JSM-IT210
Mikroskop Elektron Mengimbas

Mudah untuk memperoleh data untuk semua jenis spesimen

JSM-210 ialah mikroskop elektron pengimbasan pegun paling padat JEOL.
Peringkat yang baru dibangunkan adalah dipacu motor untuk semua lima paksi pergerakan, menjadikannya lebih selamat dan lebih pantas untuk digunakan.
Di samping itu, "Simple SEM" yang baru dilengkapi secara automatik memperoleh pemerhatian dan analisis dengan hanya memilih medan pandangan. JSM-IT210 ialah SEM generasi baharu yang padat dan boleh dikendalikan tanpa pengawasan.

Ciri-ciri

Panduan daripada pertukaran spesimen kepada pemerhatian automatik "Navi Pertukaran Spesimen"

1. Ikuti Navi untuk menetapkan spesimen

2. Bersedia untuk pemerhatian semasa pemindahan

3. Mulakan pemerhatian secara automatik

*1 Sistem navigasi pentas (SNS) adalah pilihan.
*2 SNSLS adalah pilihan. Ia boleh digunakan dengan SNS secara serentak.
*3 Skop ruang (CS) adalah pilihan.

Besarkan imej optik, peralihan kepada imej SEM "Zeromag"

Fungsi Zeromag memudahkan navigasi menyediakan peralihan yang lancar daripada imej optik* kepada SEM.
SEM, imej optik dan grafik pemegang semuanya dipautkan untuk paparan global lokasi analisis.

* Sistem navigasi pentas (SNS, pilihan) diperlukan untuk menangkap imej optik.

EDS terbenam untuk komposisi unsur Masa Nyata semasa pemerhatian* "Analisis Langsung"

Analisis Langsung ialah fungsi yang memaparkan spektrum EDS atau peta elemen dalam Masa Nyata semasa pemerhatian imej. Fungsi ini boleh menyokong carian dan memberikan amaran untuk elemen sasaran.

*Model A (Analisis) atau LA (Low Vacuum & Analysis) diperlukan.

Automasi untuk produktiviti yang dipertingkatkan "Simple SEM"

SEM ringkas mengautomasikan pengumpulan imej di pelbagai lokasi, keadaan dan pembesaran.

Alat untuk kelajuan

Peringkat dengan ketepatan kedudukan tinggi. Memindahkan kedudukan analisis dengan ketepatan.

Standard 60 mm² diameter besar EDS*
Untuk analisis pantas*

Analisis pantas

60 mm²  saiz sensor EDS yang dilengkapi sebagai standard dengan JSM-IT210 boleh memperoleh kualiti yang sama dalam masa yang lebih singkat berbanding dengan pengesan kawasan yang lebih kecil. Analisis berbilang titik juga boleh dilakukan dengan lebih cekap.

Permohonan untuk spesimen sensitif haba

Pengesan EDS kawasan kecil memerlukan arus yang besar untuk analisis. Spesimen sensitif haba rosak akibat penyinaran rasuk, yang memberi kesan negatif pada peta unsur.

60 mm² EDS mengumpul peta elemen dengan arus probe yang lebih rendah.
 Ini membolehkan analisis pantas sambil meminimumkan kerosakan yang disebabkan oleh haba.

Peta unsur yang cepat dan jelas

60 mm² EDS mengumpul peta unsur yang jelas walaupun dengan pengukuran satu minit.

Spesimen: meteorit pallasit
Voltan pecutan: 15 kV
Masa pengukuran: 1 minit

* EDS ini serasi dengan model LV (Low Vacuum) dan LA (Low Vacuum & Analysis).

spesifikasi

Sila rujuk katalog produk kami. 

Muat turun Katalog

Mikroskop Elektron Pengimbasan JSM-IT210

Produk Berkaitan

Mengimbas Mikroskop Elektron (SEM)

Peralatan Penyediaan Spesimen (CP)

Maklumat lanjut