JEM-3100F 300 kV Mikroskop Elektron Pelepasan Medan
DISCONTINUED
JEM-3100F, mikroskop elektron analitik resolusi tinggi, boleh mencapai pengimejan resolusi sub-nanometer bagi struktur dan analisis skala nanometer bahan. Sistem optik elektron terkini mikroskop ini membolehkan kami memperoleh imej yang jelas dengan resolusi 0.1 nm dalam kedua-dua mod TEM dan STEM. JEM-3100F telah menambah baik kestabilan mekanikal dan elektrik, menyediakan pancaran elektron yang stabil walaupun untuk probe 0.14 nm. Ciri-ciri ini menjadikan JEM-3100F sebagai alat penyelidikan yang berkuasa untuk menganalisis bahan pada tahap atom.
Ciri-ciri
Pistol pelepasan medan (FEG)
Peningkatan kecerahan probe elektron pada spesimen membawa peningkatan nisbah S/N dalam analisis kawasan nano dan imej yang diperhatikan. FEG, yang digunakan untuk JEM-3100F, memberikan kira-kira 2 pesanan kecerahan lebih tinggi daripada dengan LaB6 pistol elektron. Dengan FEG, kontras imej resolusi tinggi juga dipertingkatkan kerana ia memberikan pencahayaan yang sangat koheren dengan sebaran tenaga yang sempit. Selain itu, holografi elektron yang memerlukan pencahayaan yang sangat koheren tersedia untuk mikroskop ini dengan peralatan bi-prisma elektron pilihan.
Kanta objektif-kondenser*1
Untuk mengurangkan diameter probe, pekali aberasi kecil untuk kanta objektif pencahayaan diperlukan. Kanta objektif-kondenser, menyediakan fungsi kanta pemeluwap dan kanta objektif, boleh menjadikan pekali aberasi menjadi kecil. JEM-3100F menggunakan kanta objektif pemeluwap yang baru dibangunkan sebagai kanta objektifnya. Lensa objektif ini*2, selain menawarkan penyimpangan sfera dan kromatik tahap terbaik dunia, masing-masing 0.6 mm dan 1.3 mm, direka bentuk dengan pertimbangan penuh diberikan kepada susunan optimum jari sejuk antikontaminasi dan pengesan EDS. Akibatnya, analisis unsur dan pembelauan elektron bagi kawasan nanometer spesimen boleh dilakukan dengan probe diameter 0.4 nm dengan pemerhatian resolusi ultratinggi serentak.
Untuk konfigurasi UHR dan HR
Untuk konfigurasi UHR
Goniometer masuk sisi jenis kawalan baharu
JEM-3100F menggunakan goniometer masuk sisi dengan kawalan motor servo yang baru diterima pakai, meningkatkan kebolehkendalian peringkat spesimen lebih daripada sebelumnya. Selain itu, memandangkan mikroskop menyediakan mekanisme pemacu piezo sebagai standard, kebolehkendalian menggerakkan medan pandangan pada pembesaran tinggi, bertambah baik secara drastik, apabila pengguna beralih kepada pemacu piezo. Selain itu, peranti kawalan bebas hanyut yang menggunakan pemacu piezo tersedia sebagai lampiran pilihan. Tambahan pula, penutup kedap udara (Clam Shell) yang melindungi goniometer meningkatkan rintangan terhadap bunyi bising dan variasi tekanan atmosfera.
Sistem pemilihan pancaran pantas
JEM-3100F menyediakan pelbagai keadaan kanta pencahayaan. Mereka dibahagikan kepada empat mod pencahayaan berikut:
Mod TEM: Untuk pemerhatian imej TEM
Mod EDS: Untuk analisis elemen
Mod NBD: Untuk pembelauan dari kawasan nanometer
Mod CBD: Untuk pembelauan elektron rasuk konvergen
Mod pencahayaan optimum boleh dipilih untuk tujuan pengguna dengan satu sentuhan butang. Semasa memerhati imej TEM, mikroprob yang dikehendaki boleh diperolehi dengan operasi butang mudah untuk melakukan analisis kawasan mikro yang tepat.
