Tutup Btn

Pilih tapak Serantau Anda

Tutup

JIB-4500 MultiBeam SEM-FIB

DISCONTINUED

JIB-4500 MultiBeam SEM-FIB

Ciri-ciri

MultiBeam, SEM berprestasi tinggi baharu dan FIB pengilangan mikro, menggabungkan lajur elektron LaB6 paling popular di dunia dengan keupayaan pengilangan dan pemantauan masa nyata. JIB-4500 MultiBeam memberikan daya pemprosesan yang tinggi dan peningkatan produktiviti dengan tontonan serentak, analisis dan fungsi pengilangan mikro untuk pelbagai aplikasi.

serba boleh

Operasi vakum rendah untuk pengimejan spesimen bukan konduktif tanpa salutan atau pengubahan
Sistem suntikan gas untuk etsa dan pemendapan
Peringkat besar untuk sampel sehingga 76mmΦ
Reka bentuk port berbilang untuk semua keperluan analisis anda

produktiviti

Penghirisan dan pensampelan bersiri (S3) untuk memantau, menghiris, fabrikasi dan membina semula imej 3D
Arus pengilangan maksimum untuk daya pemprosesan yang tinggi
Sistem kunci udara standard untuk pemuatan sampel yang cepat

Kestabilan

Menyediakan pengimejan yang stabil untuk pengilangan / pemantauan dalam tempoh masa yang panjang
Pengilangan daya pemprosesan tinggi bagi kawasan yang luas (arus pengilangan maksimum 30 nA)
Peringkat goniometer eusentrik 5 paksi

Maklumat lanjut

Asas Sains

Penerangan mudah tentang mekanisme dan
aplikasi produk JEOL

Tutup
Notis

Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?

Ya

Tidak

Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.

Hubungi

JEOL menyediakan pelbagai perkhidmatan sokongan untuk memastikan pelanggan boleh menggunakan produk dan perkhidmatan kami dengan puashati.
Sila hubungi kami.