SEM Atas Jadual JCM-5000 NeoScope™
DISCONTINUED
Ciri-ciri
JCM-5000 NeoScope™ melengkapkan kedua-dua mikroskop optik dan SEM tradisional secara ekonomi. NeoScope™ memudahkan untuk mendapatkan imej pembesaran tinggi dengan resolusi tinggi dan kedalaman medan yang besar menggunakan mikroskop yang mudah dikendalikan seperti kamera digital, tetapi mempunyai optik elektron berkuasa SEM.
Sama ada digunakan oleh mikroskop elektron terlatih sebagai instrumen penyaringan mudah, atau oleh juruteknik makmal sebagai alternatif resolusi lebih tinggi kepada mikroskop cahaya, NeoScope™ akan membantu mempercepatkan kadar penyelidikan dalam sains hayat, forensik dan analisis kegagalan bahan pembuatan.
Operasi asas NeoScope™ adalah mudah dengan fokus auto, kontras automatik dan kawalan kecerahan automatik. Tiada penyediaan sampel khas, seperti salutan atau pengeringan, diperlukan. NeoScope™ beroperasi dalam kedua-dua mod vakum rendah dan tinggi dan mempunyai tiga tetapan untuk voltan pecutan yang sesuai untuk pelbagai aplikasi, semuanya boleh diprogramkan dalam fail resipi pra-simpan khas.
Sorotan SEM Atas Bangku NeoScope™
SEM Benchtop padat dengan tetapan automatik untuk sampel biologi dan bahan
Resolusi tinggi dan kedalaman medan yang besar melengkapkan mikroskop optik atau instrumen SEM dalam makmal
X10 -- 20,000 pembesaran tanpa pertukaran kanta
Kawalan automatik dan manual dengan resipi pra-simpan
Mod vakum tinggi dan rendah
Tiada penyediaan sampel khas, seperti salutan dan pengeringan, untuk sampel konduktif dan bukan konduktif
Elektron sekunder dan pengimejan elektron berselerak belakang
Tiga voltan memecut yang boleh dipilih
Memuatkan sampel ke pengimejan dalam masa kurang daripada tiga minit
Mudah dipelajari dan dikendalikan
spesifikasi
| Pembesaran | ×10 hingga ×40,000 |
|---|---|
| Mod pemerhatian | Mod vakum tinggi, Mod vakum rendah |
| Sumber elektron | Sumber elektron kartrij kecil |
| Mempercepatkan voltan | 15kV, 10kV, 5kV |
| Tahap spesimen | Manual, X 35mm, Y 35mm |
| Saiz spesimen maksimum | 70mm Diameter 50mm Tinggi |
| Pengesan | Pengesan elektron sekunder, Pengesan elektron terserak belakang |
| Paparan data | Voltan pecutan, pembesaran, bar mikron, nilai mikron |
| Imej digital | 1,280ｘ1,024 piksel, bmp, tif, jpg |
| OS | Windows® VISTA, Windows® 7 |
| beroperasi secara automatik | Sumber elektron, fokus, kecerahan, kontras dan astigmatisme |
| Kandungan | Konsol utama + RP (20L/min) |
| Dimensi konsol utama | W492ｘD458ｘH434mm |
| Kuasa elektrik | Fasa tunggal AC100V (400VA) 240V (1,100VA)
50Hz / 60Hz |
| Suhu bilik | 15 ° C hingga 30 ° C |
| Kelembapan | 70％ atau kurang |
Windows adalah tanda dagangan berdaftar Microsoft Corporation di Amerika Syarikat dan negara-negara lain.
Kesesuaian
Permohonan JCM-5000
Elektron Serak Belakang Sudut Tinggi dan Elektron Serak Belakang Sudut Rendah
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.