spesifikasi
| konfigurasi※ 1 | Resolusi ultratinggi（UHR） | Resolusi tinggi（HR） | Kontras tinggi（HC） |
|---|---|---|---|
| Resolusi | |||
| Imej zarah TEM | 0.17 nm | 0.19 nm | 0.26 nm |
| Imej kekisi TEM | 0.1 nm | 0.1 nm | 0.14 nm |
| Imej medan terang STEM※ 2 | 0.14 nm | 0.14 nm | - |
| Imej medan gelap STEM※ 3 | 0.14 nm | 0.14 nm | - |
| Mempercepatkan voltan | 300 kV, 200 kV, 100 kV※ 4 | ||
| Langkah minimum | 100 V | ||
| Sumber elektron | |||
| Pemancar | ZrO/W(100) Schottky | ||
| Kecerahan | 7 × 108A/cm2･sr atau lebih | ||
| Vakum | hingga 3 × 10-8 Pa | ||
| Arus siasatan | 0.5 nA atau lebih pada diameter probe 1 nm | ||
| Kestabilan bekalan kuasa | |||
| Mempercepatkan voltan | 2 × 10-6／min | ||
| Arus kanta objektif | 1 × 10-6／min | ||
| Parameter optik untuk kanta objektif | |||
| Panjang fokus | 2.7 mm | 3.0 mm | 3.9 mm |
| Pekali aberasi sfera | 0.6 mm | 1.1 mm | 3.2 mm |
| Pekali aberasi kromatik | 1.5 mm | 1.8 mm | 3.0 mm |
| Panjang fokus pembolehubah minimum | 1.0 nm | 1.4 nm | 4.1 nm |
| Saiz titik (pemilih α) dalam nmφ | |||
| Mod TEM | 2 hingga 5(3) | 7 hingga 30(-) | |
| mod EDS | 0.4 hingga 1.6(5) | 4 hingga 20(-) | |
| Mod NBD | 0.4 hingga 1.6(5) | - | |
| Mod CBD | 0.4 hingga 1.6(8) | - | |
| Pembelauan elektron penumpuan | |||
| Sudut penumpuan(2α) | 1.5 hingga 20 mrad atau lebih | - | |
| Sudut penerimaan (separuh sudut) | 10 ° | - | |
| Pembesaran | |||
| MAG | ×4,000 hingga 1,500,000 | ×3,000 hingga 1,000,000 | |
| MAG RENDAH | ×60 hingga 15,000 | ||
| SA MAG | ×10,000 hingga 500,000 | ×6,000 hingga 300,000 | |
| Panjang kamera pembelauan | |||
| Pembelauan kawasan terpilih (mm) | 12 untuk 200 | 200 untuk 3000 | |
| Belauan serakan tinggi (m) | 4 untuk 80 | 4 hingga 80 | |
| ruang spesimen※ 5 | |||
| Julat perjalanan spesimen (XY / Z) (Mm) |
X,Y : 2 Z : 0.2 |
X,Y : 2 Z : 0.4 |
X,Y : 2 Z : 0.4 |
| Sudut kecondongan spesimen(X / Y) | ±25°／±25° | ±35°／±30° | ±38°／±30° |
| EDS※ 6 | |||
| Sudut pepejal | 0.13 sr | 0.09 sr | |
| Sudut berlepas | 25 ° | 20 ° | |
Nyatakan sama ada konfigurasi (UHR, HR atau HC) apabila memesan JEM-3100F.
Untuk memerhati imej STEM, peranti pemerhatian imej pengimbasan pilihan diperlukan.
Untuk memerhati imej medan gelap STEM, peranti pemerhatian imej medan gelap pilihan diperlukan.
Untuk melihat imej pada 100 kV dan 200 kV, suis pintas elektrod pilihan diperlukan.
Nilai yang disenaraikan adalah untuk kes apabila menggunakan Pemegang condong spesimen.
EDS pilihan diperlukan. Prestasi yang disenaraikan adalah untuk 30 mm2.
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.