JSM-IT710HR
Mikroskop Elektron Mengimbas

Keterlihatan yang jelas menggalakkan penemuan baharu

Pada masa kini, bukan sahaja resolusi dan prestasi analisis pada susunan nanometer, tetapi juga pemprosesan dalam pemerolehan data dianggap penting. JSM-IT710HR yang baru dilahirkan ialah model generasi keempat siri HR* JEOL, yang berdasarkan tema "SEM yang membolehkan sesiapa sahaja mengambil imej resolusi tinggi dengan mudah.
JSM-IT710HR membuatkan pengguna ingin mengejar melebihi apa yang telah dilihat, disebabkan kemudahan operasi dengan fungsi automatik yang dipertingkatkan dan prestasi pemerhatian yang lebih baik daripada pengesan baharu.

*HR=Resolusi Tinggi

Ciri-ciri

Video produk

Saya boleh melihatnya, Saya mahu melihatnya lebih lanjut

1. Imej SEM boleh dilihat bersama-sama dengan imej optik.

Spesimen: ihsan ZOO Hino Tonton (Zoo Hamura)

2. Imej dilihat lebih baik kerana pistol elektron resolusi tinggi.

Saya boleh melihatnya, Saya mahu melihatnya lebih lanjut

Pengurangan caj

Vakum rendah

pemerhatian 3D

Pengesan berbilang segmen

Maklumat unsur

EDS^※

Analisis struktur kristal

EBSD^※

※pilihan

Pengurangan caj
Spesimen: Ihsan Prof. Tetsuro Asakura, Jabatan Bioteknologi dan Sains Hayat, Universiti Pertanian dan Teknologi Tokyo

Analisis struktur kristal
Spesimen: Ihsan Prof. Kaneaki Tsuzaki, Institut Sains Bahan Kebangsaan (NIMS)

Fungsi baru

Pemerhatian Automatik： SEM/EDS Mudah

Fungsi SEM mudah membolehkan pengukuran automatik dengan mendaftarkan berbilang keadaan sekaligus. Mudah
Ini meningkatkan kecekapan kerja rutin.

3D Langsung: membina imej 3D di tempat kejadian

Pengesan elektron berselerak belakang berbilang segmen baharu memperoleh imej elektron berselerak belakang dari empat arah sekaligus supaya imej 3D mudah boleh dibuat dan dipaparkan secara langsung, dalam masa nyata.

Imej yang diperoleh menggunakan pengesan Kuadran

Spesimen: Permukaan patah plastik

Imej 3D langsung

Pengesan Elektron Menengah Hibrid Vakum Rendah (LHSE) Baharu ※Fungsi pilihan

LHSED, pengesan vakum rendah baharu, membolehkan pemerhatian sambil bertukar antara imej yang mengandungi maklumat pelepasan cahaya dan imej topografi.

Ciri-ciri LHSED

• Kualiti imej langsung elektron sekunder vakum rendah yang dipertingkatkan
• Pemerolehan maklumat pelepasan cahaya
• Bertukar antara imej maklumat topografi dan pelepasan cahaya

Kestabilan senapang elektron Schottky FE telah dipertingkatkan lebih daripada 4 kali ganda berbanding model sebelumnya

Pelarasan Rasuk Automatik

JSM-IT710HR tidak memerlukan pelarasan manual yang rumit dan menyediakan pelarasan automatik daripada penjajaran paksi kepada pembetulan dan pemfokusan astigmatisme.

Sistem Pengesanan Elektron Sekunder

Pengesan elektron sekunder
(SED)

Spesimen: Bulu burung merak^*
*Imej spesimen: Ihsan dari Zoo Hinotonton (Zoo Hamura)

Pengesan elektron sekunder vakum rendah
(LVSED/LHSED)

Spesimen: mikrofiber selulosa

Kedua-dua Resolusi Tinggi dan Arus Besar

Pistol pelepasan medan Schottky yang digunakan dalam JSM-IT710HR membolehkan pemerhatian dan analisis resolusi tinggi kerana pistol elektron disepadukan dengan kanta pemeluwap untuk mencipta arus besar sambil mengekalkan probe kecil.

Sistem Pengesanan Elektron Terserak Belakang

Pengesan elektron berselerak belakang berbilang segmen baharu memperoleh imej elektron berselerak belakang dari empat arah sekaligus supaya imej 3D mudah boleh dibuat dan dipaparkan secara langsung, dalam masa nyata.

