JCM-7000Plus
SEM Atas Bangku NeoScope™
Perhatikan "Sekarang". Bertindak "Seterusnya"
Pemerhatian Langsung, Berkembang. SEM Atas Benchtop
SEM atas meja JCM-7000Plus mengubah pemerhatian rutin kepada pandangan segera. Dengan menggabungkan pengimejan SEM berkualiti tinggi dengan analisis elemen masa nyata dan aliran kerja automatik, SEM atas meja ini membantu pengguna memahami spesimen mereka dengan cepat dan bergerak dengan yakin ke langkah seterusnya.
Sama ada menapis bahan, menyiasat kecacatan atau menjalankan kawalan kualiti, JCM-7000Plus memberikan maklumat yang anda perlukan—apabila anda memerlukannya.
Ciri-ciri
Perhatikan "Sekarang"
Daripada pemerhatian SEM Mudah kepada analisis Langsung
Bertindak "Seterusnya"
Data berkualiti tinggi untuk menyokong keputusan anda
Zeromag
Operasi lancar dari optik ke pengimejan SEM
Zum masuk pada imej optik akan bertukar secara automatik kepada imej SEM.
・Pemeriksaan adalah mudah tanpa memerlukan pra-rawatan dalam mod vakum rendah standard.
・Tambahan pula, JCM-7000Plus melaraskan kontras dan kecerahan, fokus dan astigmatisme secara automatik untuk menghasilkan imej SEM berkualiti tinggi dengan cepat
Spesimen: Garam
Spesimen: Tablet dan Gigi Jerung
Empat fungsi Langsung lanjutan
Dapatkan pemahaman segera tentang spesimen anda semasa anda memerhati
01. Analisis Langsung
Analisis unsur semasa pemerhatian
JEOL merupakan salah satu daripada beberapa pengeluar yang membangunkan mikroskop elektron dan sistem EDS secara dalaman. Spektrum sinar-x kawasan yang dicerap, dan elemen utama yang dikenal pasti selepas kelayakan automatik boleh dipaparkan pada skrin cerapan dalam masa nyata. Pemerhatian dan analisis elemen boleh dilakukan pada skrin yang sama, membolehkan analisis yang lancar tanpa mengganggu aliran kerja anda. Di samping itu, memandangkan mikroskop elektron dan EDS disepadukan dalam reka bentuk, pengukuran automatik (NeoAction) boleh dilakukan.
Imej yang diperhatikan dan analisis unsur pada skrin yang sama
Spesimen：Aloi
02. Peta Langsung
Memvisualisasikan taburan unsur
dalam masa nyata
Spesimen: Permukaan retakan logam
03. Hidup 3D
Mendedahkan topografi permukaan serta-merta
Spesimen: Keratan rentas komponen elektronik
04. Zarah Hidup
Pengukuran saiz zarah secara automatik
Zarah dikesan secara automatik daripada imej SEM. Taburan saiz zarah, saiz zarah purata dan variasi semuanya boleh diperoleh dalam masa nyata.
Spesimen: Zarah silikon oksida
Mod Vakum Rendah
Perhatikan spesimen seperti sedia ada tanpa rawatan awal
Apabila pancaran elektron disinari ke atas spesimen bukan konduktif (penebat), elektron terkumpul di permukaan spesimen, menyebabkan fenomena yang dikenali sebagai "pengecasan". Ini boleh mengakibatkan imej yang luntur, herotan dan hingar imej. Dalam mod vakum rendah, pemerhatian yang stabil adalah mungkin dengan memasukkan gas atau udara ke dalam ruang spesimen untuk mengurangkan pengecasan. Spesimen penebat seperti kaca dan seramik serta spesimen lembapan/mudah dicas seperti makanan, polimer dan benda hidup boleh diperhatikan dan dianalisis tanpa memerlukan salutan.
Pemerhatian dan analisis pantas dengan SEM tanpa rawatan spesimen
- Contoh mod vakum rendah -
Mengapa tidak memerhatikan spesimen penebat bukan konduktif dalam SEM tanpa sebarang prarawatan? Di sini, kami membentangkan contoh aplikasi JCM-7000 yang berkesan dalam mod vakum rendah (LV), untuk bahan polimer, bahan perindustrian, mineral, makanan dan spesimen biologi/tumbuhan.
Pelarasan Imej Automatik x Mod Vakum Tinggi x Resolusi Tinggi
Resolusi 6 nm dicapai
JCM-7000Plus menerima pakai voltan pendaratan (voltan pecutan) sehingga 20 kV! Fungsi pelarasan imej automatik yang dipertingkatkan dan mod vakum tinggi yang terbukti daripada model sebelumnya telah meningkatkan resolusi dengan lebih tinggi! Pemerhatian resolusi tinggi dan analisis EDS berketepatan tinggi memberikan tahap kualiti data yang lebih tinggi.
