JED-2300
Stesen Analisis Plus
Stesen Analisis JED-2300 Plus dilengkapi dengan DrySD™ (Dry Silicon Drift Detector) JEOL, penganalisis berkelajuan tinggi dan perisian analitik yang direka khas untuk mikroskop elektron JEOL.
JED-2300 Analysis Station Plus, sistem EDS untuk melaksanakan analisis unsur dengan mengesan ciri-ciri sinar-X yang dihasilkan daripada spesimen, telah dibangunkan berdasarkan konsep reka bentuk "Seamless from Observation to Analysis" menggunakan pengalaman bertahun-tahun JEOL dalam elektron optik dan EDS.
Sistem EDS ini disepadukan sepenuhnya dengan SEM, FIB-SEM dan TEM kami untuk pengurusan data yang komprehensif (imej mikroskop dan data sinar-X) dengan antara muka pengguna yang mudah difahami.
Untuk sistem FIB-SEM yang dilengkapi dengan peringkat pemacu motor, pengurusan data di kawasan yang luas dipermudahkan dengan operasi visual, seperti imej mikroskop dengan pembesaran yang berbeza atau kedudukan peringkat yang berbeza, dan lokasi peta unsur.
Ciri-ciri
Reka bentuk inovatif
Ikon operasi
Ikon disusun dari kiri ke kanan yang membimbing pengguna melalui setiap langkah pengumpulan data. Selain itu, fungsi setiap ikon dipaparkan untuk pemahaman visual.
Paparan imej diindeks
Pengendali boleh dengan cepat mengakses data yang diperoleh daripada paparan imej yang diindeks.
Senarai data analisis
Imej dan hasil analisis disimpan secara automatik dalam folder yang sama untuk akses pantas. Apabila pengendali memilih mana-mana kawasan pada paparan imej yang diindeks, data untuk kawasan masing-masing akan dipaparkan dalam senarai data analisis, sekali gus memudahkan pengurusan data.
ID Puncak Visual
Fungsi ini membolehkan anda mengesahkan sama ada unsur konstituen dikenal pasti dengan betul dalam keputusan analisis kualitatif. Spektrum dibina semula dengan pengiraan berdasarkan keamatan sinar-X bagi unsur-unsur yang dikenal pasti dalam analisis kualitatif.
Bentuk puncak garisan sinar-X Bi didapati berbeza antara spektrum yang diperoleh (merah jambu) dan spektrum yang dikira (biru).
Pemeriksaan semula kedudukan puncak Bi menunjukkan kehadiran Pb. Apabila Pb ditambahkan pada keputusan analisis, kedua-dua bentuk puncak sepadan. Daripada keputusan ini, Pb telah disahkan terkandung dalam spesimen.
Fungsi Main Balik Analisis
Pemetaan unsur konvensional memperoleh sehingga terdapat kiraan sinar-X yang mencukupi dan menyimpan spektrum di mana kiraan terkumpul semua bingkai untuk spektrum disimpan pada setiap piksel. Fungsi Analisis Main Balik yang tersedia untuk Stesen Analisis JED-2300 Plus boleh memainkan semula data ini seperti animasi, selepas pemerolehan peta unsur. Oleh itu, fungsi ini boleh membantu membuat pelbagai analisis. Sebagai contoh, anda boleh mengesahkan kehadiran atau ketiadaan ubah bentuk spesimen semasa pemerolehan peta atau perubahan elemen dalam spesimen semasa analisis In-situ seperti pemanasan.
Stesen Smile™ 2
Peta unsur diperoleh secara automatik, membenarkan pengguna memilih kawasan yang diperlukan sahaja daripada imej montaj atau imej mikroskop berbilang, sekali gus membolehkan analisis yang cekap bagi kawasan kompleks.
