Scanning Probe Microscope (SPM) ialah mikroskop serba boleh yang mengimbas permukaan sampel dengan probe yang sangat halus dan menggambarkan bentuk topografi dan sifat fizikal permukaan. Dengan perkembangan terkini dalam nanoteknologi, SPM telah digunakan secara meluas dalam pelbagai bidang.
Ciri-ciri
Fungsi carian snap
Surface Topographic Observer (STO)※, teknik berdasarkan teori kawalan moden, membolehkan pengimejan kelajuan imbasan tinggi dengan herotan minimum imej topografi berbanding dengan teknik konvensional.
Cantilever yang tersedia secara komersial boleh digunakan (tidak memerlukan cantilever khusus)
Contoh pemerhatian parut
Imbas dengan kawalan PID konvensional
Imej topografi 50 Hz scana
Bentuk yang tepat tidak diperolehi.
Imbas dengan kaedah kawalan STO
Imej topografi imbasan 50 Hz
(STO ialah teknik yang dibangunkan di Universiti Kebangsaan Yokohama)
Revolusi pengawal dan perisian
Penguat voltan tinggi yang dibangunkan oleh JEOL memungkinkan untuk mendapatkan imej dengan nisbah S/N yang tinggi. Selain itu, perisian ini lebih mudah digunakan dengan butang ikon yang dilabel secara optimum.
SPM alam sekitar
SPM ini menyokong pengimejan dalam pelbagai persekitaran seperti udara, bendalir, vakum, atmosfera terkawal (gas diperkenalkan) dan pemanasan/penyejukan sampel.
Walaupun apabila aksesori pilihan dipasang, operasi di udara adalah mudah, oleh itu sesuai untuk pemula hingga pakar.
Mod Bukan Kenalan kawalan digital sesuai untuk pengimejan sampel lembut
JSPM-5410 termasuk mod Bukan Kenalan yang dipertingkatkan untuk kawalan digital yang menggunakan kaedah pengesanan FM amplitud pengujaan berterusan. Kawalan keuntungan automatik (AGC) baharu diperbadankan yang memanjangkan mod Bukan Kenalan untuk pengimejan pelesapan.
JSPM-5410 adalah satu-satunya SPM yang didatangkan standard dengan mod Bukan Kenalan.
spesifikasi
| Resolusi | Dalam permukaan: 0.1 nm, Arah menegak: 0.02 nm AFM : Resolusi atom (mika dengan mod kenalan) STM : Peleraian atom (imej atom HOPG) |
|---|---|
| Mod pengukuran | AFM: Mod NC (pengesanan frekuensi) Imej topografi, Imej anjakan frekuensi, Imej pelesapan (Pilihan: SKPM, MFM, EFM ) Mod AC (pengesanan amplitud) Imej topografi, Imej fasa, Imej amplitud (Pilihan: VE-AFM, SKPM, MFM, EFM) Mod kenalan Imej topografi, Imej paksa, Imej semasa kenalan, FFM (Pilihan: VE-AFM, LM-FFM, PFM, SCFM, UAFM) STM : Imej topografi, Imej semasa Spektroskopi : Lengkung daya, Lengkung daya geseran, IV, SV, IS, SI, pemetaan SPS |
| Julat imbasan menggunakan pengimbas standard | XY : 0 hingga 20 μm (resolusi: 16 bit 3DAC, bersamaan dengan 21bit) Z : 0 hingga 3 μm (resolusi: 22 bit) Apabila pengimbas tiub digunakan (boleh ditukar) Bilangan piksel : Sehingga 2048 × 2048 Imbasan segi empat tepat, Langkau imbasan, Penjejakan auto kuar, Kawalan imbasan tanpa kerosakan, Pendekatan kelajuan tinggi Keselamatan |
| Saiz sampel | Sehingga 50 mm × 50 mm × 5 mm (T) Standard: 10 mm × 10 mm × 3 mm (T) |
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.