Spesimen: Zarah zink oksida
Spesimen: Serat nano kitin
(menggunakan pemegang STEM yang dipermudahkan)
Spesimen disediakan oleh OMURATORYO Co., Ltd.
Spesimen: Bahan binaan yang mengandungi asbestos
Mod Vakum Tinggi
Pemerhatian dan analisis yang sangat tepat
Dalam mod vakum tinggi, penyebaran elektron adalah minimum dan elektron sekunder dapat dikesan dengan cekap, membolehkan pemerhatian mikrostruktur yang jelas pada pembesaran tinggi. Di samping itu, analisis unsur dengan ralat kualitatif yang dikurangkan adalah mungkin dalam analisis EDS. Walaupun merupakan SEM atas meja, ia memberikan data ketepatan tinggi untuk pemerhatian morfologi dan analisis unsur.
Fungsi automatik yang dipertingkatkan
Neo Action
Automatikkan pengukuran berulang
Neo Action (pilihan) ialah fungsi SEM untuk memerhati/menganalisis spesimen secara automatik dengan mengubah keadaan seperti voltan/isyarat pendaratan, pelarasan imej automatik dan mengubah kedudukan berdasarkan aliran kerja yang telah ditetapkan, seolah-olah dikendalikan oleh pengendali.
Ini membolehkan kerja rutin tanpa pengawasan daripada pemerolehan data hingga penjanaan laporan.
Montaj
Pemerolehan data automatik dari kawasan yang luas
Ia merupakan fungsi yang secara automatik memperoleh luas skala milimeter yang ditentukan.
SEM menggerakkan pentas secara automatik dan menangkap imej, kemudian menggabungkan imej SEM yang diperoleh untuk menghasilkan imej atau pemetaan kawasan luas.
Oleh kerana ia boleh mendapatkan imej piksel tinggi pada medan pandangan yang luas, ia membolehkan analisis daripada keseluruhan struktur hingga ke kawasan setempat dan menyediakan data yang mudah difahami walaupun oleh pengguna yang tidak melakukan pengukuran.
Analisis Pelbagai Medan Pandangan
Pengukuran automatik pelbagai medan
Pengukuran automatik berbilang lokasi boleh dilakukan walaupun dengan medan pandangan yang berbeza, hanya dengan menentukan keadaan pemerolehan dan kawasan analisis. Kawalan peringkat ketepatan tinggi membolehkan pemerolehan data yang stabil.
spesifikasi
Spesifikasi utama
| Resolusi | 6.0 nm (20 kV, WD 12mm, Mod vakum tinggi, Imej elektron sekunder) 8.0 nm (20 kV, WD12 mm, Mod vakum tinggi, Imej elektron berselerak balik) |
|---|---|
| Pembesaran langsung | ×10 hingga 100,000 (Pembesaran ditakrifkan oleh 128 mm × 96 mm) |
| mod | Mod Vakum Tinggi：Imej elektron sekunder, Imej elektron berselerak balik (komposisi, topografi dan bayang-bayang, imej 3D) Mod Vakum Rendah：Imej elektron berselerak balik (komposisi, topografi dan bayang-bayang, imej 3D) |
| Voltan pendaratan (Voltan pecutan) |
5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV (4 peringkat) |
| Sumber elektron | Filamen tungsten/grid bersepadu Wehnelt |
| Tahap spesimen | Peringkat pemacu motor XY X: 40 mm Y: 40 mm |
| Saiz spesimen maksimum | 80 mm diameter × 50 mm tinggi |
Muat turun Katalog
Permohonan
Galeri
Bahan binaan yang mengandungi asbestos
Pengenalpastian Mineral
Papan litar
Analisis kegagalan
Bakteria asid laktik
Pemerhatian mikroorganisma
Keratan Rentas Daun Lobak Merah
Pemerhatian Dalaman
Aplikasi Berkaitan dengan JCM-7000Plus
Keratan Rentas Mi Diperhatikan pada Pelbagai Suhu Penyejukan
Maklumat lanjut
【Senarai pemasangan terpilih】Muzium Alam Ibaraki
Muzium Alam Semula Jadi Ibaraki (Bando, wilayah Ibaraki) memperkenalkan mikroskop elektron imbasan atas meja (SEM) yang boleh dikendalikan oleh pelawat. Semua operasi yang diperlukan untuk pemerhatian dilakukan melalui panel sentuh. Ia akan menyediakan pameran baharu yang menarik yang akan membuatkan kanak-kanak "ingin pergi ke sana lagi".
Perbezaan antara Mikroskop Elektron (SEM/TEM) dan Mikroskop Optik (OM) - Mekanisme, Ciri dan Contoh Pemerhatian
Mikrostruktur yang tidak kelihatan dengan mata kasar kita boleh diperhatikan secara terperinci apabila mikroskop digunakan. Rajah di bawah menggambarkan perbezaan saiz dan resolusi yang boleh diperhatikan antara "mata manusia", "Mikroskop Optik", dan "Mikroskop Elektron (SEM)".
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.