JSM-7600F Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky
DISCONTINUED
SEM separa dalam kanta dengan resolusi tinggi. Penerimaan sistem penyinaran Optik Kuasa Tinggi memberikan analisis elemen beresolusi tinggi, berkelajuan tinggi dan ketepatan tinggi. Penggabungan Gentle Beam membolehkan pengimejan permukaan atas spesimen pada tenaga yang sangat rendah beberapa ratus eV.
Ciri-ciri
Halaman ini mengandungi ralat berikut: ralat pada baris 1 pada lajur 5579: xmlParseCharRef: nilai xmlChar tidak sah 8 Di bawah ialah pemaparan halaman sehingga ralat pertama.Kanta separuh dalam menyediakan pemerhatian dan analisis resolusi tinggi
Pemerhatian resolusi tinggi dan analisis resolusi spatial tinggi dicapai melalui gabungan kanta objektif jenis separa dalam kanta yang boleh menyatukan pancaran elektron walaupun pada voltan pecutan rendah, dan sumber elektron Schottky dalam kanta yang menyediakan arus yang stabil sepanjang hayat perkhidmatan yang panjang.
Gentle Beam (GB) menyediakan pengimejan permukaan atas dengan elektron kejadian tenaga ultra rendah
Pancaran Lembut (mod GB) dengan resolusi yang lebih baik daripada mod biasa tersedia. Dalam mod GB, voltan pincang digunakan pada spesimen manakala pancaran elektron dipancarkan, membenarkan pengimejan permukaan atas dengan hanya beberapa ratus eV elektron kejadian, membolehkan untuk mendapatkan imej resolusi tinggi sampel yang sukar untuk diperhatikan sehingga kini .
Optik Kuasa Tinggi menyampaikan analisis berkelajuan tinggi dan berketepatan tinggi
Optik Kuasa Tinggi diguna pakai untuk sistem optik, menyediakan bukan sahaja pengimejan resolusi tinggi, tetapi juga secara stabil menyampaikan analisis berkelajuan tinggi, berketepatan tinggi, termasuk analisis elemen.
Contoh aplikasi
Applicaton1 Pemerhatian resolusi tinggi oleh kanta objektif separa dalam kanta
spesifikasi
| resolusi SEI | 1.0nm（15kV）, 1.5nm（1kV） | ||
|---|---|---|---|
| Pembesaran | 25 untuk 1,000,000 (pada saiz imej 120mm 90mm) |
||
| Mempercepatkan voltan | 0.1kV hingga 30kV | ||
| Arus siasatan | 1pA hingga 200nA | ||
| Kanta kawalan sudut bukaan | Terbina dalam | ||
| Pengesan | Pengesan atas, pengesan bawah | ||
| Penapis tenaga | Penapis r baharu | ||
| Rasuk Lembut | Terbina dalam | ||
| Imej digital | 1,280 x 960 piksel, 2,560 x 1,920 piksel, 5,120 x 3,840 piksel | ||
| Ruang kunci udara spesimen | Mekanisme pertukaran spesimen satu tindakan terbina dalam | ||
| Tahap spesimen | Eusentrik, kawalan motor 5 paksi | ||
| Jenis | IA | II | III |
| XY | 70mm × 50mm | 110mm × 80mm | 140mm × 80mm |
| Condongkan | -5° hingga ～＋70° | -5° hingga ＋70° | -5° hingga ＋70° |
| Putaran | 360 ° | 360 ° | 360 ° |
| WD | 1.5mm untuk 25mm | 1.5mm untuk 25mm | 1.5mm untuk 25mm |
| Sistem pemindahan | Dua SIP, TMP, RP | ||
| Reka bentuk Eco | Semasa operasi biasa: 1.2kVA Semasa mod tidur: 1kVA Semasa sistem pemindahan OFF : 0.76kVA |
||
CO2 pengeluaran
| CO2/jam | CO2/ tahun | |
|---|---|---|
| Semasa operasi biasa | 0.481kg | 4,214kg |
| Semasa mod tidur | 0.411kg | - |
| Semasa sistem pemindahan OFF (Pam ion HIDUP) |
0.286kg | - |
Pilihan Utama
Pengesan Elektron Tersebar Belakang (RBEI)*1 Pengesan BE Sudut Rendah (LABE)*2
Spektrometer X-ray Penyebaran Panjang Gelombang (WDS)
Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga (EDS)
Sistem Belauan Hamparan Belakang Elektron (EBSD).
Pengesan Elektron Penghantaran Imbasan (STEM).
Pengesan Cathodoluminescence (CLD)
Perangkap Nitrogen Cecair (LNT)
Untuk analisis EDS
Untuk pemerhatian pembesaran tinggi
Kesesuaian
Permohonan JSM-7600F
Elektron Serak Belakang Sudut Tinggi dan Elektron Serak Belakang Sudut Rendah
Galeri
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.