mikroskop elektron penghantaran pengimbasan medan gelap anulus sudut tinggi, HAADF-STEM
mikroskop elektron penghantaran pengimbasan medan gelap anulus sudut tinggi
Mikroskopi elektron penghantaran pengimbasan medan gelap anulus sudut tinggi (HAADF-STEM) ialah kaedah STEM yang menerima elektron bertaburan tidak kenyal atau penyerakan terma (TDS) pada sudut tinggi menggunakan pengesan medan gelap anulus (ADF) (～50 hingga mencukupi. sudut tinggi; cth ～200 mrad). Imej STEM diperoleh dengan memaparkan keamatan bersepadu elektron dalam penyegerakan dengan kedudukan siasatan kejadian. Oleh kerana keamatan imej HAADF dilaporkan berkadar dengan 1.4 persegi kepada kuasa dua nombor atom, atom berat diperhatikan lebih cerah, tetapi atom ringan sukar untuk diperhatikan. Imej HAADF mudah ditafsirkan disebabkan terutamanya oleh dua sebab.
1) Tiada serakan berganda timbul kerana keratan rentas serakan TDS pada sudut tinggi yang digunakan untuk pengimejan adalah kecil.
2) Kesan gangguan elektron tidak berlaku untuk pengimejan (imej bukan gangguan).
Resolusi imej HAADF hampir ditentukan oleh diameter probe kejadian pada spesimen. Instrumen STEM berprestasi tinggi memberikan resolusi yang lebih baik daripada 0.05 nm. Penggunaan gabungan dengan EELS, yang menggunakan elektron yang dihantar melalui lubang tengah pengesan ADF, membolehkan analisis unsur lajur demi lajur. Pada masa kini, STEM medan terang anulus (ABF) dan STEM medan gelap anulus sudut rendah (LAADF) digunakan sebagai kaedah STEM untuk menggambarkan atom cahaya dengan berkesan.
Rajah.(a) Hubungan antara separa sudut penumpuan pancaran elektron tuju dan separuh sudut penerimaan pengesan untuk HAADF-STEM. Separuh sudut dalam dan luar biasa pengesan masing-masing ialah β1 = ～50 mrad dan β2 = ～200 mrad, mengesan elektron bertaburan tak elastik pada sudut tinggi. Nilai separa sudut penumpuan α adalah lebih kurang 25 mrad untuk TEM yang diperbetulkan 200 kV Cs. Biasanya, pengesan ABF dan pengesan LAADF diletakkan di bawah pengesan HAADF.
1) Tiada serakan berganda timbul kerana keratan rentas serakan TDS pada sudut tinggi yang digunakan untuk pengimejan adalah kecil.
2) Kesan gangguan elektron tidak berlaku untuk pengimejan (imej bukan gangguan).
Resolusi imej HAADF hampir ditentukan oleh diameter probe kejadian pada spesimen. Instrumen STEM berprestasi tinggi memberikan resolusi yang lebih baik daripada 0.05 nm. Penggunaan gabungan dengan EELS, yang menggunakan elektron yang dihantar melalui lubang tengah pengesan ADF, membolehkan analisis unsur lajur demi lajur. Pada masa kini, STEM medan terang anulus (ABF) dan STEM medan gelap anulus sudut rendah (LAADF) digunakan sebagai kaedah STEM untuk menggambarkan atom cahaya dengan berkesan.
Rajah.(a) Hubungan antara separa sudut penumpuan pancaran elektron tuju dan separuh sudut penerimaan pengesan untuk HAADF-STEM. Separuh sudut dalam dan luar biasa pengesan masing-masing ialah β1 = ～50 mrad dan β2 = ～200 mrad, mengesan elektron bertaburan tak elastik pada sudut tinggi. Nilai separa sudut penumpuan α adalah lebih kurang 25 mrad untuk TEM yang diperbetulkan 200 kV Cs. Biasanya, pengesan ABF dan pengesan LAADF diletakkan di bawah pengesan HAADF.
Istilah Berkaitan
Istilah dengan "mikroskop elektron penghantaran pengimbasan medan gelap anulus sudut tinggi" dalam keterangan
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.
