Analisis Bon Kimia Mudah dan Mudah dalam XPS
Spektroskopi fotoelektron sinar-X (XPS) digunakan secara meluas untuk analisis unsur dan analisis keadaan kimia pada permukaan bahan logam, polimer dan semikonduktor. Memandangkan XPS menggunakan sinar-X sebagai sumber pengujaan, sampel bebas daripada pengumpulan caj dan tertakluk kepada kerosakan minimum. Ini adalah salah satu kelebihan berbanding penganalisis permukaan yang lain. Sistem komputer baharu untuk XPS telah dibangunkan untuk meningkatkan lagi prestasinya. Rangka sistem baharu ini adalah seperti berikut.
-
Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
Tetingkap lain terbuka apabila anda mengklik. -
PDF 92.8KB
Produk Berkaitan
Rumusan berdasarkan bidang
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.