Buku Panduan Spektra Pancaran X-ray Lembut Versi 8.0 (Julai 2023)
Spektroskopi pelepasan sinar-X lembut (SXES) digunakan untuk menyiasat kesan keadaan pepejal, keadaan tenaga elektron ikatan. Spektroskopi ini baru-baru ini digabungkan dengan mikroskop elektron penghantaran moden (TEM), dan digunakan untuk analisis mikro probe elektron komersial (EPMA) / mikroskop elektron pengimbasan (SEM). Memandangkan terdapat banyak resonans atom dalam kawasan tenaga sinar-X lembut (<beberapa keV), SXES digabungkan dengan mikroskop elektron menyediakan alat sensitif untuk kaedah pengenalan unsur dan kimia berdasarkan mikroskop, yang boleh membuat banyak peluang aplikasi.
Masami Terauchi1), Masato Koike1), Hideyuki Takahashi2), Masaru Takakura2), Takanori Murano2) dan Shogo Koshiya2)
IMRAM, Universiti Tohoku1) dan JEOL Ltd.2)
Produk Berkaitan
Spektrometer Pancaran X-ray lembut (SXES)
Spektrometer Pancaran X-Ray Lembut (SXES) ialah spektrometer resolusi ultra tinggi yang terdiri daripada kisi pembelauan yang baru dibangunkan dan kamera CCD X-ray dengan kepekaan tinggi.
Dengan cara yang sama seperti EDS, pengesanan selari adalah mungkin, dan analisis resolusi tenaga ultra tinggi 0.3 eV (Fermi-edge, Al-L standard) boleh dilakukan, mengatasi resolusi tenaga WDS.
