JEOL JSM-IT800 Mikroskop Elektron Pengimbasan Pelepasan Medan Schottky

JSM-IT800, Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope dengan JEOL Energy Dispersive X-ray Spectrometer(EDS) sebagai standard, disepadukan sepenuhnya dengan "Pusat SEM" GUI baharu, membolehkan pemerolehan data tanpa henti daripada pemerhatian kepada analisis unsur.
Peroformasi tinggi termaju dan bersepadu serta kemudahan penggunaan telah meningkatkan kecekapan kerja lebih daripada 50%, menjadikan pengukuran harian berkeupayaan tinggi.

CIRI1

CIRI 1
Versi Kanta Hibrid（HL）／Versi Kanta Super Hibrid（SHL）

Berdasarkan gabungan kanta medan elektrostatik dan elektromagnet, dua jenis versi kanta objektif tersedia. Konfigurasi yang berbeza membolehkan kepelbagaian keperluan pengguna yang lebih luas dipenuhi, mencapai pengimejan resolusi spatial tinggi dan analisis pelbagai sampel, daripada bahan magnet kepada penebat, sambil mengekalkan ciri yang sama JSM-IT800.

CIRI2

CIRI 2
Sistem Pengesanan dalam JSM-IT800〈SHL〉

Spesimen: bahagian cip IC (permukaan penyalut, salutan osmium), Voltan pecutan: 5.0 kV (tanpa mod BD), Mod pemerhatian: SHL, Pengesan: UHD，UED (mod BSE)
Imej SE boleh diperoleh dengan menggunakan UHD; dan imej BSE boleh didapati dengan menggunakan UED.

Spesimen: Cellulose Nanofiber (CNF), Voltan pecutan: 0.2 kV, Mod pemerhatian: BD, Pengesan: UHD+UED (penambahan isyarat)
Spesimen ihsan: Prefesor Hiroyuki Yano (Institut Penyelidikan dari Humanosphere Lestari, Universiti Kyoto, Jepun)
Malah spesimen adalah gentian organik, pemerhatian juga boleh dilaksanakan dengan mengawal kerosakan rasuk pada gentian organik.

CIRI3

CIRI 3
Pemetaan EDS dengan JSM-IT800

Selain BED (pengesan BSE biasa), SBED (pengesan BSE scintillator) dan VBED (pengesan BSE serba boleh) juga tersedia untuk dipasang.  

SBED（Pengesan BSE Scintillator）

Tanggungjawab dan sensitiviti pengesan dipertingkatkan apabila menggantikan elemen semikonduktor dengan scintillator dalam pengesan.

  • Spesimen: bahagian ultra nipis buah pinggang tetikus (pembalikan kontras)
    Voltan pecutan: 5.0 kV
    Kelajuan imbasan: 0.04 μsec/piksel (5120×3840 )

    Perhatikan ultra nipis biologi
    bahagian melalui pengimbasan kelajuan tinggi

  • Spesimen: toner
    Voltan pecutan: 1.5 kV

    Dapatkan imej gubahan
    pada voltan pecutan rendah

  • Spesimen: plat keluli (untuk memerhati kehelan)
    Voltan pecutan: 25.0 kV

    Dapatkan imej kehelan pada tinggi
    voltan memecut

VBED（Pengesan BSE Serbaguna）

Elemen pengesan semikonduktor dibahagikan kepada 5 bahagian. Mengikut tujuan pemerhatian, isyarat diperoleh secara terpilih daripada kawasan pengesanan yang berbeza bagi 5 bahagian ini.

Pemilihan sudut

  • Spesimen: fosfor, Voltan pecutan: 3.0 kV

Mengikut sudut pengesanan BSE yang berbeza, maklumat komposisi pada dasarnya diperoleh melalui pengesanan dalam
elemen VBED dan maklumat topografi pada dasarnya diperoleh melalui elemen pengesan luar. Di samping itu, ia adalah
luar biasa bahawa fosfor di bawah filem Al adalah terang apabila menggunakan unsur dalam pengesan untuk memerhati.

Imej 3 dimensi boleh dibina semula dengan menggunakan imej 2 dimensi yang diperoleh daripada 4 arah.

Peta EDS resolusi spatial tinggi

Walaupun saiz nanopartikel Ag adalah kecil hingga berpuluh-puluh nanometer, pemetaan unsur juga boleh menjadikannya kelihatan.

Sistem Pertukaran Spesimen

Sistem pengeluaran sesuai untuk pertukaran spesimen besar

Pemerolehan imej optik menyokong kedua-dua sistem pertukaran spesimen

Ruang pertukaran spesimen membolehkan pemuatan/pemunggahan spesimen yang cepat dan bersih