Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan JSM-7700F
DISCONTINUED
Ciri-ciri
JSM-7700F adalah satu-satunya penyimpangan (Cs dan Cc) SEM yang diperbetulkan di pasaran. JSM-7700F juga menawarkan resolusi 0.6nm yang belum pernah terjadi sebelumnya pada 5kV, dan secara dramatik memanjangkan resolusi berguna teknologi SEM untuk pembangunan peranti pada skala nanometer. Ia dioptimumkan untuk operasi kV rendah yang penting dalam analisis keratan rentas peranti semikonduktor. Menggunakan JSM-7700F, pengendali SEM boleh dengan jelas menggambarkan pemendapan oksida dan nitrida dan menyiasat ciri peranti kompleks dengan metrologi. SEM menampilkan teknologi pengesan elektron bertaburan belakang "dalam-lensa" JEOL yang dipatenkan dan peringkat goniometer yang dikawal Piezo, berbilang sampel untuk pergerakan peringkat yang tepat dan stabil pada tahap nanometer."
Kesesuaian
Permohonan JSM-7700F
Elektron Serak Belakang Sudut Tinggi dan Elektron Serak Belakang Sudut Rendah
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.