Spektrometer X-ray Penyerakan Tenaga
EDS untuk JEOL SEM
EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) ialah lampiran untuk mikroskop elektron. Ia mengesan sinar-X ciri yang dipancarkan daripada spesimen oleh penyinaran pancaran elektron, membolehkan analisis unsur.
JEOL ialah satu-satunya pengeluar yang mempunyai EDS dalaman dan mikroskop elektron. JEOL menawarkan EDS yang dibangunkan oleh JEOL secara eksklusif untuk setiap model SEM.
Diintegrasikan sepenuhnya dengan skrin operasi SEM, analisis langsung sentiasa boleh dilakukan dari skrin pemerhatian walaupun semasa operasi SEM.
Jadual tenaga untuk analisis EDS untuk dimuat turun
Anda boleh memuat turun data PDF jadual tenaga sinar-X ciri untuk analisis EDS di sini. Kami berharap anda mendapati ia berguna untuk kerja dan penyelidikan anda.
Ciri-ciri
Ikon operasi untuk operasi mudah yang disepadukan dengan SEM
Paparan spektrum EDS (Analisis Langsung) dan peta unsur (Peta Langsung) adalah mungkin sepanjang masa walaupun semasa pemerhatian SEM.
Imej dan filem adalah contoh mikroskop elektron pengimbasan atas meja NeoScope™ JCM-7000.
Penjanaan automatik lapisan aloi daripada peta unsur!
Analisis fasa mudah & berguna.
Memaparkan pengedaran unsur hanya kepada kompaun!
Paparan visual boleh dilakukan dengan dua jenis analisis fasa (Kluster dan VCA)!
Untuk analisis fasa (dalam bingkai merah), satu klik butang akan melakukan pemisahan fasa daripada data pemetaan.
Analisis fasa kluster--- kompaun yang sama dipaparkan dalam warna yang sama
Analisis fasa VCA --- sebatian dengan kontras teduh (lebih banyak/kurang komponen ditunjukkan)
Pada asasnya, ia adalah automatik. Tetapi tetapan manual bilangan fasa adalah mungkin.
Imej Komposisi Elektron Terserak Belakang
Mod analisis fasa kluster
Jangan sekali-kali terlepas perubahan elemen atau spesimen!
Rekod perubahan dengan masa EDS dengan analisis main balik.
Contoh penggunaan 1
Berguna untuk pemerhatian perubahan bentuk/taburan unsur (pemerhatian in-situ) dengan memanaskan/menyejukkan dalam SEM！
Peta unsur EDS permukaan pemadam telah diperoleh, dijadikan filem dengan analisis main balik (140 kali ganda kelajuan).
Filem ini telah merakamkan bagaimana permukaan pemadam pasir berubah bentuk oleh pancaran elektron dan cara pengagihan unsur berubah dengan sewajarnya.
Contoh penggunaan 2
Apabila spesimen berubah bentuk semasa pemetaan unsur, fungsi ini boleh mengekstrak data sebelum ubah bentuk sahaja dan menyerahkannya!
Contoh penggunaan 3
Berguna untuk pelarasan / anggaran bilangan penyepaduan untuk pemetaan unsur!
Rakan kongsi yang boleh dipercayai untuk pengukuran automatik bilangan zarah, saiz dan maklumat unsur! Analisis zarah
spesifikasi
Spesifikasi biasa JEOL EDS
Jenis pengesan: SDD (nitrogen cecair)
Elemen yang boleh dikesan: Be to U
Fungsi standard: Analisis kualitatif, analisis kuantitatif dipermudah, peta unsur, montaj peta
Fungsi pilihan: Analisis fasa, main balik, analisis zarah, dsb.
| JCM-7000 | JSM-IT210 | JSM-IT510 JSM-IT710HR |
JSM-IT810 | |
|---|---|---|---|---|
| Kawasan menerima cahaya (mm2) | 30 | 30, 60 | 30, 60, 100 | 30, 60, 100 |
| Berbilang EDS | ー | ー | 〇 (Sehingga 3) | 〇 (Sehingga 3) |
| Pengesan Gather-X | ー | ー | ー | 〇 (Sehingga 3) |
* Nombor dalam huruf tebal adalah spesifikasi standard untuk setiap instrumen.
Penyepaduan SEM dan EDS membolehkan beberapa sisipan EDS untuk memerhati spesimen yang tidak sekata tanpa bayang-bayang dan untuk mempercepatkan serta menghapuskan kerosakan pada spesimen yang terdedah kepada kerosakan pancaran elektron!
Produk Berkaitan
Mengimbas Mikroskop Elektron (SEM)
Maklumat lanjut
Adakah anda seorang profesional perubatan atau kakitangan yang terlibat dalam penjagaan perubatan?
Tidak
Sila diingatkan bahawa halaman ini tidak bertujuan untuk memberikan maklumat tentang produk kepada orang ramai.