Perisian Analisis Zarah 2
Fungsi analisis zarah
Pemerolehan maklumat morfologi pada objek yang dikesan (zarah khusus, dsb.) didayakan berdasarkan perbezaan keamatan dalam imej mikroskop (imej komposisi elektron berselerak belakang, dsb.). Objek-objek yang ditampilkan ini boleh tertakluk kepada analisis EDS automatik. Pelbagai objek ditampilkan dianalisis dengan menetapkan keadaan analisis, termasuk perbezaan keamatan dalam imej, serta saiz dan bentuk. Penggunaan gabungan dengan Smile Station™ 2 membolehkan analisis zarah automatik di kawasan yang luas. Fungsi ini juga memanjangkan aplikasinya untuk memasukkan: kemasukan dalam butiran mineral, membezakan objek yang ditampilkan dengan bentuk tertentu dan zarah yang dikumpul pada penapis.
Pemprosesan statistik
Bagi setiap zarah, keputusan analisis EDS dan maklumat bentuk zarah (diameter zarah, luas, dll.) direkodkan. Anda boleh membuat graf atau jadual daripada maklumat untuk pemprosesan statistik.
Contoh analisis automatik (asbestos)
Asbestos mempamerkan bentuk nisbah aspek yang tinggi. Perisian Analisis Zarah 2 boleh memilih nisbah aspek kepada asbestos (gentian) untuk analisis EDS dan oleh itu, hanya saiz dan bentuk zarah yang sesuai akan dibezakan dan diukur. Daripada keputusan analisis EDS, anda boleh menentukan sama ada zarah berbentuk jarum yang dianalisis adalah asbestos dan boleh mengklasifikasikan jenis asbestos. Anda juga boleh mengesahkan semula keputusan analisis setiap zarah selepas selesai analisis.
Asbestos terkelas
Asbestos diekstrak oleh Perisian Analisis Zarah
Chrysotile
Amosit
Crocidolite
Pengesan Drift Silikon Kering
Tidak seperti pengesan EDS jenis Si(Li) konvensional, Pengesan Drift Silikon Kering tidak memerlukan nitrogen cecair. Penyelenggaraan lebih mudah dan SDD membenarkan daya pemprosesan kiraan X-ray yang lebih tinggi. Penggunaan Pengesan Hanyutan Silikon Kering yang luas membolehkan analisis unsur walaupun dengan arus probe yang kecil.
Pengesan Drift Silikon Kering
Senarai Pengesan Drift Silikon Kering
| Mikroskop Elektron Mengimbas | Kawasan pengesanan | Resolusi tenaga | Elemen yang boleh dikesan |
|---|---|---|---|
| Siri JCM-6000 | 25 mm2 | 133 eV atau kurang | B～U |
| Siri JSM-IT100 | 25 mm2 | 130 eV atau kurang | Jadi～U |
| Siri JSM-IT500 FE-SEM |
25 mm2, 30 mm2 60 mm2, 100 mm2 |
129 eV atau kurang 133 eV atau kurang |
Jadi～U B～U |
Untuk Siri JSM-IT100, fungsi yang dibentangkan dalam halaman web ini hanya terpakai apabila JED-2300 Analysis Station Plus dipasang pada JSM-IT100 atau JSM-IT100LV. Perisian analisis yang berbeza digunakan untuk JSM-IT100A dan JSM-IT100LA.
