BERITA JEOL
Anda boleh memuat turun setiap BERITA JEOL, dalam format PDF.
Apabila anda mengklik muka depan risalah yang anda ingin muat turun, dokumen PDF yang berkaitan muncul.
Sila ambil perhatian bahawa mungkin terdapat masa muat turun yang lebih lama bagi risalah format pdf, bergantung pada masa apabila ramai orang mengakses Internet.
Nombor Terkini
Contents [show]
Ptychography Cryo-Electron: Aplikasi dalam Pencirian Sampel Biologi
Chen Huang1, Judy Kim1,2, Peng Wang3, Peter Nellist2, dan Angus Kirkland1,2
1 Institut Rosalind Franklin 2 Jabatan Bahan, Universiti Oxford 3 Jabatan Fizik, Universiti Warwick
Status Semasa dan Perkembangan Masa Depan Mikroskopi Elektron Transmisi Sel Cecair In-situ
Yuki Kimura
Institut Sains Suhu Rendah, Universiti Hokkaido
Pengilangan Rasuk Ar Ion Luas Meningkatkan Analisis EBSD bagi Phyllosilicates
Kayleigh Harvey1, Noriyuki Inoue1 dan Sarah Penniston-Dorland2
1JEOL USA, Inc. 2 Jabatan Geologi, Taman Kolej Universiti Maryland
Klasifikasi Lengkap, Pemisahan dan Analisis Tepat Ion Serpihan yang Dihasilkan oleh Pengionan Elektron Metil Stearat menggunakan Spektrometer Jisim Berprestasi Tinggi GC/MS JMS-T2000GC dan Pengiraan Kimia Kuantum
Mitsuo Takayama1, Masaaki Ubukata2
1 Universiti Bandar Yokohama, 2 JEOL Ltd.
Pemerhatian Radikal dalam Clathrate Hydrates dan Silica Clathrates
Atsushi Tani1,2, Shusuke Isogai1
1 Sekolah Siswazah Pembangunan Manusia dan Alam Sekitar, Universiti Kobe
2 Bahagian Makmal Kimia Molekul Terahertz, Pusat Penyelidikan Fotosains Molekul, Universiti Kobe
Analisis Struktur Mikro Karbon dan Nitrogen dalam Keluli Karbon Nitrokarburkan Menggunakan Kaedah Gambarajah Taburan EPMA
Kazunori Tsukamoto1, Takashi Kimura2, Goro Miyamoto3
1 Bahagian Jualan Sains dan Instrumen Pengukuran, JEOL Ltd.
2 Institut Sains Bahan Kebangsaan
3 Institut Penyelidikan Bahan, Universiti Tohoku
Penjelasan Struktur Kristal Molekul Organik Kecil: Pendekatan Gabungan Pembelauan Elektron 3D dan NMR Keadaan Pepejal
Yusuke Nishiyama
Pusat Pembangunan Penyelesaian, JEOL Ltd.
Pemerhatian Operando Menggunakan Sistem Tindak Balas Gas In-situ Disambungkan kepada Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM) dan Spektrometer Jisim (MS)
Kei-ichi Fukunaga1, Takao Fukudome2 dan Yaofeng Guo3
1 Unit Perniagaan EM, JEOL Ltd. 2 Unit Perniagaan MS, JEOL Ltd. 3 Protochips Inc.
Pembangunan JBX-A9, Sistem Litografi Rasuk Elektron
Hiroshi Ozawa
Bahagian Kejuruteraan SE, JEOL Ltd.