JSX-3100RII Spektrometer Pendarfluor X-Ray Penyebaran Tenaga

Spektrometer Pendarfluor X-ray dilengkapi dengan kepekaan tinggi, pengesan semikonduktor Si (Li) bebas nitrogen cecair resolusi tinggi

Ciri-ciri

JSX-3100RII ialah spektrometer pendarfluor sinar-X (XRF) yang dilengkapi dengan pengesan Si(Li) bebas nitrogen cecair kepekaan tinggi, resolusi tinggi.
JSX-3100RII melengkapkan mesin penyejukan unik, yang menghilangkan nitrogen cecair untuk pengukuran.
JSX-3100RII melengkapkan sistem pemindahan semula untuk pengesan sinar-X, yang mencapai operasi stabil jangka panjang.
JSX-3100RII melengkapkan pengesan Si(Li) sensitif tinggi, sistem optik laluan pendek dan penapis khusus, yang membolehkannya mengukur unsur surih dalam masa yang singkat.
JSX-3100RII melengkapkan pengesan SI(Li) resolusi tinggi, yang membolehkannya memisahkan puncak unsur cahaya seperti Mg, Al dan Si dengan jelas.
Analisis kuantitatif boleh dijalankan tanpa sebarang bahan standard dengan kaedah FP (kaedah parameter asas)
JSX-3100RII melengkapkan kolimator diameter 1 mm dan kamera CCD sebagai standard, yang membolehkan penggunanya memerhati dan menganalisis sampel kecil seperti bahan asing.
JSX-3100RII melengkapkan fungsi petunjuk jumlah puncak sebagai standard, yang memudahkan penggunanya menjalankan analisis kualitatif.
Di samping itu, dengan Perisian Penyingkiran Sum-peak pilihan, ketepatan analisis kuantitatif boleh dipertingkatkan.
Kaedah Thin Film FP boleh menganalisis ketebalan dan komposisi setiap lapisan dalam sampel filem nipis berbilang lapisan seperti penyaduran komposit, dan penyaduran aloi tanpa sampel standard.
Kaedah FP Filem Nipis dilengkapi sebagai standard.

spesifikasi

• Notis:Windows ialah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara lain.

Maklumat lanjut