Mikroskop Elektron Pengimbasan InTouchScope™ JSM-IT300HR

JSM-IT300HR ialah model baharu Siri InTouchScope JEOL.
Dilengkapi dengan senjata elektron kecerahan tinggi dan sistem optik baharu, JSM-IT300HR mencapai pengimejan dan analisis berkualiti tinggi dengan kepekaan tinggi dan resolusi spatial yang tinggi.
SEM termaju baharu ini memberikan prestasi hebat sambil mengekalkan pembinaan kebolehkendalian yang tinggi pada Siri InTouchScope yang memenangi anugerah.

Ciri-ciri

Persembahan Hebat

Kebolehkendalian tinggi: Senapang elektron kecerahan tinggi untuk langkah pelarasan yang sangat dikurangkan bagi pemerhatian kepada analisis

Walaupun dalam keadaan analitikal (jarak kerja 10 mm, arus probe 1 nA), JSM-IT300HR memberikan imej yang tajam pada pembesaran tinggi x100,000.

W-SEM konvensional

Imej tajam pada x100,000 boleh diperoleh di bawah keadaan pemerhatian (kiri), tetapi imej kabur di bawah keadaan analisis (kanan).  

x100,000 Keadaan pemerhatian (1 pA)
Spesimen: Zarah Au

x100,000 Keadaan analisis (1 nA)
Spesimen: Zarah Au

JSM-IT300HR

JSM-IT300HR memberikan imej yang tajam walaupun dalam keadaan analisis.

Pemerhatian: Pemerhatian mudah walaupun pada voltan pecutan rendah dan dalam mod vakum rendah

• Memandangkan JSM-IT300HR memberikan imej berkualiti tinggi walaupun pada pembesaran tinggi x50,000 hingga x100,000, struktur halus mudah diperhatikan.
• Pengimejan voltan rendah dan Pengimejan mod vakum rendah juga membolehkan pemerhatian imej berkualiti tinggi, jadi spesimen sensitif rasuk diperhatikan dengan kerosakan haba yang berkurangan dan struktur halus bahan penebat mudah diperhatikan.

Voltan pecutan rendah

• Pengecasan dikurangkan
• Mengurangkan kerosakan haba akibat penyinaran rasuk

Spesimen: Gentian nano Selulosa tidak bersalut (CNF)
Struktur halus setiap gentian mudah diperhatikan dengan pembesaran yang tinggi walaupun pada 1 kV.
Voltan pecutan: 1kV, Pembesaran: x30,000
Mod vakum tinggi, Imej elektron sekunder

Spesimen ihsan: Prof. H. Yano dan Prof Madya K. Abe,
Makmal. Institut Penyelidikan Bahan Berasaskan Bio Aktif untuk Humanosfera Lestari,
Universiti Kyoto

Mod vakum rendah dan voltan pecutan rendah

• Pengecasan dikurangkan
• Mengurangkan kerosakan haba akibat penyinaran rasuk
• Resolusi spatial yang tinggi

Spesimen: Keratan rentas tidak bersalut filem nipis optik kaca potong cahaya biru yang dikisar oleh Sistem Pancaran Ion Berfokus JIB-4000.
Dalam mod vakum Rendah, filem nipis optik bertebat mudah diperhatikan tanpa salutan konduktif.
Voltan pecutan: 3kV, Pembesaran: x50,000
Mod vakum rendah, Imej komposisi elektron berselerak belakang

Analisis elemen: ACL (kanta kawalan sudut apertur) untuk analisis elemen lancar dalam kawasan sub-mikrometer

Pemerolehan data yang lebih mudah dan pantas

• Fungsi panel sentuh "Pintar" untuk operasi intuitif digabungkan, yang merupakan ciri Siri InTouchScope.
• Resipi dibina berdasarkan kategori spesimen dan aplikasi. Resipi ini secara automatik menyediakan keadaan SEM yang dioptimumkan untuk pemerhatian dan analisis sebarang jenis spesimen.
• Sistem Navigasi Peringkat pilihan sangat memudahkan pencarian medan cerapan. Kamera CCD terbenam sepenuhnya menavigasi imej berwarna. Apabila mengklik dua kali pada imej berwarna, pentas dengan cepat bergerak ke medan pemerhatian.

spesifikasi

Pengenalan Produk JEOL

Mengimbas Mikroskop Elektron (SEM)

Maklumat lanjut