaan dan pemerhatian spesimen keratan rentas bonggol pateri (diameter 100 μm).
FIB mesra pengguna
JIB-4000PLUS menawarkan kebolehkendalian yang sangat baik bagi lajur FIB Berkuasa Tinggi. Konsep reka bentuk sistem adalah mesra pengguna, dengan penampilan luaran serta GUI yang direka untuk operasi mudah sistem walaupun untuk pengguna baru. Kekompakan sistem, kelas terkecil dalam industri, mencapai jejak kecil untuk pelbagai pilihan yang lebih luas untuk tapak pemasangan.
Tahap berkembar
Konfigurasi standard JIB-4000PLUS termasuk peringkat motor spesimen pukal. Anda juga boleh menambah peringkat goniometer kemasukan sisi yang membenarkan pemasukan terus pemegang cip-on TEM. Peringkat goniometer kemasukan sisi adalah sama yang digunakan untuk TEM JEOL, memudahkan pertukaran antara pengilangan FIB dan pemerhatian TEM.
Fungsi pemerhatian 3D
JIB-4000PLUS dilengkapi dengan fungsi pengimejan keratan rentas bersiri untuk pemerhatian 3D.
Walaupun JIB-4000PLUS ialah sistem FIB rasuk tunggal, pemerhatian 3D boleh dibuat menggunakan imej SIM. Perisian pembinaan semula 3D pilihan membolehkan pembinaan semula 3D bagi imej keratan rentas berbilang yang diperoleh, membolehkan untuk memaparkan imej 3D pada pelbagai sudut.
Rajah.2 Imej pembinaan semula 3D bagi penderia imej CCD
Fungsi penyediaan spesimen TEM automatik
JIB-4000PLUS boleh menggunakan "STEMPLING," fungsi penyediaan spesimen TEM automatik (pilihan).
Disebabkan fungsi ini, kemahiran pakar yang tinggi tidak diperlukan untuk penyediaan spesimen, membolehkan sesiapa sahaja menyediakan spesimen dengan mudah. Memandangkan fungsi ini juga membolehkan penyediaan automatik berbilang spesimen, operasi tanpa pengawasan semalaman boleh dibuat untuk menyediakan sejumlah besar spesimen.
Rajah.3 Contoh aplikasi fungsi penyediaan spesimen TEM Automatik (STEMPLING).Spesimen: Si wafer
Kekayaan lampiran
JIB-4000PLUS memuatkan pelbagai lampiran yang tersedia untuk menyokong operasi sistem, termasuk sistem navigasi CAD yang berguna untuk pengubahsuaian litar, dan sistem imbasan vektor yang berkesan untuk mengisar spesimen dengan bentuk ciri. Dengan menambahkan lampiran yang sesuai pada JIB-4000PLUS, sistem boleh menyokong aplikasi di luar penyediaan spesimen.
spesifikasi
FIB
| Sumber ion | Ga sumber ion logam cecair |
|---|---|
| Mempercepatkan voltan | 1 hingga 30 kV (dalam 5 langkah) |
| Pembesaran | ×60 (untuk mencari medan) ×200 hingga ×300,000 |
| Resolusi imej | 5nm (pada 30 kV) |
| Arus rasuk maksimum | 60nA (pada 30 kV) 90nA (pada 30 kV)*Pilihan |
| Bukaan boleh alih | 12 langkah (memandu motor) |
| Memproses bentuk dengan mengisar | Segi empat tepat, garis dan titik |
Tahap spesimen
| Tahap spesimen | Peringkat goniometer 5 paksi spesimen pukal |
|---|---|
| Julat pergerakan | X: ±11 mm Y: ±15 mm Z: 0.5 hingga －23 mm T: －5 hingga ＋60° R: 360° |
| Saiz spesimen maksimum | 28 mm dia. (13 mm H) 50 mm dia. (2 mm H) |
Muat turun Katalog
Sistem Pengilangan & Pengimejan Rasuk Ion Berfokus JIB-4000PLUS
Kesesuaian
Permohonan JIB-4000PLUS
Galeri
MOVIE
Klik butang "main semula" dalam kotak di atas, dan filem akan bermula (selama 6 saat)
Produk Berkaitan
Produk Berkaitan
IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Automatik Sistem Penyediaan Spesimen TEM STEMPLING
Sistem Penyediaan Spesimen TEM Automatik STEMPLING ialah perisian untuk penyediaan spesimen TEM automatik dengan menggunakan FIB. Sistem ini dibangunkan untuk memenuhi keperluan penyediaan spesimen menggunakan FIB, seperti operasi mudah yang boleh dilakukan oleh sesiapa sahaja, dan untuk teknologi yang membolehkan penciptaan sejumlah besar spesimen. Disebabkan oleh STEMPLING, kemahiran pakar yang tinggi tidak diperlukan untuk penyediaan spesimen, membolehkan sesiapa sahaja menyediakan spesimen dengan mudah. Selain itu, memandangkan sistem membenarkan penyediaan berbilang spesimen tanpa pengawasan, kecekapan kerja boleh dioptimumkan melalui operasi semalaman untuk mencipta sejumlah besar spesimen.
STEMPLING boleh digunakan dengan Sistem Multi Beam JIB-4700F dan Sistem Pengilangan & Pengimejan Rasuk Ion Berfokus JIB-4000PLUS.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.