Sistem SEM-FIB JIB-4501 MultiBeam
DISCONTINUED
JIB-4601F ialah sistem pemprosesan MultiBeam yang menggabungkan SEM termionik dan lajur ion berprestasi tinggi. Instrumen ini boleh digunakan sebagai sistem SEM untuk memerhati permukaan spesimen; atau pengilangan bahagian pengilangan kawasan menggunakan FIB boleh dilakukan, diikuti dengan analisis elemen dan pemerhatian bahagian dalaman menggunakan SEM. FIB boleh digunakan untuk pengilangan halus dan penyediaan sampel filem nipis TEM. Ruang besar memperluaskan julat aplikasi yang mungkin. Mod vakum rendah membolehkan pemerhatian SEM tanpa sebarang salutan bahan penebat, jadi ia boleh digunakan dalam hampir semua bidang.
Ciri-ciri
Analisis jumlah menggunakan gabungan SEM pelepasan elektron termionik dan lajur FIB berprestasi tinggi
JIB-4501 menggabungkan lajur FIB Kuasa Tinggi, dengan arus probe maksimum 60 nA, untuk membolehkan pengilangan pantas. Adalah mungkin untuk melakukan pengilangan keratan rentas kawasan yang lebih besar, dan juga melakukan pemerhatian SEM, analisis EDS* atau EBSD* tapak tersebut. Oleh kerana urutan tugas boleh dilakukan dalam ruang vakum yang sama, analisis boleh dilakukan tanpa sebarang kemerosotan permukaan sampel akibat pengoksidaan. Peringkat besar boleh memuatkan spesimen dengan diameter sehingga 75 mm dan ketinggian 30 mm
(*) lampiran pilihan
Fungsi penghirisan dan pensampelan bersiri
Susunan lajur JIB-4501 telah direka bentuk supaya keratan rentas yang telah digiling menggunakan FIB boleh diperhatikan dengan SEM tanpa mengubah sudut kecondongan peringkat. Ini membolehkan pengguna melakukan urutan automatik berterusan operasi pengilangan bahagian FIB dan pemerolehan imej SEM. Jika aplikasi perisian pilihan Stack-N-Viz digunakan, imej 3 dimensi boleh dibina semula untuk memberikan pemahaman yang lebih baik tentang struktur dalaman spesimen.
Serasi dengan produk JEOL yang lain
Siri JIB menggunakan pilihan yang serasi dengan siri JEM dan peranti siri JSM. Spesimen yang direka menggunakan siri JIB boleh dipindahkan antara sistem JEOL lain dengan cekap, untuk mendapatkan analisis yang lebih terperinci dengan daya pemprosesan yang sangat baik. Contohnya, jika penahan ulang-alik digunakan antara siri JEM (seperti JEM-ARM200F) hujung pemegang TEM dan peringkat JIB-4501 (Rajah 1), tidak ada keperluan untuk pengendalian rumit sampel TEM yang dipasang pada jejaring grid, membolehkan daya pemprosesan yang lebih baik.
spesifikasi
FIB
| Sumber ion | Ga sumber ion logam cecair |
|---|---|
| Mempercepatkan voltan | 1 hingga 30 kV (dalam 5 langkah kV) |
| Pembesaran | x60 (untuk mencari medan)
x200 hingga x300,000 |
| Resolusi imej | 5 nm (pada 30 kV) |
| Arus rasuk | Sehingga 60 nA (pada 30 kV) |
| Bukaan boleh alih | 12 langkah (memandu motor) |
| Bentuk rasuk ion semasa pengilangan | Segi empat tepat, garis dan titik |
Tahap spesimen
| Peringkat goniometer 5 paksi spesimen pukal | |
|---|---|
| Julat pergerakan | X: ± 11mm
Y: ± 15mm Z: 0.5mm hingga -23mm T: -5° hingga +60° R: 360° |
| Saiz spesimen maksimum |
28 mm dia. (13 mm H)
/ 50 mm dia (2 mm H) |
Lampiran pilihan
Sistem suntikan gas 2 (IB-02100GIS2)
Kartrij Pemendapan Karbon (IB-52110CDC2)
Kartrij Pemendapan Tungsten (IB-52120WDC2)
Kartrij Pemendapan Platinum (IB-52130WDC2)
Peringkat Goniometer Kemasukan Sisi (IB-01040SEG)
Pengesan Arus Probe (IB-04010PCD)
Panel Operasi (IB-05010OP)
Sistem Navigasi Peringkat (IB-01200SNS)
Pemegang Tip-on FIB (EM-02210)
Pemegang Spesimen Pukal FIB (EM-02220)
Pemegang Spesimen Pukal FIB 1 (EM-02560FBSH1)
Pemegang Spesimen Pukal FIB 2 (EM-02570FBSH2)
Penyesuai Pemegang Spesimen FE-SEM (EM-02580FSHA)
Penahan Ulang-alik (EM-02280)
Sistem Pengambilan Suasana (EM-02230)
Kesesuaian
Permohonan JIB-4501
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.