Sistem Pengilangan & Pengimejan Rasuk Ion Berfokus JIB-4000
DISCONTINUED
JIB-4000 ialah sistem pemprosesan dan pemerhatian rasuk ion terfokus (sistem FIB rasuk tunggal) yang menampilkan lajur ion berprestasi tinggi. Rasuk Ga ion yang dipercepatkan difokuskan dan digunakan pada sampel untuk membolehkan pemerhatian imej SIM pada permukaan sampel, pengilangan dan pemendapan bahan seperti karbon atau tungsten. Ia juga mungkin untuk membuat sampel keratan rentas untuk memerhatikan sampel dalaman atau spesimen filem nipis untuk pengimejan TEM. Berbanding dengan imej SEM, imej SIM menunjukkan kontras penyaluran yang ketara disebabkan oleh perbezaan dalam orientasi kristal. Ia amat sesuai untuk menilai keratan rentas salutan berbilang lapisan dan struktur logam.
Ciri-ciri
Lajur FIB Berkuasa Tinggi
JIB-4000 menggabungkan lajur FIB Kuasa Tinggi dengan arus pancaran ion maksimum 60 nA, membolehkan pengilangan keratan rentas pantas. Pengilangan berkelajuan tinggi dengan arus yang besar amat berguna untuk pemprosesan kawasan yang besar, dan keratan rentas untuk pemerhatian boleh dibuat dengan mudah, walaupun pada saiz lebih daripada 100 µm
FIB mesra pengguna
JIB-4000 menawarkan kebolehkendalian yang sangat baik bagi lajur FIB Berkuasa Tinggi. Konsep reka bentuk untuk instrumen ini adalah mesra pengguna, dengan penampilan luaran serta GUI yang direka untuk mencipta sistem FIB yang mudah digunakan. Ini adalah instrumen yang boleh dikendalikan dengan mudah walaupun oleh pengguna yang bukan pakar FIB. Saiz instrumen adalah padat, antara yang terkecil dalam industri, membolehkan pemasangan di lokasi yang lebih luas.
Tahap berkembar
Konfigurasi standard JIB-4000 termasuk peringkat motor sampel pukal untuk menampung sampel pukal. Anda juga boleh menambah peringkat goniometer kemasukan sisi yang membenarkan pemasukan terus cip TEM pada pemegang. Dengan peringkat motor sampel pukal, keseluruhan permukaan sampel pukal 20 mm x 20 mm boleh diperhatikan. Pertukaran spesimen boleh dilakukan dengan cepat melalui ruang kunci udara. Peringkat goniometer kemasukan sisi adalah sama yang digunakan untuk sistem JEOL TEM, jadi pemegang cip boleh digunakan dengan sistem JEOL TEM, menjadikannya mudah untuk bergantian antara pengilangan FIB dan pemerhatian TEM.
Kekayaan lampiran
Terdapat pelbagai lampiran tersedia untuk menyokong operasi JIB-4000, termasuk sistem navigasi CAD yang berguna untuk aplikasi pengubahsuaian litar, dan sistem imbasan vektor yang berkesan untuk mengisar bentuk khas. Dengan menambahkan lampiran yang sesuai pada JIB-4000, sistem boleh menyokong aplikasi di luar penyediaan sampel.
spesifikasi
FIB
| Sumber ion | Ga sumber ion logam cecair |
|---|---|
| Mempercepatkan voltan | 1 hingga 30 kV (dalam 5 langkah kV) |
| Pembesaran | ×60 (untuk mencari medan) ×200～×300,000 |
| Resolusi imej | 5 nm (pada 30 kV) |
| Arus rasuk | Sehingga 60 nA (pada 30 kV) |
| Bukaan boleh alih | 12 langkah (memandu motor) |
| Bentuk rasuk ion semasa pengilangan | Segi empat tepat, garis dan titik |
| Tahap spesimen |
Peringkat goniometer 5 paksi spesimen pukal X:±11 mm Y:±15 mm Z:0.5 ～ －23 mm T:－5 ～ ＋60° R:360° Saiz spesimen maksimum 28 mm dia. (13 mm H)/ 50 mm dia (2 mm H) |
|---|
Lampiran pilihan
Sistem suntikan gas 2 (IB-02100GIS2)
Kartrij Pemendapan Karbon (IB-52110CDC2)
Kartrij Pemendapan Tungsten (IB-52120WDC2)
Kartrij Pemendapan Platinum (IB-52130WDC2)
Peringkat Goniometer Kemasukan Sisi (IB-01040SEG)
Pengesan Arus Probe (IB-04010PCD)
Panel Operasi (IB-05010OP)
Sistem Navigasi Peringkat (IB-01200SNS)
Pemegang Tip-on FIB (EM-02210)
Pemegang Spesimen Pukal FIB (EM-02220)
Pemegang Spesimen Pukal FIB 1 (EM-02560FBSH1)
Pemegang Spesimen Pukal FIB 2 (EM-02570FBSH2)
Penyesuai Pemegang Spesimen FE-SEM (EM-02580FSHA)
Penahan Ulang-alik (EM-02280)
Sistem Pengambilan Suasana (EM-02230)
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.