BERITA JEOL｜Jurnal Teknikal
Anda boleh memuat turun setiap BERITA JEOL, dalam format PDF.
Apabila anda mengklik muka depan risalah yang anda ingin muat turun, dokumen PDF yang berkaitan muncul.
Sila ambil perhatian bahawa mungkin terdapat masa muat turun yang lebih lama bagi risalah format pdf, bergantung pada masa apabila ramai orang mengakses Internet.
Nombor Terkini
Contents [show]
Peranan Penting Mikroprob Elektron dalam Menyelesaikan Masalah Analisis Mikro dalam Sains Bumi dan Arkeometri
Jürgen Konzett, Bastian Joachim-Mrosko, Roland Stalder, Peter Tropper, Martina Tribus
Universiti Innsbruck, Institut Mineralogi dan Petrografi
Analisis Struktur Digital Tiga Dimensi Litar Neural Olfaktori ~ Meneroka kemungkinan analisis biologi oleh mikroskop elektron ~
Kazunori Toida1,2 Haruyo Yamanishi1, Emi Kiyokage3
1 Jabatan Anatomi, Sekolah Perubatan Kawasaki
2 Pusat Penyelidikan untuk Mikroskopi Elektron Voltan Ultra Tinggi, Universiti Osaka
3 Jabatan Teknologi Perubatan, Universiti Kebajikan Perubatan Kawasaki
Struktur Selular Novel dan Ciri Fisiologi Bakteria Phyla Novel Didedahkan oleh Mikroskopi Cryo-Electron
Taiki Katayama
Institut Penyelidikan Geo-Sumber dan Alam Sekitar, Institut Sains dan Teknologi Perindustrian Termaju Negara
X-ray dan Analisis Rasuk Elektron untuk Gigi Chiton Mengumpul Besi pada Kepekatan Tinggi
Chiya Numako1, Seiichi Takami2, Shiori Kamijo3, Takeshi Otsuka3, Yusuke Sakuta3, Shunsuke Asahina3
1 Universiti Chiba, Sekolah Siswazah Sains, 2 Universiti Nagoya, Sekolah Siswazah Kejuruteraan, 3 JEOL Ltd.
Kaedah ESR Penyelesaian Masa untuk Memerhati Tindak Balas Radikal Pantas
Atsushi Kajiwara
Universiti Pendidikan Nara
JEM-120i, Mikroskop Elektron Transmisi 120 kV dengan Penampilan Kompak dan Kemudahan Penggunaan -Ciri dan Aplikasinya-
Haruka Aoki
Unit Perniagaan EM, JEOL Ltd.
Maju Daripada Mudah kepada Automatik - Mengatasi Cabaran Automasi dengan FE-SEM JSM-IT810 Terkini -
Hironobu Niimi, Tatsuro Nagoshi, Noriyuki Inoue
Unit Perniagaan EP, JEOL Ltd.
Pembangunan Pengesan EDS Tanpa Tingkap Pepejal Besar "Gather-X" Digunakan dengan Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan (FE-SEM)
Kota Yanagihara
Unit Perniagaan EX, JEOL Ltd.
Pengenalan Cryo-FIB-SEM Baharu "CryoLameller"
Rintaro Kawano1, Wataru Shigeyama2, Hideki Matsushima1, Naoki Hosogi3, Chikako Nakayama4, Katsuyuki Suzuki4, Noriaki Mizuno1
1 Unit Perniagaan EP, JEOL Ltd. 2 JEOL USA, Inc. 3 Unit Perniagaan EM, JEOL Ltd. 4 Pusat Pembangunan Penyelesaian, JEOL Ltd.
Kemajuan Pembangunan Teknologi Pencetak 3D Logam Rasuk Elektron JAM-5200EBM
Masahiko Iida, Ayumi Miyakita, Kozo Koiwa, Nari Tsutagawa, Yohei Daino, Satoshi Ono, Takashi Sato
Unit Perniagaan IS, JEOL Ltd.
