Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Buku Nota Aplikasi Bahan Polimer siri JMS-S3000 SpiralTOF™

Edisi Mei 2026

Ini merupakan ringkasan nota aplikasi bahan polimer dan artikel Berita JEOL berdasarkan data yang diperoleh pada siri JEOL SpiralTOF™ resolusi jisim ultra tinggi MALDI-TOFMS JMS-S3000.

Sila lihat fail PDF untuk mendapatkan maklumat tambahan.
Tetingkap lain terbuka apabila anda mengklik.

Jadual Kandungan

Ko-polimer / Ko-oligomer P1〜

  • Pengukuran MALDI-TOFMS Resolusi Tinggi dan Analisis KMD untuk Visualisasi Polimer yang Dipecahkan oleh LC Fasa Terbalik (MSTips No. 503)
  • Analisis poliester berbilang komponen menggunakan analisis JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus3.0” dan Kendrick Mass Defect (KMD) (MSTips No. 484)
  • Analisis nisbah komposisi EO/PO kopolimer EO-PO menggunakan JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" dan "msRepeatFinder" (MSTips No. 471)
  • Analisis struktur kopolimer EO-PO menggunakan resolusi tinggi MALDI-TOFMS dan NMR (MSTips No. 423)
  • Analisis komposisi kopolimer EO-PO menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus2.0” dan “msRepeatFinder V6” (MSTips No. 399)
  • Plot KMD “asas pecahan” untuk kopoliester poli(3-hydroxybutyrate-co-3-hydroxyvalerate) berat molekul tinggi berikutan degradasi alkali pada plat dan analisis SpiralTOF™ (MSTips No. 284)
  • Analisis Kopolimer Rawak EO-PO dengan Menggunakan HPLC Konvensional dan MALDI SpiralTOF™ MS (MSTips No. 203)
  • Pencirian Struktur Terperinci Polimer oleh MALDI-TOFMS dengan Trajektori Ion Lingkaran (Sato, H., JEOL News, 50, 46-52, 2015)
  • Spektrometri jisim resolusi tinggi MALDI SpiralTOF dan analisis kecacatan jisim Kendrick digunakan untuk pencirian kopolimer poli(etilena-ko-vinil asetat) (Fouquet, T., Nakamura, S. & Sato, H., Rapid Commun. Mass Spectrom. 30, 973 - 981, 2016)

Polimer / Oligomer P43〜

  • Percubaan analisis kumpulan akhir polikarbonat sehingga 100,000 berat molekul menggunakan pemisahan persediaan SEC dan NewSpiralTOF™ (MSTips No. 527)
  • Menggabungkan JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus3.0" dan kromatografi pengecualian saiz untuk menganalisis kumpulan akhir polimer sintetik berkelimpahan tinggi dan menggambarkan perubahan dalam kumpulan akhir (MSTips No. 495)
  • Menilai Degradasi UV Polimer: Kajian Polietilena Tereftalat dengan menggunakan MALDI-TOFMS dan GC-TOFMS
  • Analisis pembezaan polietilena tereftalat terdegradasi UV menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus2.0” dan “msRepeatFinder” (MSTips No. 422)
  • Analisis struktur polietilena tereftalat dengan kehabluran berbeza menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus 2.0” (MSTips No. 407)
  • Tamatkan analisis kumpulan poli(metil metakrilat) menggunakan MALDI-TOFMS dan GC-TOFMS (MSTips No. 404)
  • Analisis mPEG5K-Phosphate menggunakan JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus 2.0" (MSTips No. 402)
  • Penentuan Komposisi Unsur Kumpulan Akhir Polimer Menggunakan Jisim Tepat (MSTips No. 357)
  • Analisis struktur surfaktan anionik dalam mod ion negatif MALDI menggunakan "SpiralTOF™-plus" (MSTips No. 333)
  • Analisis polimetil metakrilat terdegradasi oleh penyinaran UV menggunakan resolusi tinggi MALDI-TOFMS dan pirolisis-GC-QMS (MSTips No. 324)
  • Analisis polistirena terdegradasi oleh penyinaran UV menggunakan resolusi tinggi MALDI-TOFMS dan pirolisis-GC-QMS (MSTips No. 322)
  • Analisis struktur polietilena tereftalat menggabungkan kaedah degradasi alkali pada plat dan spektrometri jisim masa penerbangan seiring (MSTips No. 311)
  • Plot KMD “Asas pecahan” untuk poliester poli(3-hidroksibutirat) berat molekul tinggi selepas degradasi alkali atas plat dan analisis SpiralTOF™ (MSTips No. 283)
  • Memvisualisasikan saluran pemecahan polietilena oksida dengan kumpulan hujung yang berbeza menggunakan JMS-S3000 SpiralTOF™ dengan pilihan TOF-TOF (MSTips No. 279)
  • Plot “Sisa KM” untuk polimer menggunakan msRepeatFinder: Paparan intuitif bagi Spektrum jisim tercetus akibat perlanggaran tenaga tinggi yang diperoleh oleh SpiralTOF™/TOF (MSTips No. 270)
  • Plot "Sisa KM" untuk polimer menggunakan msRepeatFinder: pemetaan komposisi pada julat jisim yang luas (MSTips No. 269)
  • Analisis polietilena berat molekul rendah dengan kaedah bebas pelarut menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™” (MSTips No. 235)
  • Analisis pelekat sianoakrilat menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™” ― Aplikasi analisis plot Kecacatan Jisim Kendrick ― (MSTips No. 220)
  • Pengukuran Piawaian Rujukan MS Dendritik
  • Analisis piawaian polistirena berat molekul tinggi dengan menggunakan JMS-S3000 SpiralTOF™ dengan pilihan Linear TOF (MSTips No. 199)
  • Pengukuran Polimer Sintetik [1]: Polistirena (MSTips No. 163)
  • Pengukuran Polimer Sintetik [2]: Polimetil Metakrilat (MSTips No. 164)
  • Pengukuran Polimer Sintetik [3]: Polietilena Glikol (MSTips No. 165)

