Keluaran Mikroskop Elektron Pengimbasan Baharu JSM-IT510 Series InTouchScope(TM) - Mudah untuk memperoleh data untuk semua jenis spesimen -
Tarikh Tayangan: 2021/11/08
JEOL Ltd. (Presiden & COO Izumi Oi) mengumumkan pembangunan dan pengeluaran Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEM) baharu, siri JSM-IT510, pada November 2021.
Latar Belakang Pembangunan Produk
Mikroskop elektron pengimbasan digunakan dalam pelbagai bidang, seperti nanoteknologi, logam, semikonduktor, seramik, perubatan dan biologi. Di samping itu, aplikasi SEM berkembang kepada bukan sahaja penyelidikan asas, tetapi juga kawalan kualiti di tapak pembuatan. Dengan ini, permintaan untuk pemerolehan data yang lebih pantas dan lebih mudah bagi kedua-dua imej SEM dan hasil analisis, seperti spektroskopi sinar-X (EDS) penyebaran tenaga, semakin meningkat.
Untuk memenuhi keperluan ini dan meningkatkan daya pengeluaran, kami telah membangunkan siri JSM-IT510, yang mengembangkan lagi kebolehkendalian InTouchScope™ kami yang popular. Dengan fungsi SEM Mudah baharu, anda kini boleh "meninggalkan" rutin harian anda (operasi berulang) kepada instrumen.
Ciri-ciri Utama
- Fungsi "SEM Mudah" baharu
Fungsi SEM Mudah membolehkan pengguna hanya memilih syarat pemerolehan dan medan pandangan untuk imej SEM, dan kemudian imej SEM diperoleh secara automatik. Kerja rutin boleh dibuat dengan lebih cekap. - "Pengesan Elektron Sekunder Hibrid (LHSED)" baharu
Pengesan baharu ini mengumpul kedua-dua isyarat elektron dan foton yang memberikan imej dengan S/N tinggi dan maklumat topografi yang dipertingkatkan walaupun di bawah vakum yang rendah. - Integrasi Sistem Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEM) dan Sistem Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga (EDS)
Penyepaduan SEM dan EDS telah dibangunkan lagi, dan fungsi Peta Langsung membolehkan paparan langsung peta unsur medan pandangan pemerhatian. - Fungsi "Live 3D" baharu
Imej 3D boleh dibina di tempat semasa pemerhatian SEM sedang dilakukan untuk mendapatkan maklumat ketidaksamaan dan kedalaman. - Fungsi Analisis Langsung
Sistem EDS terbenam menunjukkan spektrum EDS masa nyata semasa pemerhatian imej untuk analisis unsur yang cekap. - Fungsi LS Sistem Navigasi Peringkat Baharu
Sistem Navigasi Peringkat baharu LS boleh memperoleh imej optik kawasan empat kali lebih besar daripada model konvensional (200 mm x 200 mm). Fungsi ini membolehkan pengguna memperoleh imej optik sampel cerapan dan bergerak ke medan cerapan yang dikehendaki dengan hanya mengklik pada imej optik. - Zeromag
Dengan fungsi Zeromag kami, navigasi sampel lebih mudah berbanding sebelum ini. Anda boleh mencari kawasan untuk pengimejan atau menentukan kedudukan analisis pada berbilang medan menggunakan imej optik atau grafik pemegang. - Paparan ciri kedalaman penjanaan sinar-X
Ini menyokong pemahaman segera tentang kedalaman analisis (rujukan) untuk spesimen. - SMILE VIEW™ Lab, membolehkan pengurusan bersepadu data imej dan analisis
Memudahkan penjanaan laporan untuk semua data daripada imej SEM yang dikumpul kepada hasil analisis unsur dalam masa yang singkat.
Spesifikasi Utama
| Mod HV resolusi | 3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
| Mod LV resolusi | 4.0 nm (30 kV dengan imej elektron berselerak belakang) |
| Pembesaran langsung | ×5 hingga ×300,000 (Ditakrifkan dengan saiz paparan 128 mm×96 mm) |
| Pembesaran yang dipaparkan | ×14 hingga ×839,724 (Ditakrifkan dengan saiz paparan 358 mm×269 mm) |
| Pistol elektron | Filamen Tungsten (W). |
| Mempercepatkan voltan | 0.3 kV untuk 30 kV |
| Arus siasatan | 1 pA hingga 1 μA |
| Pelarasan tekanan LV | 10 hingga 650 Pa |
| Fungsi automatik | Pelarasan filamen, Penjajaran pistol, Fokus / Stigmator / Kecerahan / Kontras |
| Saiz spesimen maksimum | Diameter 200 mm, ketinggian 90 mm |
| Tahap spesimen | Jenis eusentrik besar X: 125 mm Y: 100 mm Z: 80 mm Senget: -10 hingga 90° Putaran: 360° |
| Resipi standard | Terbina dalam (termasuk syarat EDS) |
| Mod gambar | Imej elektron sekunder, imej REF, Imej komposisi, Imej topografi, Imej stereo-mikroskopik |
| fungsi EDS | Analisis spektrum, Analisis Kualitatif & Kuantitatif, Analisis garisan (garisan mendatar, garis arah tertentu), Pemetaan unsur, Penjejakan Probe |
Nota: Spesifikasi dan foto instrumen adalah JSM-IT510 (LA)
Target pasaran
200 unit / tahun
pautan
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.