JEM-120i
Mikroskop Elektron

Ia adalah Alat Berguna untuk Setiap Pengguna!

Mikroskop Elektron Penghantaran(TEM) dengan voltan pecutan 120kV digunakan secara meluas dalam bidang bahan lembut seperti biologi dan polimer. Kami baru membangunkan JEM-120i dengan konsep "Kompak", "Mudah Digunakan", dan "Boleh Diperluas". Dengan penampilan luaran yang baharu, instrumen ini telah berkembang menjadi alat berguna yang boleh digunakan oleh sesiapa sahaja dengan mudah, daripada operasi hingga penyelenggaraan.

Ciri-ciri

Kompak

Dengan pengurangan saiz yang drastik, JEM-120i mempunyai kedudukan penggantian filamen dan kedudukan sisipan pemegang spesimen lebih rendah daripada instrumen sedia ada. Unit filamen jenis kartrij yang baru dibangunkan membantu menjadikan penggantian filamen mudah dan selamat untuk sesiapa sahaja.

Alat ini mempunyai lampu LED di hadapannya dan warnanya berubah bergantung pada keadaan TEM. Anda boleh menentukan keadaan operasinya pada jarak jauh.

Operasi Mudah

Pemerhatian spesimen dengan operasi mudah

Ia mengambil hanya 4 langkah daripada memuatkan spesimen untuk melengkapkan pemerhatian. Selepas memasukkan pemegang spesimen, mengklik Butang Mula secara automatik melakukan operasi penyediaan pemerhatian seperti peningkatan voltan dan permulaan pelepasan. Imej kawasan luas ditangkap pada masa yang sama. Jadi, mengklik medan sasaran akan memindahkan pentas ke kedudukan yang diklik. 

Memandangkan "Mod Butler" standard membantu pemerolehan data, seorang pemula pun boleh menangkap data dengan mudah. Apabila pemerhatian selesai, anda boleh menukar pemegang sampel sambil mengekalkan pelepasan.

Pemerhatian spesimen dalam 4 langkah

Pemerhatian lancar tanpa menukar mod pembesaran

JEM-120i dilengkapi dengan sistem kawalan TEM yang dipertingkatkan dan apertur automatik sepenuhnya, menghapuskan keperluan untuk menukar mod pembesaran dan memilih apertur. Operasi pemerhatian boleh dilakukan dengan lebih lancar berbanding model sebelumnya.

Kebolehbagaian

JEM -120i menyokong pelbagai pengubahsuaian. Ia juga memenuhi keperluan untuk fungsi tambahan selepas pembelian. 

video

Pautan Berkaitan

-Alat Berguna untuk Setiap Pengguna! - Mikroskop Elektron Baru JEM-120i Dikeluarkan

Sebab TEM tahun ke-75 kelihatan seperti perkakas rumah pintar

spesifikasi

• 1 (HC): Konfigurasi kontras tinggi

• 2 (HR): Konfigurasi resolusi tinggi

Muat turun Katalog

Mikroskop Elektron JEM-120i

Kesesuaian

CryoNote

Pemerhatian spesimen biologi oleh JEM-1400Flash ー Aliran dari penyediaan sampel ke pemerhatian ー

CLEMnote

Imej mikroskop elektron penghantaran ultralebar buah pinggang tetikus

Pemerhatian Kawasan Luas dengan Menggunakan Cip Tetingkap SiN

Zarah emas dimakan oleh paramecium

Cip Tetingkap SiN dan aplikasinya

Pemerhatian Kawasan Luas dengan Menggunakan Cip Tetingkap SiN

Imej ultra lebar yang sangat tepat diperoleh dengan menggunakan Cip Tetingkap SiN dan fungsi sistem montaj automatik "Panorama Tanpa Had (LLP)".

Imej mikroskop elektron penghantaran ultralebar buah pinggang tetikus

Bahagian ultranipis buah pinggang tetikus yang dipasang pada Cip Tetingkap SiN telah diimej menggunakan fungsi Panorama Tanpa Had (LLP), sistem montaj automatik.

Zarah emas dimakan oleh paramecium

Paramecium yang dikultur dalam medium kultur dengan zarah nano emas diperhatikan dengan menggunakan LM dan TEM dan imej telah ditindih. Zarah emas hanya diperhatikan di kawasan bercahaya oren.

Produk Berkaitan

SightSKY (EM-04500SKY) Kepekaan tinggi, kamera CMOS gandingan gentian hingar rendah

• Sensor CMOS 19 M piksel kepekaan tinggi, hingar rendah membolehkan pengimejan yang lebih jelas dengan butiran spesimen halus boleh diperhatikan walaupun pada dos elektron yang rendah.

• Pengatup globalnya dan kadar bingkai tinggi (mod 58 fps/piksel penuh) membolehkan pemerolehan siri imej dengan kurang artifak semasa pemerhatian dinamik.

• Perisian kawalan sistem kamera "SightX" menyediakan operasi yang mesra pengguna.

Cip Tetingkap SiN

Filem SiN berkekuatan tinggi membolehkan kita memerhatikan kawasan bersiri besar bersaiz milimeter. Ia juga sesuai untuk pemerhatian bahagian yang dihiris secara bersiri kerana tiada kawasan yang tidak kelihatan yang disebabkan oleh grid TEM konvensional. Penahan khusus memudahkan untuk melakukan Correlative Light and Electron Microscopy (CLEM).

Maklumat lanjut