Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT100
DISCONTINUED
Ciri-ciri
JSM-IT100, dilengkapi dengan teknologi JEOL SEM selama 50 tahun, adalah mikroskop elektron pengimbasan yang padat dan serba boleh.
Kemudahan penggunaan ialah ciri utama siri InTouchScope™ kami yang berjaya sambil mengekalkan kepelbagaian dan kebolehkembangan yang diharapkan daripada SEM gred penyelidikan. SEM all-in-one ini digunakan dalam pelbagai bidang, seperti bioteknologi dan nanoteknologi, meliputi pelbagai aplikasi, daripada pembangunan bahan, ujian, penilaian, dan analisis kecacatan kepada kawalan kualiti, dsb.
Dengan model tertanam EDS, sistem perisian yang mudah digunakan membolehkan penyepaduan lancar pemerhatian, analisis unsur dan penjanaan laporan.
Siri InTouchScope™ telah menjadi pilihan pelanggan di seluruh dunia sejak dikeluarkan pada 2010, dengan jumlah bilangan unit yang dihantar melebihi 1,000 sebelum ini.
Kebolehkendalian Unggul
Panel Sentuh membolehkan operasi yang selesa dan intuitif.
Operasi dengan panel operasi* dan tetikus juga dibenarkan, sekali gus memanjangkan pemilihan operasi mengikut tujuan pengguna.
Antara muka perisian yang mudah digunakan membolehkan pengguna yang tidak berpengalaman untuk menyelesaikan sebarang tugas dengan kecekapan tinggi
JSM-IT100 menggabungkan GUI yang menyepadukan sepenuhnya pemerhatian kepada analisis elemen dalam satu tetingkap manakala pensuisan SEM/EDS boleh dibuat dengan tetapan satu klik. Antara muka perisian yang mudah digunakan ini membolehkan pengguna yang tidak berpengalaman untuk menyelesaikan sebarang tugas dengan kecekapan tinggi.
Lakukan pertukaran spesimen dengan lancar dengan menekan butang seperti yang ditunjukkan oleh navigasi pertukaran spesimen.
Apabila peringkat pemanduan motor* dan sistem navigasi pentas* dipasang, adalah mungkin untuk mencari kawasan yang menarik dengan rasa mengendalikan mikroskop optik.
Pemasangan panduan EDS memastikan analisis boleh dilakukan tanpa sebarang keraguan.
SEM all-in-one baharu boleh dilengkapi dengan pilihan yang sama seperti instrumen mewah
Selain mod vakum rendah, bahan bukan konduktif tanpa sebarang pra-rawatan boleh menjadi pengimejan dan analisis.
Sebagai tambahan kepada pemerhatian vakum rendah dan analisis elemen, JSM-IT100 memuatkan peringkat pemacu motor 5 paksi.* Pilihan untuk memanjangkan voltan pecutan sehingga 30 kV juga tersedia*
Fungsi EDS yang diperluaskan kini disertakan seperti: analisis kawasan dan imbasan garisan
JSM-IT100 dilengkapi dengan EDS buatan JEOL dan mencapai GUI bersepadu sepenuhnya yang membolehkan penukaran SEM/EDS dalam satu tetingkap.
Fungsi EDS dalam siri InTouchScope™ yang memenangi anugerah diperkukuh lagi dengan menambahkan analisis kawasan separa, analisis imbasan garisan dan fungsi penapis pemetaan.
Penjimatan ruang dan pemasangan mudah
JSM-IT100 mempunyai jejak 30% lebih kecil daripada pendahulu kami, hanya memerlukan ruang yang sama dengan mikroskop elektron pengimbasan atas bangku.
Salur keluar kuasa 100V mencukupi untuk pemasangan dan tiada air penyejuk diperlukan, yang meningkatkan kelenturan dengan ketara di tapak pemasangan.
Lebih Baik
spesifikasi
| Resolusi | Mod HV: 3 nm(30 kV *1) 4 nm(20 kV)、8 nm(3 kV) 15 nm(1 kV)
Mod LV*2: 4 nm(30 kV *1) 5 nm(20kV) |
|---|---|
| Pembesaran | x5 hingga x300,000 （pada saiz imej 128 mm hingga 96 mm） |
| Julat tetapan tekanan vakum rendah *2 | 10 hingga 100 Pa |
| Voltan Mempercepat | 0.5 kV untuk 30 kV *1 (53 langkah)
0.5 kV hingga 20 kV (43 langkah) |
| Filamen | Filamen jepit rambut tungsten pra-pusat kilang |
| Pistol elektron | Pelarasan automatik / Manual tersedia |
| Kanta pemeluwap | Kanta pemeluwap zum berketepatan tinggi |
| Kanta objektif | Kanta kon |
| Bukaan kanta objektif | 1 langkah, pelarasan halus sepanjang X dan Y |
| Ingatan astigmatisme | Boleh didapati |
| Tahap spesimen | Peringkat eusentrik
X : 80 mm Y : 40 mm Z : 5 mm hingga 48 mm Condongkan: -10° hingga + 90°, Putaran: 360° |
| Saiz spesimen maksimum | 150 mm dia. |
| Fail gambar | BMP, TIFF, JPEG |
| fungsi EDS*3 | Analisis spektrum, Analisis kualitatif/kuantitatif, Analisis garis mendatar, Analisis berbilang titik, Analisis peta elemen, Penjejakan Probe |
| Resipi Standard | Boleh didapati |
| Resipi Tersuai | Sistem EOS, koordinat peringkat, mod vakum, dsb |
| Fungsi automatik | Auto-filamen dan penjajaran, ACB, AF, AS, Nada aktif |
| Sistem pemindahan | Automatik sepenuhnya, TMP : 1 RP : 1 |
Pilihan utama
Kit Sambungan Voltan Mempercepatkan ( AEK )
Pengesan Elektron Sekunder Vakum Rendah
Sistem Navigasi Peringkat*4
Skop Dewan
Panel Operasi
Bukaan Alih (3 langkah)
Peringkat Pemacu Motor (XY, XYZ, XYR, 5 paksi)
Pengesan Drift Silikon (10mm, 30mm, 60mm, 100mm)
Perisian Imej Tiga Dimensi (Penglihatan 3D)
Jadual (W: 800mm D: 800mm)
Kit Sambungan Voltan Mempercepatkan diperlukan
Kit Vakum Rendah diperlukan
Stabdard untuk JSM-IT100 (A)/(LA)
Peringkat pemacu motor diperlukan
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.