CRYO ARM™ 200Ⅱ(JEM-Z200CA)
Cryo-Electron Pelepasan Medan
Mikroskop

Mikroskopi cryo-elektron telah ditubuhkan sebagai kaedah untuk membolehkan pemerhatian sel dan molekul biologi tanpa penetapan dan tiada pewarnaan. Disebabkan kemajuan pesat perkakasan dan perisian baru-baru ini, teknik mikroskopi ini telah menjadi semakin penting sebagai kaedah analisis struktur berskala atom. Di samping itu, teknologi yang membolehkan analisis protein membran tanpa penghabluran telah dibangunkan, menyebabkan peningkatan penggunaan mikroskop cryo-elektron untuk penemuan ubat. Oleh itu, pemasangan mikroskop cryo-elektron (cryo-EM) di universiti dan makmal penyelidikan sangat pesat. Untuk memenuhi keperluan pengguna cryo-EM, JEOL telah membangunkan cryo-EM baharu "CRYO ARM™ 200Ⅱ", yang secara automatik memperoleh data imej untuk Analisis Zarah Tunggal dalam jangka masa yang panjang, berdasarkan kepingan tiang resolusi tinggi (HR) dan juga boleh digunakan untuk tomografi Cryo dan Micro-ED pada bahagian tiang jurang lebar (WG).

Ciri-ciri

Sistem pertukaran spesimen automatik

Sistem ini terdiri daripada peringkat spesimen untuk menyejukkan sampel pada suhu nitrogen cecair dan sistem pemindahan cryo untuk memindahkan sampel yang disejukkan secara automatik ke peringkat cryo. Nitrogen cecair dibekalkan secara automatik ke tangki nitrogen cecair seperti yang diperlukan. Sistem automatik ini menampilkan penyimpanan sehingga 12 sampel dan pertukaran satu atau lebih sampel sewenang-wenangnya manakala sampel selebihnya disimpan disejukkan antara peringkat spesimen dan sistem pertukaran spesimen. Keupayaan unik ini membolehkan penjadualan fleksibel mikroskopi.

Pistol pelepasan medan sejuk (FEG Sejuk)

FEG sejuk menghasilkan pancaran elektron kecerahan tinggi dengan sebaran tenaga yang sangat kecil, menawarkan kepaduan yang tinggi. Oleh itu, CRYO ARM™ 200Ⅱ mencapai resolusi tinggi, pengimejan kontras tinggi.

Penapis tenaga Incolun (penapis omega)

Dilengkapi dengan penapis tenaga incolumn (penapis omega), CRYO ARM™ 200Ⅱ memperoleh imej yang ditapis tenaga dan spektrum kehilangan tenaga. Imej kehilangan sifar yang diperoleh dengan mikroskop memberikan kontras yang tinggi dengan penyimpangan kromatik yang dikurangkan.

Perisian pemerolehan imej automatik untuk Analisis Zarah Tunggal

CRYO ARM™ 200Ⅱ menggabungkan perisian automatik. Perisian ini membolehkan pengesanan automatik lubang pada grid spesimen untuk pemerolehan imej Analisis Zarah Tunggal dengan cekap.

Plat fasa tanpa lubang ^*1

Plat fasa unik ini sesuai untuk kontras yang lebih tinggi dalam spesimen biologi yang pada asalnya hanya memberikan kontras yang rendah.

Fungsi pelarasan automatik ^*2

Fokus auto, penjajaran bebas koma automatik, pencahayaan pancaran selari automatik dan pelarasan automatik lain tersedia, membolehkan pemerolehan imej dalam keadaan optimum.

• Unit pilihan.

• Imej yang diperoleh dengan kamera pelekap bawah digunakan.

spesifikasi

Instrumen utama

Peringkat Spesimen / Sistem pertukaran spesimen automatik

Muat turun Katalog

CRYO ARM™ 200Ⅱ(JEM-Z200CA)Pancaran Medan Cryo-Electron

Permohonan

Permohonan JEM-Z200CA

CryoNote

Nota Polimer

Meneroka Sampel Biologi dalam 3D Melangkaui Tomografi Elektron Klasik

Galeri

Saluran persimpangan jurang Innexin-6

Keadaan eksperimen

• Contoh: Innexin-6 (Caenorhabditis elegans)

• Mikroskop: CRYO ARM™300 (300kV CFEG) dengan Gatan K2

• Perisian yang digunakan untuk pemerolehan imej : JADAS (1974 imej)

• Bilangan zarah: 91,613 (Pengambilan awal), 37,767 (untuk pembinaan semula 3D)

• Perisian yang digunakan untuk analisis imej: Relion3

• Resolusi: 3.0 Å (pada FSC = 0.143)

