Pemegang spesimen

Ini ialah penyesuai untuk pemegang spesimen standard siri JSM-F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan. Pemasangan serentak 3 spesimen berbeza pada penyesuai ini mengurangkan kekerapan pertukaran spesimen dan ia membolehkan kebolehkerjaan yang lebih baik.

Ciri

◇Penyesuai ini membenarkan pemasangan serentak untuk 3 daripada alas spesimen 12.5Φ.

◇ Dua skru set untuk setiap blok mengikatnya dari sisi.
◇ Celah kedalaman 4mm bagi setiap port membenarkan pinset untuk mengambil blok.
◇ Boleh laras untuk ketinggian spesimen:
Bermula dari -2mm hingga +4mm
（sebagai rujukan permukaan atas pemegang spesimen untuk blok ketinggian 10mm）

Langkah berjaga-jaga

• Dalam FESEM, ketinggian spesimen biasanya ditetapkan pada ketinggian permukaan atas pemegang spesimen untuk mengelakkan sentuhan kepada komponen dalam. Jika spesimen terkeluar daripada pemegang, sila ambil perhatian tentang tetapan dan operasi peranti. Berhati-hati dengan sentuhan kepada Pengesan Elektron Tersebar juga.

• Cincin pemegang standard perlu ditanggalkan daripada pemegang spesimen 32mmΦ untuk menetapkan penyesuai ini.

Penggunaan

1) Tanggalkan cincin.
2) Pasangkan alas pelekap spesimen pada penyesuai, dan tetapkan penyesuai kepada pemegang standard selepas melaraskan ketinggian penyesuai.

Contoh) Untuk JSM-6500F P/N：804410496

Saiz

Model yang berkenaan

JSM-6300F / 6301F / 6400F / 6401F / 6330F / 6335F / 6340F / 6500F / 6700F / 6701F
JSM-7000F / 7001F / 7100F / 7200F / 7400F / 7401F / 7500F / 7600F / 7610F / 7800F
Siri JXA

• Tersedia untuk model SEM selain daripada di atas, jika pemegang 32mmφ terdiri.

• Tidak disyorkan untuk siri JIB-4600F kerana beberapa masalah pada proses dipertimbangkan.

Susunan maklumat

lain-lain

Sila ambil perhatian bahawa pemegang 32mmΦ berbeza bergantung pada jenis peranti utama.