Tiada Lagi Tekaan dalam Penyediaan Sampel TEM
- Mencapai Ketepatan dan Kecekapan dengan Sistem JIB-PS500i FIB-SEM -

Tarikh Tayangan: 2025/09/12

JIB-PS500i ialah sistem FIB-SEM berprestasi tinggi yang direka untuk merevolusikan penyediaan sampel TEM. Dengan menggabungkan keupayaan pengilangan berketepatan tinggi dengan pengimejan SEM beresolusi tinggi, ia membolehkan aliran kerja yang lancar dan berkemampuan tinggi daripada fabrikasi sampel kepada pemerhatian TEM.

Seminar ini akan diadakan di web. Anda boleh mengambil bahagian bukan sahaja dari PC anda, tetapi juga dari telefon pintar atau tablet anda, selagi anda mempunyai akses ke web. Kami mengalu-alukan penyertaan anda.

Dengan menghadiri webinar ini anda akan belajar…

• TEM-LINKAGE：Pemindahan Sampel Lancar Antara FIB dan TEM dengan Katrij Tilt berganda

• CHECK-AND-GO：mungkin untuk menilai kedudukan pemprosesan dan titik akhir

• STEMPLING：Penyediaan Sampel TEM Berkualiti Tinggi Dipermudahkan Melalui Separa Automasi

Siapa yang patut hadir?

• Orang yang bekerja dalam bidang semikonduktor

• Mereka yang terlibat dalam sains material

• Individu yang berminat dalam bioteknologi

Produk Berkaitan

Sistem JIB-PS500i FIB-SEM

Penyampai	Ichiro Kawano Jurutera Aplikasi Lapangan FIB Jabatan Penyelesaian Global Bahagian Perniagaan Semikonduktor SI JEOL Ltd.
Tarikh/Tempoh	21 Oktober 2025 (Selasa) 8:00 hingga 8:45 JST (Tokyo) 21 Oktober 2025 (Selasa) 17:00 hingga 17:45 JST (Tokyo) Seminar ini akan diadakan dua kali pada hari yang sama. Sila hadiri sesi pada masa yang paling sesuai untuk anda.
Yuran	Percuma (Permohonan akan diterima berdasarkan siapa cepat dia dapat. Sila mohon secepat mungkin)
Bahan Persembahan	Anda boleh memuat turun bahan ini selepas melengkapkan tinjauan pasca pembentangan.
Rakaman	Rakaman webinar akan disiarkan di “Filem dari Webinar JEOL yang lalu” halaman di kemudian hari. Kami akan memberitahu anda melalui kami e-newsletter dan media sosial apabila rakaman itu disiarkan.
Sesi Soal Jawab	Tidak akan ada sesi Soal Jawab selepas pembentangan.
Hubungi	E-mel：sales1[at]jeol.co.jp Div Penjanaan Permintaan JEOL Ltd. sila gunakan @ untuk [at]

Pendaftaran

Webinar ini telah tamat. Anda boleh menonton rakaman webinar di bawah.

Movie

Sila masukkan maklumat anda untuk berpindah ke halaman filem.

Tiada Lagi Tekaan dalam Penyediaan Sampel TEM - Capai Ketepatan dan Kecekapan dengan Sistem FIB-SEM JIB-PS500i -