Keratan rentas getah uretana oleh rasuk ion luas Ar untuk pengimejan SEM

Keratan rentas mekanikal dengan mikrotom digunakan secara meluas untuk menyediakan bahan polimer tinggi untuk pengimejan SEM. Walau bagaimanapun, kemahiran halus diperlukan untuk memanipulasi mikrotom untuk bahan polimer berat molekul tinggi yang mempunyai tahap kekerasan yang agak rendah, Teknik keratan rentas baru baru-baru ini telah dicadangkan menggunakan rasuk ion argon yang luas, membuktikan keberkesanannya untuk pelbagai bahan.[ 1] Peranti ini, yang menampilkan proses keratan rentas automatik, mudah digunakan dan menghasilkan sampel yang dikehendaki secara konsisten. Teknik ini, walau bagaimanapun, menjana haba daripada penyinaran semasa proses pengilangan, dan oleh itu tidak sesuai untuk bahan polimer berat molekul tinggi dengan rintangan haba yang rendah.[2] Kami telah mereka satu teknik untuk menghapuskan kesan haba, di mana sampel diapit di antara plat silikon untuk mengetsa, dan akan membincangkan keberkesanannya di bawah.