Setiap Analisis Bermula dengan Zeromag　

Imej optik Zeromag memudahkan navigasi.
Imej SEM boleh dipautkan kepada imej optik untuk pemerhatian, analisis dan pengukuran automatik yang mudah.

Integrasi EDS

JEOL mengeluarkan dan menjual bukan sahaja SEM tetapi juga EDS.
EDS terbenam sepenuhnya dengan SEM untuk aliran kerja, operasi dan pengurusan data yang dipermudahkan.

Analisis Fasa

Sistem EDS JEOL menyokong fungsi analisis fasa baharu. Peta fasa boleh dibuat daripada set data peta.

Imej elektron berselerak belakang

Pemetaan fasa (Tindanan berbilang fasa)

Spesimen: keratan rentas alat pemotong untuk pemesinan ketepatan

Analisis fasa menunjukkan perbezaan komponen antara kawasan kaya Co, Cu dan Sn.

Co kawasan: 68.15%

CuSn (CuRich) kawasan: 16.25%

CuSn (SnRich) kawasan: 14.54%

spesifikasi

Sila rujuk katalog produk kami. 

Muat turun Katalog

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT710HR

Kesesuaian

Peranti Elektronik

Ciri JSM-IT710HR yang boleh digunakan: penyelesaian r tinggi, kontras tinggi, cerapan ea lebar

LED

Pemerhatian jelas nanovoid pada antara muka simpang peranti elektronik

Spesimen: Keratan rentas LED disediakan menggunakan CP*
Pembesaran: ×250 (atas), ×1,000 (kiri bawah), ×40,000 (kanan bawah)
Voltan pecutan: 5 kV

*CP: CROSS SECTION POLISHER™

Corak pendawaian

Menggunakan fungsi vakum rendah untuk memerhati kawasan luas permukaan corak pendawaian

Spesimen: permukaan corak pendawaian, pembesaran: ×200 (kiri), ×300 (kanan), tekanan vakum: 70 Pa, voltan pecutan: 15 kV

SRAM

Peta EDS resolusi tinggi

Spesimen: Keratan rentas SRAM disediakan menggunakan CP
Pembesaran: ×10,000 (atas), ×50,000 (bawah)
Voltan pecutan: 5 kV (SEM), 7 kV (EDS)

Imej elektron berselerak belakang

Peta EDS

Alas ikatan Al

Dengan memperoleh kedua-dua imej elektron sekunder vakum rendah dan imej elektron berselerak belakang pada masa yang sama, maklumat topografi dan maklumat komposisi bagi kawasan permukaan spesimen yang luas boleh diperolehi.

Imej elektron sekunder vakum rendah

Imej elektron serakan belakang vakum rendah

Spesimen: permukaan pad ikatan, pembesaran: ×100, tekanan vakum: 70 Pa, voltan pecutan: 15 kV

Steel

Ciri terpakai JSM-IT710HR: sistem optik sesuai untuk analisis EBSD (senjata pelepasan medan Schottky dan kanta objektif kanta luar)

Tenaga dan Seramik

Ciri yang boleh digunakan JSM-IT710HR: keupayaan analisis dan fungsi vakum rendah

Substrat sel suria perovskite

Analisis ketepatan tinggi lapisan skala nano dalam substrat sel suria

Substrat seramik (Si₃N₄)

Fungsi vakum rendah membolehkan analisis unsur spesimen bukan konduktif.

Imej elektron serakan belakang vakum rendah

Peta unsur vakum rendah

Voltan pecutan: 5 kV, pemetaan unsur vakum rendah (30 Pa), Permukaan giling mesin Si₃N₄ substrat*
* Kemasan permukaan: pengilangan ion argon planar selepas pengilangan mesin

Bahan Lembut dan Sains Hayat

Ciri yang boleh digunakan bagi JSM-IT710HR: voltan pecutan rendah, fungsi vakum rendah dan pemerhatian pembesaran ultra rendah

Resin ABS

Malah berbilang imej yang diperhatikan pada pembesaran puluhan ribu boleh diperoleh dengan ketepatan tinggi dan kecerahan yang stabil.

Gelatin

Imej elektron sekunder kecerahan tinggi, resolusi tinggi

Kapal buatan

Memerhati spesimen biologi pada kaca slaid dari pembesaran rendah ke tinggi

Produk Berkaitan

Mengimbas Mikroskop Elektron (SEM)

Peralatan Penyediaan Spesimen (CP)

Maklumat lanjut