Analisis STEM Resolusi Tinggi Sebatian Kompleks
JEOLnews Jilid 45, Nombor 1, 2010
Eiji Abe†, Daisuke Egusa, Ryo Ishikawa dan Takehito Seki
Jabatan Sains & Kejuruteraan Bahan, Universiti Tokyo
Pembetulan penyimpangan kanta objektif telah berjaya menumpu pancaran elektron ke dalam skala sub-Å, dan mikroskop elektron penghantaran pengimbasan (STEM) kini secara rutin menyediakan resolusi spatial yang sangat baik untuk pengimejan dan spektroskopi. Di sini kami menunjukkan penggunaan berkuasa STEM resolusi ultratinggi untuk analisis sebatian kompleks, termasuk struktur kuasikkristalin termodulat jangka panjang dan aperiodik.
- Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
PDF 8.56MB
Produk Berkaitan
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.