JSM-7610F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky
DISCONTINUED
JSM-7610F ialah Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky resolusi ultra tinggi yang mempunyai kanta objektif separa dalam kanta. Optik kuasa tinggi boleh memberikan pemprosesan tinggi dan analisis prestasi tinggi. Ia juga sesuai untuk analisis resolusi spatial tinggi. Tambahan pula, mod Gentle Beam boleh mengurangkan penembusan elektron kejadian ke spesimen, membolehkan anda memerhati permukaan paling atasnya dengan menggunakan beberapa ratus tenaga pendaratan.
Ciri-ciri
Pengimejan resolusi tinggi dan analisis prestasi tinggi oleh kanta objektif separa dalam kanta
JSM-7610F menggabungkan dua teknologi terbukti - lajur elektron dengan kanta objektif separuh dalam kanta yang boleh memberikan pengimejan resolusi tinggi dengan voltan pecutan rendah dan Schottky FEG dalam kanta yang boleh memberikan arus probe besar yang stabil - untuk menyampaikan resolusi ultratinggi dengan pelbagai arus probe untuk semua aplikasi (Beberapa pA hingga lebih daripada 200 nA).
Schottky FEG dalam kanta ialah gabungan Schottky FEG dan kanta pemeluwap pertama dan direka bentuk untuk mengumpul elektron daripada pemancar dengan cekap.
Pengimejan permukaan paling atas pada voltan pecutan rendah oleh mod Gentle Beam (GB)
Mod Gentle Beam (GB) menggunakan voltan negatif pada spesimen dan menyahpecutan elektron kejadian sejurus sebelum ia menyinari spesimen, dengan itu resolusi dipertingkatkan pada voltan pecutan yang sangat rendah.
Oleh itu, 7610F adalah mungkin untuk memerhati permukaan paling atas dengan beberapa ratus eV yang sukar untuk diperhatikan secara konvensional dan sampel bukan konduktif seperti seramik dan semikonduktor dsb.
Prestasi tinggi dan analisis prestasi tinggi oleh Optik Kuasa Tinggi
Optik Kuasa Tinggi menghasilkan probe elektron halus untuk pemerhatian dan analisis.
Kanta kawalan sudut apertur mengekalkan diameter probe kecil walaupun pada arus probe yang lebih besar.
Menggunakan kedua-dua teknik, 7610F sesuai untuk pelbagai jenis analisis dengan EDS, WDS, CL dll
Contoh aplikasi
Pengimejan resolusi tinggi oleh kanta objektif separa dalam kanta
Sampel: Pt Catalyst Accelerating Voltage 15 kV
Contoh: Tiub Nano Karbon Voltan Mempercepatkan 30 kV
Analisis resolusi spatial tinggi oleh kanta objektif separa dalam kanta
Keratan rentas LED (analisis EDS berbilang lapisan di bawah 100 nm)
Pengimejan permukaan paling atas pada tenaga pendaratan ultra rendah oleh mod Gentle Beam (GB)
Sampel: penapis Tenaga pendaratan 500 eV
Sampel: Tenaga pendaratan Silika Mesoporus 800 eV
spesifikasi
| resolusi SEI | 1.0nm (15kV), 1.3nm (1kV), Semasa analisis 3.0 nm (15 kV、 arus kuar 5 nA) | ||
|---|---|---|---|
| Pembesaran | 25 untuk 1,000,000 | ||
| Mempercepatkan voltan | 0.1kV hingga 30kV | ||
| Arus siasatan | Beberapa pA hingga 200nA | ||
| Kanta kawalan sudut bukaan | Terbina dalam | ||
| Pengesan | Pengesan atas, pengesan bawah | ||
| Penapis tenaga | Penapis r baharu | ||
| Rasuk Lembut | Terbina dalam | ||
| Tahap spesimen | Eusentrik, kawalan motor 5 paksi | ||
| Jenis | Jenis IA 2 | Jenis II (Pilihan) | Jenis III (Pilihan) |
| XY | 70mm × 50mm | 110mm × 80mm | 140mm × 80mm |
| Condongkan | -5° hingga ＋70° | -5° hingga ＋70° | -5° hingga ＋70° |
| Putaran | 360 ° tidak berkesudahan | 360 ° tidak berkesudahan | 360 ° tidak berkesudahan |
| WD | 1.0mm untuk 40mm | 1.0mm untuk 40mm | 1.0mm untuk 40mm |
| Sistem pemindahan | Dua SIP, TMP, RP | ||
Pilihan Utama
Pengesan elektron hambur belakang boleh ditarik balik (RBEI)
Pengesan elektron serakan belakang sudut rendah (LABE)
Mengimbas Pengesan Elektron Penghantaran (STEM)
Sistem navigasi pentas (SNS)
Peranti pembersihan ion
Spektrometer sinar-X penyebaran tenaga (EDS)
Spektrometer sinar-X (WDS) penyebaran panjang gelombang
Pengesan Cathodoluminescence (CL)
Pemegang spesimen Pelbagai pemegang spesimen pilihan boleh didapati
Kesesuaian
Permohonan JSM-7610F
Aplikasi MALDI: Analisis filem nipis organik
Galeri
-
JSM-7610F
Produk Berkaitan
Sistem Mikroskopi Elektron Optik & Pengimbasan Terkait miXcroscopy™
Pemegang spesimen yang sama kini boleh digunakan untuk kedua-dua mikroskop optik dan mikroskop elektron pengimbasan. Akibatnya, dengan menguruskan maklumat peringkat dengan perisian khusus, sistem boleh merakam lokasi yang diperhatikan dengan mikroskop optik, dan kemudian membesarkan lagi kawasan yang sama dengan mikroskop elektron pengimbasan untuk memerhati struktur halus pada pembesaran yang lebih tinggi & resolusi yang lebih tinggi.Sasaran cerapan yang ditemui dengan mikroskop optik boleh diperhatikan dengan lancar dengan mikroskop elektron pengimbasan tanpa perlu mencari sasaran semula. Kini anda boleh membandingkan dan mengesahkan imej mikroskop optik dan imej mikroskop elektron dengan lancar dan mudah.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.