Mengimbas Mikroskop Elektron A Hingga Z

Sejak Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEM) mula dikomersialkan kira-kira 40 tahun yang lalu, SEM telah menunjukkan kemajuan yang luar biasa. Kini, banyak jenis SEM sedang digunakan, dan prestasi serta fungsinya sangat berbeza antara satu sama lain. Untuk menggunakan SEM yang berbeza ini, adalah penting untuk mengenali ciri mereka, serta memahami sebab kontras imej SEM. Oleh itu, bahan dokumen ini bertujuan untuk membantu pengguna SEM dan pengguna SEM akan datang memahami asas SEM, termasuk prinsip instrumen, penyediaan spesimen dan analisis unsur.