Imej TEM resolusi tinggi oleh JEM-1400Flash

Sistem optik JEM-1400Flash boleh imej pada resolusi ultra tinggi 0.14 nm sambil mempunyai julat pembesaran (pembesaran minimum: 10 kali) yang boleh imej keseluruhan mesh sampel (φ2 mm) dengan kamera pelekap bawah.
Kanta objektif dinyah teruja pada pembesaran yang sangat rendah supaya keseluruhan mesh sampel boleh diperhatikan. Sebaliknya, pada pembesaran tinggi, kanta objektif teruja dan satah imej yang dicipta di bawah kanta objektif dibesarkan oleh kanta pengimejan, supaya pembesaran maksimum 1.5 juta kali boleh diperolehi (Rajah 1).
Pada masa ini, memandangkan apertur objektif dimasukkan dalam satah fokus belakang kanta objektif, imej kontras tinggi boleh diperolehi.
Untuk mendapatkan imej pembesaran rendah beberapa ratus kali dengan kanta objektif teruja, kanta objektif mini (OM) teruja dan satah imej dikurangkan (Rajah 2). Dalam kes ini juga, apertur objektif yang menentukan kontras dimasukkan dalam satah fokus belakang, jadi kontras yang sama boleh diperoleh daripada pembesaran rendah ke tinggi. JEM-1400Flash boleh menukar pembesaran dengan lancar daripada pembesaran sangat rendah kepada pembesaran maksimum 1.5 juta kali tanpa putaran imej, dan ia sentiasa mungkin untuk diperhatikan dengan kontras yang tinggi.
Imej TEM resolusi tinggi yang diambil dengan JEM-1400Flash, yang mempunyai sistem optik yang boleh mendapatkan imej pembesaran rendah dan imej pembesaran tinggi dengan mudah, ditunjukkan (Gamb. 3).

Rajah 1 Apabila mengujakan kanta objektif untuk mencipta pembesaran yang tinggi

Rajah 2 Apabila mengujakan kanta OM untuk mencipta pembesaran rendah

Sampel: Au kristal tunggal
Voltan pecutan: 120 kV

Contoh : Tiub nano karbon lapisan tunggal
Voltan pecutan: 120 kV

Contoh : Grafit
Voltan pecutan: 120 kV

Rajah 3 Imej resolusi tinggi diambil dengan JEM-1400Flash (HR)

Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
Tetingkap lain terbuka apabila anda mengklik.

PDF 2.43MB