Bahan Tambahan Polimer P109〜

  • Analisis struktur bahan tambahan polimer menggunakan spektrum jisim penceraian akibat perlanggaran bertenaga tinggi yang diperoleh oleh JMS-S3000 dengan pilihan TOF/TOF (MSTips No. 254)
  • MALDI untuk Analisis Polimer: Polimer dan Aditif Sintetik (MSTips No. 205)

Pengimejan Spektrometri Jisim P115〜

  • Analisis degradasi filem polietilena tereftalat oleh penyinaran UV menggunakan spektrometri jisim pengimejan dan mikroskop elektron pengimbasan (HS05)
  • Pengimejan spektrometri jisim untuk degradasi polietilena tereftalat melalui penyinaran UV menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” (MSTips No. 307)
  • Kaedah pengimejan spektrometri jisim untuk menggambarkan polimer sintetik digabungkan dengan analisis kecacatan jisim Kendrick (MSTips No. 306)
  • Kaedah pengimejan spektrometri jisim untuk menggambarkan polimer sintetik dengan menggunakan purata berat molekul dan polidispersi sebagai indeks. (MSTips No. 305)
  • Pengimejan spektrometri jisim pada substrat konduktif/bukan konduktif campuran menggunakan JMS-S3000 SpiralTOF™ (MSTips No. 288)
  • Analisis sebatian organik pada plat akrilik menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™” (MSTips No. 251)
  • Analisis Dakwat Ballpoint Menggunakan Pengimejan LDI dan Teknik SEM/EDS (MSTips No. 204)
  • Analisis Sisa Tembakan (GSR) dengan Menggunakan Pengimejan MALDI
  • Analisis Filem Nipis Organik melalui Kaedah Penyahjerapan/Pengionan Laser Menggunakan JMS-S3000 “SpiralTOF™” (Satoh, T., JEOL News, 49, 81-88, 2014)

Butiran perkakasan dan perisian P149〜

  • Pengimejan Spektrometri Jisim menggunakan Spektrometer Jisim Masa Penerbangan Pengionan Penyahjerapan Laser Berbantu Matriks JMS-S3000 “SpiralTOF™-plus” (Takaya Satoh, JEOL News, 55, 70-72, 2020)
  • Pembangunan JMS-S3000: MALDI-TOF/TOF Menggunakan Trajektori Ion Lingkaran (Takaya Satoh, JEOL News, 45, 34-37, 2010)
  • Pembangunan kaedah pengekstrakan puncak daripada spektrum jisim MALDI-TOF resolusi tinggi dengan pembelajaran mesin memfokuskan pada bentuk puncak, dan aplikasi untuk analisis polimer sintetik (MSTips No. 352)
  • Hubungan antara Keadaan Kristal dan Kuasa Penyelesaian Jisim, Ketepatan Jisim (MSTips No. 206)
  • MS Pengimejan MALDI Resolusi Jisim Tinggi - Kestabilan Kedudukan Puncak Tinggi semasa Pengukuran MS Pengimejan (MSTips No. 193)

Rumusan berdasarkan bidang

Lebih Banyak Produk

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Asas Instrumen JEOL

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.