Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

Sistem MultiBeam JIB-4600F

DISCONTINUED

Sistem MultiBeam JIB-4600F

Ciri-ciri

Arus siasatan dan kanta kawalan apertur yang sangat stabil memudahkan pemerolehan imej resolusi tinggi. Proses pengilangan dilihat dan dianalisis secara serentak dalam pengimejan SEM, berkesan untuk analisis struktur dalaman dan penyediaan sampel filem nipis TEM.

Menggabungkan FE-SEM resolusi tinggi untuk keratan rentas ketepatan.
Pengimejan SEM resolusi tinggi untuk pemantauan masa nyata pengilangan FIB.
Menggabungkan senapang elektron terma dalam kanta yang mampu analisis kelajuan tinggi yang stabil pada arus maksimum 200 nA.
Ruang spesimen berbilang port untuk operasi lengkap daripada pengilangan FIB kepada pengimejan SEM kepada analisis oleh pelbagai pengesan termasuk EDS dan EBSD.
Menyokong pemasangan serentak pelbagai gas untuk pemendapan filem pelindung.
Pengimejan SEM resolusi tinggi untuk penyediaan sampel filem nipis TEM.

Accesories

EDS (penganalisis sinar-X pendarfluor penyebaran tenaga)
sistem EBSD
CLD (pengesan luminescence katod)
IR-CAM (kamera IR untuk tontonan)
GIS (sistem suntikan gas) x3
Sistem pengambilan spesimen
Sistem manipulator nano
PCD (pengesan arus siasatan)
AEM (meter arus serap)
TED (pengesan elektron penghantaran)
BEI (pengesan elektron terserak belakang)
Cecair perangkap nitrogen
Peranti pengosongan rasuk
Pembinaan Semula 3D perisian

spesifikasi

FIB (Rasuk Ion Berfokus)

Sumber ion Ga sumber ion logam cecair
Mempercepatkan voltan 1 hingga 30 kV
Pembesaran 30x (lihat carian kawasan) 100 hingga 300,000x
Resolusi imej 5 nm (pada 30 kV)
Arus rasuk maksimum 30 nA (pada 30 kV)
Bukaan boleh ubah 12 langkah, pemacu motor
Corak pengilangan rasuk ion Segi empat tepat, garis, titik

SEM (Rasuk Elektron)

Mempercepatkan voltan 0.2 hingga 30 kV
Pembesaran 20 hingga 1,000,000x
Resolusi imej 1.2 nm dijamin (voltan memecut 30 kV)
3.0 nm dijamin (voltan memecut 1 kV)
Arus rasuk maksimum 200 na
Tahap spesimen Peringkat goniometer
X: 50 mm; Y: 50 mm; Z: 1.5 hingga 41 mm; T: -5 hingga 70°; R: 360°
Pam vakum 2 SIP (SEM), 1 SIP (FIB), 1 TMP, 1 RP

Keperluan Pemasangan

Bekalan kuasa Fasa tunggal 200 V 10%, 50/60 Hz. 6 kVA
Terminal darat Satu Jenis D (100 ohm atau kurang)
Suhu bilik 20°C±5°C
Kelembapan 60% atau kurang

Maklumat lanjut

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.