spesifikasi
| SEM | JCM-6000 Siri |
※Nota | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Kawal PC | OS:Microsoft®Windows® ７ 32bit/64bit、 Windows®10 64bit |
● | ● | 6 | ||||
| Bahasa | Jepun/Inggeris | ● | ● | |||||
| Pengesan | jenis SDD | Pilih daripada senarai pengesan | Hanya 25 mm2 pengesan |
|||||
| Ⅰ: Mod standard Ⅱ: Mod Peta Ⅲ: Mod montaj Ⅳ: Mod analisis zarah Ⅴ: Mod analisis zarah kawasan besar |
ⅰ | Ⅱ | Ⅲ | Ⅳ | Ⅴ | |||
| Analisis spektrum | Analisis Kualitatif/Kuantitatif (pembetulan ZAF, anggaran filem nipis untuk TEM) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| ID Puncak Visual (VID) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Pengelasan jenis kimia, QBase(Pangkalan Data Analisis Kualitatif) | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Kadar kiraan & paparan masa nyata masa mati | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Penjanaan laporan | Laporan satu klik | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| SMILE VIEW™ | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Mengeksport ke Microsoft® Word、Microsoft® PowerPoint® | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Stesen Analisis | Pengurusan Data | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| Analisis dimulakan pada monitor EDS (Kedudukan analisis ditetapkan pada imej yang diperoleh) | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Paparan grafik kedudukan analisis, Navigasi, Pinpoint Navi | ● | ● | ● | ● | 2 | |||
| Integrasi SEM | Pemantauan automatik keadaan mikroskop (Pembesaran, Voltan pecutan, Koordinat peringkat) |
● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| Pemantauan SEM WD | ● | ● | ● | ● | 1 | |||
| Kedudukan analisis yang dinyatakan dalam monitor SEM (Analisis langsung ditetapkan pada GUI SEM.) |
● | ● | ● | ● | 1 | |||
| Membantu berfungsi | Bantuan analisis | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Analisis garisan | Analisis garisan, Analisis garisan kuantitatif | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Profil garis kawasan besar | ● | ● | ● | ● | ||||
| Peta unsur | Peta unsur (Peta dengan 3 warna, Penjejakan Probe) | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| Imej definisi tinggi (4096 × 3072 piksel untuk imej mikroskop elektron dan peta unsur) | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Fungsi pikap untuk elemen kawasan mikro | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Spektrum pop timbul | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Peta kuantitatif | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Peta sisa | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Analisis Main Balik | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Gambar rajah taburan | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Stesen Smile™ 2 | Analisis urutan automatik | ● | ● | 2 | ||||
| Montaj automatik (imej SEM, peta unsur) | ● | ● | 2 | |||||
| Pemerolehan automatik peta unsur pada berbilang kawasan | ● | ● | 2 | |||||
| Perisian Analisis Zarah 2 | Analisis zarah (auto / manual) & analisis EDS | ● | ● | |||||
| Pemprosesan statistik (hasil analisis, diameter zarah, luas, dsb.) | ● | ● | ||||||
| Analisis zarah & EDS berjujukan pada pelbagai bidang | ● | 3 | ||||||
| Pencari zarah | ● | 3 | ||||||
| Semakan manual | ● | 3 | ||||||
| analisis GSR | Analisis Sisa Tembakan Automatik (GSR). | ● | 3, 4 | |||||
| Analisis kuantitatif RHI-RHO-Z | Peningkatan ketepatan analisis kuantitatif untuk spesimen yang mengandungi unsur ringan dan berat | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| Arus siasatan pampasan |
Pemantauan arus probe, pampasan untuk turun naik arus probe | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | 5 | |
| Pemerolehan standard pengguna | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | 5 | ||
| Ayun tetikus | Satu set kawalan tetikus & papan kekunci untuk dua PC (SEM & EDS) | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ||
| Analisis luar talian | Perisian lesen untuk analisis data luar talian | ○ | ○ | ○ | ○ | |||
| Perisian terbina dalam | Perisian standard | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Perisian pemetaan digital | ● | ● | ● | ● | ● | |||
| Stesen Smile™ 2 | ● | ● | ||||||
| Perisian Analisis Zarah 2 | ● | ● |
● Terbina dalam ○ Pilihan
Terpakai hanya untuk JSM-IT300HR LA.
Berkenaan dengan SEM dengan peringkat pemacu motor. Tidak berkenaan dengan JSM-6000Plus.
Berkenaan dengan SEM dengan peringkat pemacu motor XYZ 3-paksi atau lebih paksi.
Untuk melakukan penentukuran, unit GSR pilihan diperlukan.
Unit pampasan semasa probe pilihan diperlukan. Pemantauan automatik arus probe hanya boleh dilakukan apabila EDS disambungkan ke PC mikroskop. FE-SEM yang termasuk PCD dan AEI tidak memerlukan unit ini.
Untuk siri JSM-IT300HR LA dan JCM-6000, perisian EDS dipasang ke dalam PC untuk unit asas mikroskop. Oleh itu dalam kes ini, PC khusus untuk EDS tidak diperlukan.
Spesifikasi boleh berubah tanpa notis.
Microsoft, Windows dan PowerPoint ialah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara lain.
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.