Pusat Penyelesaian JEOL-Nikon CLEM
Kemudahan
JEOL Ltd. (Presiden Gon-emon Kurihara) dengan sukacitanya mengumumkan "Pusat Penyelesaian JEOL-Nikon CLEM", sebuah projek kerjasama antara Nikon dan JEOL Ltd., telah ditubuhkan pada 1 September 2017. Pusat ini akan dibuka di R & D Building of JEOL untuk memberikan pengalaman dan mengumpul serta menyampaikan maklumat teknikal mengenai penyelesaian CLEM* yang canggih.
* CLEM: Cahaya Korelatif & Mikroskopi Elektron
Gambaran keseluruhan Pusat Penyelesaian JEOL-Nikon CLEM
| Alamat | JEOL Ltd., 3-1-2 Musashino, Akishima, Tokyo |
|---|---|
| Pemasangan utama | Mikroskop optik (mikroskop stereo, mikroskop industri, sistem mikroskop laser confocal)
mikroskop elektron (mikroskop elektron penghantaran, mikroskop elektron pengimbasan, mikroanalisis probe elektron), dan pelbagai jenis peralatan penyediaan sampel |
| Tel | + 81-3-6262-3567 |
| Demonstrasi | Sila hubungi Pusat untuk mengatur demonstrasi. Demonstrasi adalah melalui temujanji sahaja. |
CLEM ialah kaedah pemerhatian dan analisis yang berkesan yang menggabungkan kelebihan dua jenis mikroskop: mikroskop optik, yang membolehkan pemerhatian medan luas yang cepat dan pemerolehan maklumat kedudukan dan penyetempatan molekul, dan mikroskop elektron, yang membolehkan pemerolehan data struktur minit melalui pemerhatian sampel di bawah resolusi spatial yang tinggi. Dalam tahun-tahun kebelakangan ini, keperluan untuk menggunakan CLEM dengan lebih berkesan, dengan menghubungkan mikroskop optik dan elektron melalui perisian, telah meningkat dalam penyelidikan biosains dan pembangunan bahan yang canggih.
Pada 2013, JEOL membangunkan "Sistem Mikroskopi Elektron Optik & Pengimbasan Terkait miXcroscopy" dengan kerjasama Nikon. Tambahan pula, pada Februari 2014, JEOL menandatangani perjanjian modal dan pakatan perniagaan dengan Nikon, dan telah menggalakkan kerjasama antara kedua-dua syarikat untuk membina penyelesaian CLEM yang menggabungkan mikroskop optik Nikon dan mikroskop elektron JEOL, serta meningkatkan keupayaan pembangunan dan jualan produk.
Di Pusat Penyelesaian baharu, kami akan memperkenalkan "miXcroscopy™", dan menawarkan penyelesaian CLEM untuk mempromosikan penggunaan CLEM. Kami juga akan mengumpul dan menyampaikan maklumat yang akan meningkatkan teknologi CLEM melalui dialog dengan pelanggan kami, dan menyumbang kepada penjanaan manfaat baharu dalam penyelidikan biosains dan pembangunan bahan.
Contoh: Pemerhatian CLEM terhadap bahan asing pada seramik kaca
Mengesan bahan asing menggunakan mikroskop optik (kiri), menangkap imej resolusi tinggi menggunakan mikroskop elektron (tengah), dan menganalisis komposisinya melalui analisis sinar-X ciri menggunakan mikroskop elektron (kanan). Akibatnya, bahan asing dikenal pasti sebagai besi. CLEM membolehkan pengesanan cepat dan tepat, pengenalpastian dan analisis bahan asing, dan pemeriksaan dan analisis kualiti produk yang lebih cekap, menyumbang kepada peningkatan produktiviti di kilang dan makmal.