Apoferritin

Peleraian tertinggi 1.53 Å dicapai oleh cryoEM 2019.02

apoferritin tikus

Fenilalanina

Atom sulfur metionin

Tryptophan

• Ciri optik: Penapis tenaga jenis FEG 300 kV & Ω sejuk dengan lebar celah 20 eV

• Pengesan: Gatan K2 (saiz piksel imej: 0.495 Å, mag x100,000)

• Grid: Kuantifoil 1.2/1.3 Cu 200 mesh, disimpan dalam autoloader selama 3 hari sebelum pengumpulan data

• Bilangan mikrograf: 974 dikumpul selama 24 jam, 840 digunakan untuk analisis imej

• Bilangan zarah: 120,295 digunakan untuk pembinaan semula akhir

• Perisian: RELION 3.1b, CTFFIND4

• Resolusi: 1.53 Å (faktor B: 47)

• Nota: 56 imej pertama sahaja menghasilkan peta dengan resolusi 1.76 Å (faktor B: 45)

Plasmid apoferritin tikus dari Yanagisawa, Danev & Kikkawa @Tokyo University
Kato, Makino, Nakane, Terahara, Kaneko, Shimizu, Motoki, Ishikawa, Yonekura & Namba 2019.02 (EMDB-9865)

ß-galactosidase

β-galactosidase 2.43 Å resolusi CRYO ARM™

β-galactosidase 2.43 Å resolusi CRYO ARM™

• Contoh:
  β-galactosidase dengan PETG

• Mikroskop:
  CRYO ARM™ (Schottky 200 kV) / puncak K2

• Bilangan Imej:
  2,500 dalam tempoh 3 hari oleh JADAS

• Saiz piksel imej:
  0.8 Å/piksel

• Bilangan imej zarah:
  350,000(Pilihan awal), 88,564 (untuk pembinaan semula 3D terakhir)

• perisian:
  Motioncor2, Gctf, Gautomatch, Relion2.0

• Jumlah dos:
  70 e-/Å2 (70 bingkai (0.2 saat/bingkai x 14 saat)

Data: ihsan oleh Dr. T. Kato dan Dr. K. Namba, Universiti Osaka, Ogos 2017

Produk Berkaitan

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

Sistem CRYO-FIB-SEM ini menggabungkan peringkat penyejukan nitrogen cecair dan mekanisme pemindahan spesimen cryocooled untuk spesimen beku, membolehkan untuk menyediakan spesimen TEM seperti biopolimer. Mekanisme pemindahan spesimen mempunyai fungsi salutan sputter terbina dalam. Oleh itu, sistem CRYO-FIB-SEM ini sahaja boleh melakukan satu siri proses untuk mencipta spesimen TEM daripada spesimen beku termasuk salutan kekonduksian, pembentukan filem pelindung dan pemprosesan FIB. Selain itu, dengan menggunakan kartrij CRYO ARM™ JEOL, pemindahan spesimen terus ke CRYO ARM™ selepas penyediaan spesimen TEM menjadi lebih mudah.

Mikroskop Elektron JEM-120i

JEM-120i ialah Mikroskop Elektron Transmisi yang baru dibangunkan dengan voltan pecutan 120 kV dan berdasarkan konsep "Kompak", "Mudah Digunakan", dan "Boleh Diperluas". Dengan penampilan luaran yang baharu, instrumen ini telah berkembang menjadi alat berguna yang boleh digunakan oleh sesiapa sahaja dengan mudah, daripada operasi hingga penyelenggaraan.

XtaLAB Synergy-ED Electron Diffractometer

XtaLAB Synergy-ED ialah difraktometer elektron baharu sepenuhnya yang lahir daripada sinergi teknologi teras Rigaku dan JEOL.
Dengan menyepadukan aliran daripada pemilihan sampel pengukuran (nanocrystals) kepada pengumpulan dan analisis data, analisis struktur pembelauan elektron boleh digunakan dengan mudah oleh bukan pakar yang tidak mempunyai kepakaran dalam mikroskop elektron dan kristalografi yang diperlukan secara konvensional.

Kamera CMOS Rangkaian Gentian Bunyi Rendah Siri SightSKY™ Kepekaan Tinggi

Sensor CMOS piksel 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan butiran spesimen halus dan memperoleh isyarat tinggi kepada imej hingar walaupun pada dos elektron yang rendah. Pengatup global dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa kajian pemerhatian dinamik dalam-situ. Sistem kamera Platform Bersepadu SightSKY™ menawarkan JEOL™, Analisis Platform JEOL™. operasi mesra pengguna dan pemerolehan data.

Maklumat lanjut