Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Mikroskop Elektron Pengimbasan Siri JSM-6610

DISCONTINUED

Mikroskop Elektron Pengimbasan Siri JSM-6610

Peralihan lancar antara pengimejan dan analisis. SEM jenis terma guna umum untuk memenuhi keperluan pelbagai pengguna, kerana resipi standard memudahkan prosedur tetapan. Peringkat motor 5 paksi standard memudahkan untuk mengesan kawasan yang diminati.

Ciri-ciri

Navigasi operasi

Skrin navigasi operasi memaparkan pelbagai fungsi navigasi.
Prosedur pertukaran spesimen dibentangkan dalam format aliran, supaya proses itu boleh diselesaikan dengan mudah walaupun oleh pengguna kali pertama.
Grafik peringkat memudahkan carian tapak sasaran
Apabila sistem navigasi pentas (pilihan) digunakan, adalah mungkin untuk mencari kawasan yang menarik dengan rasa mengendalikan mikroskop optik.
Animasi video menambah penjelasan prosedur penyelenggaraan

Resipi standard

Resipi standard yang menggabungkan kepakaran dan pengalaman JEOL telah diprapasang
Malah pengguna SEM baharu boleh menetapkan syarat yang sesuai untuk setiap sampel

Pentas besar

Ruang spesimen yang besar dengan peringkat pacuan motor 5 paksi disertakan dalam konfigurasi standard
Sampel sebesar diameter 8 inci x ketinggian 80 mm boleh dikendalikan

integrasi EDS

Analisis boleh dimulakan dari tetingkap SEM
Memandangkan EDS juga merupakan produk JEOL, kawalan boleh dilakukan dari satu PC

spesifikasi

Mod ResolusiHV 3.0 nm(30 kV)、8 nm(3 kV)、15 nm(1 kV)
Mod LV *1 4.0 nm(30 kV)
pembesaran × 5 hingga × 300,000 (pada saiz imej 128 mm × 96 mm)
Pembesaran pratetap 5 langkah, boleh dipilih pengguna
Resipi standard Dibina di
Resipi tersuai Keadaan operasi (Optik, Mod imej, tekanan LV*1) Peringkat spesimen
Mod gambar Imej elektron sekunder, imej REF, Komposisi*1, Topografi*1, Berbayang*1
Mempercepatkan voltan 0.3 kV untuk 30 kV
Filamen Filamen pra-pusat kilang
Pistol elektron Automatik sepenuhnya, timpa manual
Kanta pemeluwap Lensa pemeluwap zum
Kanta objektif Kanta objektif super kon
Bukaan kanta objektif 3 peringkat, XY boleh laras halus
Ingatan stigma Dibina di
Anjakan imej elektrik ± 50 μm (WD = 10 mm)
Fungsi auto Fokus, kecerahan, kontras, stigmator
Tahap spesimen Peringkat spesimen besar eusentrik
paksi bermotor
X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 5 mm hingga 80 mm,
Condongkan: −10° hingga 90°, Putaran: 360°
Imej rujukan (Navigator) Imej 4
Pertukaran spesimen Lukiskan pentas
Spesimen maksimum Diameter 200 mm
PC IBM PC/AT serasi
OS Windows 7
Pantau LCD 19 inci, 1 atau 2*2
Kedai bingkai 640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920, 5,120 × 3,340
Imej langsung dwi Dibina di
Paparan imej bersaiz penuh Dibina di
Warna pseudo Dibina di
Paparan imej berbilang 2 gambar, 4 gambar
Digital zoom Dibina di
Pembesaran dwi Dibina di
rangkaian Ethernet
Pengukuran Dibina di
Format imej BMP, TIFF, JPEG
Pengarkiban imej automatik Dibina di
Sistem pengepaman Automatik sepenuhnya, DP: 1, RP: 1 atau 2*1
Menukar mod vakum*1 Melalui menu, tidak sampai 1 minit
Tekanan LV*1 10 hingga 270 Pa
JED-2300 EDS*2 Dibina di

Pilihan Utama

Pengesan elektron berselerak belakang*1
Pengesan elektron sekunder vakum rendah 
Penganalisis sinar-X penyebaran tenaga (EDS)
Penganalisis sinar-X penyebaran panjang gelombang (WDS)
EBSD
Sistem navigasi pentas
Bilik kunci udara
Skop ruang
Papan kekunci operasi
Lab6 pistol elektron
Perisian penciptaan laporan (SMile View™)*2
Konsol operasi (lebar 750 mm, lebar 900 mm)

  • Standard pada JSM-6610LA dan JSM-6610LV

  • Standard pada JSM-6610LA dan JSM-6610A

Kesesuaian

Permohonan JSM-6610series

Galeri

Maklumat lanjut

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.