Keluaran Mikroskop Cryo-Elektron Pancaran Medan Sejuk Baharu CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
Tarikh Tayangan: 2021/01/22
JEOL Ltd. (Presiden & COO Izumi Oi) mengumumkan pengeluaran mikroskop cryo-elektron pelepasan medan sejuk baharu (cryo-EM), CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300), yang akan dikeluarkan pada Januari 2021. cryo-EM telah dibangunkan berdasarkan konsep "Cepat dan mudah dikendalikan dan mendapatkan imej kontras tinggi dan resolusi tinggi".
Latar belakang pembangunan produk
Peningkatan dramatik terkini dalam resolusi dalam analisis zarah tunggal (SPA) menggunakan cryo-EM telah membawa kepada SPA sebagai kaedah penting untuk analisis struktur protein. Untuk menangani pasaran ini, JEOL mengeluarkan CRYO ARM™ 300 pada tahun 2017. Dilengkapi dengan pistol pelepasan medan sejuk (FEG Sejuk) untuk resolusi dipertingkatkan dan peringkat cryo untuk memuatkan berbilang sampel, CRYO ARM™ 300 telah terus mencapai prestasi terbaik- resolusi dalam kelas untuk SPA.
Walau bagaimanapun, aliran kerja SPA sebelum ini menggunakan cryo-EM memerlukan berbilang mikroskop elektron kerana aliran kerja untuk penyaringan sampel dan untuk pemerolehan data imej adalah bebas antara satu sama lain. Masalah ini menimbulkan kos operasi yang besar untuk pengguna cryo-EM. Memandangkan berbilang mikroskop mesti digunakan, adalah menyusahkan untuk memindahkan sampel cryo antara cryo-EM. Oleh itu, pengguna telah meminta satu cryo-EM yang membolehkan aliran kerja lengkap daripada penyaringan sampel kepada pemerolehan data imej. Tambahan pula, untuk membolehkan pelbagai pengguna menggunakan cryo-EM, peningkatan kebolehgunaan telah diperlukan, membolehkan sesiapa sahaja daripada pengguna baru kepada pengguna profesional untuk mengendalikan mikroskop dengan lancar.
Untuk memenuhi permintaan ini, JEOL telah membangunkan cryo-EM baharu, CRYO ARM™ 300 II. Mikroskop ini mencapai peningkatan hebat dalam pemprosesan untuk pemerolehan data berkualiti tinggi dengan operasi yang cepat dan mudah berbanding dengan CRYO ARM™ 300 sebelumnya.
Ciri-ciri Utama
- Pengimejan berkelajuan tinggi dicapai dengan kawalan pancaran elektron yang optimum
Untuk menyokong aliran kerja yang lengkap daripada penyaringan sampel kepada pemerolehan data imej, adalah amat penting untuk meningkatkan daya pemprosesan bagi pemerolehan data imej. Dalam CRYO ARM™ 300 II, pergerakan tepat peringkat spesimen digabungkan dengan prestasi anjakan pancaran yang sangat baik untuk pemerolehan data berkelajuan tinggi. Selain itu, pencahayaan "mod Koehler" yang unik membolehkan pencahayaan pancaran seragam ke tapak tertentu pada sampel, membolehkan lebih banyak imej diperoleh dari kawasan yang lebih kecil. Teknologi baharu ini membolehkan CRYO ARM™ 300 II menyampaikan daya pemprosesan dua kali ganda atau lebih tinggi daripada CRYO ARM™ 300. - Kestabilan perkakasan yang dipertingkatkan untuk pemerolehan imej berkualiti tinggi
Dalam melaksanakan SPA, walaupun pemerolehan sejumlah besar imej meningkatkan daya pemprosesan, ini tidak mencukupi. Pembinaan semula data resolusi tinggi daripada sebilangan kecil imej diperlukan, dan ini dicapai dengan kualiti imej yang tinggi. Untuk objektif ini, CRYO ARM™ 300 II dilengkapi dengan pistol pelepasan medan sejuk baharu (FEG Sejuk). FEG ini sebelum ini telah dimasukkan ke dalam GRAND ARM™ 2, mikroskop elektron analitik resolusi atom mewah yang dikeluarkan pada tahun 2020. Seperti kes GRAND ARM™ 2, Cold FEG baharu ini menghasilkan arus probe yang sangat stabil. CRYO ARM™ 300 II juga dilengkapi dengan penapis tenaga Omega dalam lajur baharu yang mempunyai kestabilan yang sangat baik. FEG Sejuk baharu dan penapis tenaga Omega baharu ini membolehkan pengguna memperoleh imej nisbah isyarat-ke-bunyi yang sangat tinggi. - Kebolehkendalian yang lebih tinggi melalui penambahbaikan sistem
CRYO ARM™ 300 II merangkumi pelbagai penambahbaikan sistem. Mikroskop ini dilengkapi dengan perisian JADAS (JEOL Automated Data Acquisition System for Cryo-EM) baharu (dinaik taraf kepada versi 4) untuk melaksanakan SPA. Perisian JADAS 4 ini, dibangunkan untuk pengguna baru, menyediakan kebolehkendalian yang lebih baik untuk pemerolehan data. Penapis Omega baharu menggabungkan sistem pelarasan diri automatik untuk mengurangkan penyelenggaraan rutin.
Peringkat spesimen mikroskop mempunyai kebolehulangan kedudukan yang sangat baik. Walaupun pengguna memindahkan sampel berulang-alik antara lajur mikroskop dan penyimpanan sampel, imej pembesaran rendah awal bagi keseluruhan grid sampel (peta global) masih boleh digunakan. Anda juga boleh menghentikan pemerolehan data imej dan menyaring grid sampel dengan pantas semasa pemerolehan data yang singkat ini berhenti.
Sistem pertukaran spesimen automatik mempunyai penyimpanan sehingga 12 sampel. Grid sampel boleh disimpan bersih dalam simpanan selama berminggu-minggu atau lebih lama tanpa pencemaran ais pada sampel.
Nota: JADAS 4 (JEOL Automated Data Acquisition System for Cryo-EM) adalah pilihan.
Spesifikasi Utama
| Pistol elektron | Pistol pelepasan medan sejuk (FEG Sejuk Baharu) |
| Voltan pecutan standard | 300 kV, 200 kV |
| Penapis tenaga | Penapis tenaga Omega dalam lajur (Penapis Omega Baharu) |
| Sudut kecondongan spesimen maksimum | ± 70 ° |
| Penyimpanan spesimen | Sehingga 12 spesimen boleh dipegang. |
| Aksesori | Plat fasa tanpa lubang |
| Pilihan | Sistem Pemerolehan Data Automatik JEOL untuk Cryo-EM (JADAS) dan lain-lain |
Sasaran jualan unit tahunan
10 unit/tahun
pautan
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.