Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

JSX-3400RII Spektrometer Pendarfluor X-Ray Penyebaran Tenaga

DISCONTINUED

JSX-3400RII Spektrometer Pendarfluor X-Ray Penyebaran Tenaga

Spektrometer Pendarfluor X-ray dilengkapi dengan kepekaan tinggi, pengesan semikonduktor nitrogen cecair resolusi tinggi Si (Li)

Ciri-ciri

JSX-3400RII ialah instrumen XRF tujuan umum yang sangat baik tentang nisbah prestasi kos yang menggunakan pengesan jenis cecair-nitrogen.

JSX-3400RII menggunakan pengesan Si(Li) dengan kepekaan tinggi untuk unsur berat, sistem optik laluan pukulan pada masa lalu daripada mesin dan penapis khas.JSX-3400RⅡ boleh mengukur unsur surih pada masa yang singkat.

Resolusi pengesan JSX-3400RⅡ adalah tinggi sehingga dapat memisahkan puncak unsur cahaya seperti Mg, Al dan Si, sangat jelas.

Analisis kuantitatif dijalankan tanpa bahan piawai dan hanya menggunakan kaedah FP (kaedah parameter asas).

Oleh kerana kolimator 1 mmphi dilengkapi secara standard, ia boleh menganalisis juga memeriksa bahan asing seminit.

JSX-3400RII mempunyai ciri realistik sum-peak sebagai standard dan analisis kualitatif adalah mudah.
Jika perisian Pembuangan Sum-Puncak pilihan digunakan, kami akan meningkatkan ketepatan kaedah analisis kuantitatif dengan lebih lanjut.

Kaedah FP filem nipis boleh menganalisis ketebalan dan komposisi
setiap lapisan dalam filem nipis berbilang lapisan seperti penyaduran komposit, penyaduran aloi tanpa sampel rujukan.

spesifikasi

Julat elemen pengesanan Na kepada U
Penjana sinar-X 5 hingga 50kV 1mA 50W
Sasaran Rh
Saring pertukaran automatik empat kedudukan (termasuk terbuka)
Collimateror 1mm/3mm/7mm
Pengesan Pengesan semikonduktor Si(Li).
Cecair nitrogen 3L dewar, penggunaan 1L/hari
Saiz ruang sampel Diameter 300mm x 150mm (H)
Suasana dalam ruang sampel Udara (vakum: pilihan)
Komputer peribadi OS:Windows®7
Pencetak Warna Paparan Kristal Cecair
perisian Analisis RoHS : Analisis unsur plastik 5, Analisis unsur 5 bahan logam, Perisian pelaporan hasil analisis
Analisis umum: Kaedah FP pukal, Kaedah FP filem nipis Kaedah lengkung penentukuran
Perisian penyelenggaraan Perisian penentukuran Instrrumen, pemula JSX
Sampel yang disediakan Sampel penentukuran tenaga, Sampel semakan instrumen, Sampel standard keamatan
  • Notis:Windows ialah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara lain.

Maklumat lanjut

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.