CRYO ARM™ 200S
Mikroskop Krio-Elektron Pelepasan Medan

Selamat datang ke Resolusi Ultra Tinggi dan Dunia yang Indah

Automasi dipacu AI dan daya pemprosesan yang lebih tinggi menjadikan JEOL cryo-EM lebih pantas, lebih boleh dihasilkan semula dan boleh diakses oleh setiap pengendali. Mikroskop krio-elektron pancaran medan sejuk 200 kV terkini JEOL yang menawarkan analisis zarah tunggal (SPA), tomografi krio-elektron (cryo-ET), 3DED/MicroED dan seterusnya, semuanya dalam satu instrumen yang sangat automatik. CRYO ARM™ 200S direka bentuk untuk menyampaikan data struktur resolusi tinggi dengan kestabilan, daya pemprosesan dan kemudahan penggunaan yang diperlukan oleh makmal struktur-biologi dan penemuan ubat hari ini.

Ciri-ciri

CRYO ARM™ 200S × SmartScope
Pemerolehan data analisis zarah tunggal yang disokong oleh AI

SmartScope ¹ merupakan perisian sumber terbuka yang menyokong pemerolehan data dalam analisis zarah tunggal. Menggunakan AI, ia secara automatik mengesan kawasan yang sesuai untuk pengimejan dan boleh mengautomasikan keseluruhan proses sehingga pemerolehan data. Di samping itu, dengan UI intuitif yang mengatur aliran operasi dengan cara yang mudah dan dengan konfigurasi yang diperlukan dikekalkan pada tahap minimum, malah pemula boleh mencapai pemerolehan data yang stabil tanpa mengira tahap pengalaman.

1. Jonathan Bouvette et al., eLife, 11: e80047 (2022)

Workflow

Antara muka

CRYO ARM™ 200S × Inovasi Sistem
Daya pemprosesan yang tinggi, operasi yang mudah

Sistem pemindahan sampel pintar CRYO SPECPORTER™-S

CRYO SPECPORTER™ -S yang canggih memisahkan storan untuk pemeliharaan sampel daripada magasin pemindahan yang digunakan untuk pertukaran sampel. Ini membenarkan pengendalian terpilih hanya sampel yang diperlukan semasa analisis, menghapuskan keperluan untuk memuatkan dan memunggah semua sampel dalam instrumen semasa pertukaran. Ini menyokong operasi yang stabil dan cekap, walaupun dalam persekitaran berbilang pengguna.

Pengendalian kartrij yang dipertingkatkan dengan kapasiti pemindahan yang lebih tinggi

Bilangan kartrij yang boleh dimuatkan ke dalam satu magazin pada satu masa telah berkembang daripada empat kepada enam, sekali gus mengurangkan kekerapan dan masa yang diperlukan untuk pertukaran sampel, meningkatkan daya pemprosesan sambil mengekalkan persekitaran penyimpanan sampel yang stabil.

Keupayaan pengimejan berbilang grid "tanpa penghujung"

Sistem pemindahan sampel yang fleksibel membolehkan pertukaran individu terpilih hanya untuk sampel yang diperlukan. Dalam pengimejan berbilang grid, sampel yang dianalisis boleh ditukar mengikut keperluan manakala sampel baharu dimuatkan terlebih dahulu, membolehkan operasi semalaman tanpa gangguan dan memaksimumkan kecekapan pemerolehan data.

Penyimpanan sampel dalam persekitaran yang bersih

Penyimpanan dikekalkan di bawah vakum dan pada suhu nitrogen cecair, membolehkan penyimpanan sampel selama lebih kurang satu bulan dalam keadaan bersih dan bebas pengumpulan ais. Ini membolehkan pengurusan sampel yang fleksibel mengikut jadual analisis.

Rasuk direka untuk hasil maklumat maksimum

CRYO ARM™ 200S menampilkan pencahayaan bebas pinggiran, yang menghalang gangguan pinggiran semasa pengimejan. Dengan menggunakan pancaran dengan cekap, data boleh diperoleh dengan daya pemprosesan yang tinggi sambil meminimumkan kerosakan pada sampel.

Fleksibiliti pancaran elektron yang lebih baik

Tujuh keadaan pancaran bebas pinggir yang dioptimumkan untuk setiap saiz apertur membolehkan pencahayaan ideal merentasi pelbagai spesimen.

Jangka hayat yang lebih lama untuk penyelenggaraan yang lebih rendah

Pam Roots digunakan untuk selang penyelenggaraan yang lebih lama, mengurangkan masa henti dan memastikan masa operasi sistem yang tinggi.

spesifikasi

Instrumen utama

Peringkat Spesimen / Sistem pertukaran spesimen automatik

Produk Berkaitan

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

Sistem CRYO-FIB-SEM ini menggabungkan peringkat penyejukan nitrogen cecair dan mekanisme pemindahan spesimen cryocooled untuk spesimen beku, membolehkan untuk menyediakan spesimen TEM seperti biopolimer. Mekanisme pemindahan spesimen mempunyai fungsi salutan sputter terbina dalam. Oleh itu, sistem CRYO-FIB-SEM ini sahaja boleh melakukan satu siri proses untuk mencipta spesimen TEM daripada spesimen beku termasuk salutan kekonduksian, pembentukan filem pelindung dan pemprosesan FIB. Selain itu, dengan menggunakan kartrij CRYO ARM™ JEOL, pemindahan spesimen terus ke CRYO ARM™ selepas penyediaan spesimen TEM menjadi lebih mudah.

Mikroskop Elektron JEM-120i

JEM-120i ialah Mikroskop Elektron Transmisi yang baru dibangunkan dengan voltan pecutan 120 kV dan berdasarkan konsep "Kompak", "Mudah Digunakan", dan "Boleh Diperluas". Dengan penampilan luaran yang baharu, instrumen ini telah berkembang menjadi alat berguna yang boleh digunakan oleh sesiapa sahaja dengan mudah, daripada operasi hingga penyelenggaraan.

XtaLAB Synergy-ED Electron Diffractometer

XtaLAB Synergy-ED ialah difraktometer elektron baharu sepenuhnya yang lahir daripada sinergi teknologi teras Rigaku dan JEOL.
Dengan menyepadukan aliran daripada pemilihan sampel pengukuran (nanocrystals) kepada pengumpulan dan analisis data, analisis struktur pembelauan elektron boleh digunakan dengan mudah oleh bukan pakar yang tidak mempunyai kepakaran dalam mikroskop elektron dan kristalografi yang diperlukan secara konvensional.

Kamera CMOS Rangkaian Gentian Bunyi Rendah Siri SightSKY™ Kepekaan Tinggi

Sensor CMOS piksel 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan butiran spesimen halus dan memperoleh isyarat tinggi kepada imej hingar walaupun pada dos elektron yang rendah. Pengatup global dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa kajian pemerhatian dinamik dalam-situ. Sistem kamera Platform Bersepadu SightSKY™ menawarkan JEOL™, Analisis Platform JEOL™. operasi mesra pengguna dan pemerolehan data.

Maklumat lanjut