Mikroskop Probe Pengimbasan JSPM-5400

JSPM-5400 dilengkapi dengan mod pengukuran serba boleh.
Penambahan pilihan untuk setiap mod pengukuran memanjangkan keupayaan pengukuran.

Ciri-ciri

AFM Bukan Kenalan Baharu

Smple, Cepat, Keselamatan

Pendekatan keselamatan berkelajuan tinggi
Kawalan imbasan tanpa kerosakan
Kedudukan mudah
Operasi keselamatan dengan masa yang dipendekkan sehingga proses pemerhatian

halus

Pengimejan resolusi tinggi tanpa kerosakan menggunakan Non-Contact AFM

Kawalan Alam Sekitar

Pemerhatian stabil bagi sampel yang dipanaskan/disejukkan dalam vakum tinggi

Mod Pengukuran Serbaguna

JSPM-5400 dilengkapi dengan mod pengukuran serba boleh. Penambahan pilihan untuk setiap mod pengukuran memanjangkan keupayaan pengukuran.

Pendekatan keselamatan berkelajuan tinggi

Menggunakan pendekatan dua langkah (pendekatan berkelajuan tinggi dan halus: paten dipohon), julur boleh mendekati sampel dengan pantas tanpa kerosakan.
Memandangkan pendekatan berkelajuan tinggi boleh dilakukan tanpa perlanggaran, kaedah ini berkesan untuk sampel yang menyerakkan lampu dengan tinggi dan sampel telus, yang sukar untuk memberikan jarak antara permukaannya dan julur.

Pendekatan keselamatan berkelajuan tinggi mengesan graviti lemah, yang bertindak sebagai graviti jarak jauh, jauh dari sampel. Cantilever boleh mendekati sampel pada kelajuan tinggi (sehingga 50 m/s) sehingga graviti lemah dikesan. Selepas pendekatan berkelajuan tinggi tamat, pendekatan halus dilakukan manakala jarak antara julur dan sampel dikawal.M Pendekatan kelajuan tinggi keselamatan tamat dalam masa yang singkat, membolehkan seseorang memulakan pendekatan halus tanpa perlu risau tentang jarak antara sampel dan julur.

Kedudukan yang pantas dan mudah

Fungsi skip-scan, yang digabungkan dalam JSPM-5400 sebagai konfigurasi standard, memendekkan masa pengukuran kerana bilangan piksel untuk imej boleh dikurangkan.

Kawalan imbasan tanpa kerosakan

Kawalan imbasan tanpa kerosakan digunakan untuk mengendalikan probe dalam kawasan terhad (L dalam imej atas) berkenaan dengan permukaan standard (titik A dalam imej atas). Apabila memerhati tepi keratan rentas, anda boleh mengimbas probe dengan selamat tanpa perlanggaran antara puncak julur dan tepi.
Memandangkan fungsi yang memperbaharui ketinggian standard secara automatik digabungkan, JSPM-5400 secara automatik boleh menetapkan titik standard ke arah atas bahagian cekung walaupun untuk sampel dengan lekuk curam (paten dipohon).
Fungsi ini membolehkan pengukuran sampel genap dengan bentuk topografi yang tidak diketahui, tanpa kerosakan.
Memandangkan kawalan imbasan tanpa kerosakan sangat berkesan untuk mengukur berhampiran tepi, fungsi ini berguna untuk pengimejan keratan rentas yang dicipta oleh peranti penyediaan keratan rentas, CP (Cross Section Polisher®). (Lihat rajah di bawah.)

Penjejakan auto kuar

Fungsi ini secara automatik membetulkan hanyutan menegak yang disebabkan oleh pengembangan haba dan pengecutan sampel semasa pemerhatian pemanasan/penyejukan, menghalang puncak probe daripada menghubungi atau menjauhi permukaan sampel dalam tempoh yang lama. Pengimejan berterusan di bawah variasi suhu (lihat imej bawah dalam halaman 3) menggunakan fungsi ini.
(Untuk memanaskan dan menyejukkan sampel, aksesori tambahan diperlukan.)

Kawalan alam sekitar yang sangat baik

Penambahbaikan drastik struktur ketua SPM meningkatkan kualiti vakum. Menggunakan sistem perangkap sejuk pilihan, tekanan vakum mencapai susunan 10-6 Pa. Oleh itu, penjerapan gas pada sampel boleh dikurangkan kepada jumlah minimum, mengekalkan permukaan sampel yang bersih.
Adalah mungkin untuk menjajarkan paksi optik lampu laser kepada julur dan pengesan foto untuk sistem pengesanan SPM yang diletakkan di dalam vakum, walaupun dari luar vakum.
Dengan melampirkan sistem pemindahan vakum dan mekanisme pertukaran sampel airlock, anda boleh menukar sampel sambil mengekalkan vakum, dan juga boleh memendekkan masa dari tetapan sampel kepada pemerhatian.

spesifikasi

Maklumat lanjut