Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

diameter kuar elektron, diameter kuar

diameter kuar elektron, diameter kuar

Diameter probe elektron (diameter probe) bermaksud diameter probe elektron kejadian difokuskan pada permukaan spesimen.
Persamaan berikut digunakan secara meluas untuk definisi diameter probe.

diameter kuar elektron_Formula

Persamaan atas mewakili bahawa diameter probe d pada permukaan spesimen diperolehi oleh punca min kuasa dua bagi empat sebutan, atau d0 (diameter probe diperolehi oleh sumber elektron tanpa penyimpangan), dd (diameter probe ditentukan oleh penyimpangan pembelauan), ds (diameter kuar bagi bulatan kekeliruan minimum ditentukan oleh penyimpangan sfera) dan dc (diameter kuar bagi bulatan kekeliruan minimum ditentukan oleh penyimpangan kromatik). Persamaan yang lebih rendah menyatakan huraian khusus tentang d0, dd, ds dan dc. di sini, Ip ialah arus kuar, β ialah kecerahan senapang elektron, α ialah separa sudut penumpuan probe elektron, λ ialah panjang gelombang elektron, Cs ialah pekali aberasi sfera bagi kanta objektif, Cc ialah pekali aberasi kromatik bagi kanta objektif, E ialah tenaga bagi rasuk elektron dan ΔE ialah penyebaran tenaga bagi rasuk elektron. Persamaan menunjukkan bahawa diameter probe d ialah fungsi bagi separa sudut penumpuan α daripada probe elektron.

Rajah 1 menunjukkan diameter probe d sebagai fungsi bagi separa sudut penumpuan α untuk SEM biasa yang dilengkapi dengan senapang elektron pelepasan termionik (filamen tungsten) yang beroperasi pada voltan pecutan 20 kV. Parameter yang digunakan di sini adalah seperti berikut: E=20 keV, ΔE=1 eV, Cs=50 mm, Cc=20 mm, β=7×104 A/cm2/sr, dan Ip=1 pA, 10 pA dan 100 pA (tiga kes). Adalah diperhatikan bahawa tiga arus kuar Ip sepadan dengan kes: arus kuar kecil untuk cerapan resolusi spatial tinggi, arus kuar besar untuk analisis unsur, arus kuar sederhana untuk menjejaskan pemerhatian resolusi tinggi dan analisis unsur.


Lengkung hitam untuk Ip = 100 pA menunjukkan bahawa diameter probe d ditentukan terutamanya oleh d0 and ds, Di mana d0 ialah diameter probe disebabkan oleh sumber elektron dan ds ialah diameter probe disebabkan oleh penyimpangan sfera. Lengkung hitam untuk Ip = 1 pA menunjukkan bahawa diameter probe d mengalami sumbangan penyebaran probe akibat penyimpangan kromatik dc. Ia dilihat bahawa diameter probe terkecil d ialah ~33 nm untuk bekas kes (Ip : 100 pA) dan ~7 nm untuk kes terakhir (Ip : 1 pA). Untuk mengurangkan diameter probe d untuk memperoleh imej resolusi spatial tinggi, pertama α yang meminimumkan d diperiksa dengan pengiraan berangka, dan kemudian α ditetapkan kepada nilai yang dikira dengan memilih apertur objektif (diameter) atau dengan melaraskan pengujaan lensa untuk mengawal α.
Rajah 2 menunjukkan diameter probe d sebagai fungsi penumpuan separa sudut α untuk SEM yang dilengkapi dengan senapang elektron Schottky yang beroperasi pada voltan pecutan 1 kV dan 20 kV. Parameter yang digunakan adalah seperti berikut: E=1 keV dan 20 keV (dua kes), ΔE=0.5 eV, Cs=4 mm, Cc=2 mm, β=1×108 A/cm2/sr dan Ip=1 pA . Dalam kes SEM yang dilengkapi dengan senapang elektron Schottky, diameter probe d ditentukan terutamanya oleh dd (penyebaran kuar akibat penyimpangan pembelauan) dan d(sebaran probe akibat penyimpangan sfera) untuk voltan pecutan 20 kV, tetapi ditentukan terutamanya oleh dd (penyebaran kuar akibat penyimpangan pembelauan) dan dc (sebaran probe akibat penyimpangan kromatik) untuk voltan pecutan 1 kV. Ia dilihat bahawa diameter probe terkecil d ialah ~1 nm untuk voltan pecutan 20 kV dan ~7 nm untuk voltan pecutan 1 kV. Apabila voltan pecutan diturunkan, diameter probe menjadi besar disebabkan oleh peningkatan penyimpangan kromatik.
Dalam kes SEM biasa yang dilengkapi dengan senapang elektron pelepasan termionik, diameter probe terkecil ~7 nm diperolehi hanya pada voltan pecutan tinggi 20 kV. Sebaliknya, dalam kes SEM yang dilengkapi dengan senapang elektron Schottky, diameter serupa ~7 nm diperolehi walaupun pada voltan yang sangat rendah iaitu 1 kV. Ini adalah kerana d0 (diameter probe yang diperolehi oleh sumber elektron tanpa penyimpangan) senapang elektron Schottky adalah jauh lebih kecil daripada senapang elektron pancaran termionik (filamen tungsten).

Rajah 1 Diameter probe d (garis hitam) untuk SEM biasa yang dilengkapi dengan senapang elektron pelepasan termionik. Abscissa mewakili penumpuan separuh sudut α.


Rajah 1 Diameter probe d (garis hitam) untuk SEM biasa yang dilengkapi dengan senapang elektron pelepasan termionik. Abscissa mewakili separa sudut penumpuan α.

Rajah 2 Diameter probe d (garis hitam) untuk SEM resolusi tinggi yang dilengkapi dengan senapang elektron Schottky. Abscissa mewakili penumpuan separuh sudut α.


Rajah 2 Diameter probe d (garis hitam) untuk SEM resolusi tinggi yang dilengkapi dengan senapang elektron Schottky. Abscissa mewakili separa sudut penumpuan α.

Istilah Berkaitan